CAS-200 快速光譜輻射計(jì)（基礎(chǔ)工業(yè)級）

來源：北京萬聚恒鑫科技有限公司 2024年09月19日 10:15

快速精確測量380nm～780nm范圍內(nèi)的光譜功率分布

CAS-200快速光譜儀可以快速精確測量380nm～780nm范圍內(nèi)的光譜功率分布，主要測量：傳統(tǒng)燈具/光源、單顆LED、LED模組等電光源產(chǎn)品的相對光譜功率分布、色品坐標(biāo)、色溫、顯色指數(shù)、色容差、峰值波長、半寬度、光通量（配積分球）等。

一、測試速度快

采用精密陣列CCD及優(yōu)質(zhì)光柵，經(jīng)過精密光學(xué)分光系統(tǒng)和高性能陣列探測器后形成電信號，測試速度快。

二、匹配度高，雜散光影響小

光柵與陣列探測器光學(xué)系統(tǒng)經(jīng)過改良設(shè)計(jì)，匹配度程度相對較高，雜散光影響小，測試精度滿足要求。

采用精密陣列CCD及優(yōu)質(zhì)光柵，測試速度快，精度高。

波長范圍：380nm-780nm；

波長準(zhǔn)確度：±0.3nm；

積分時間：1ms-10s

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