揚州拓普電氣科技有限公司提供的半導電屏蔽電阻率測試儀_TP_BDDZ_技術資料

半導電屏蔽電阻率測試成套裝置是根據(jù)GB/T12706、GB/T11017等標準而研制的測試裝置,適用于測量電線電纜半導電屏蔽電阻,符合GB/T 12706 GB/T11017等標準中規(guī)定要求。為了準確完成GB/T 12706、GB/T11017等標準中規(guī)定要求，本試驗由半導電屏蔽電阻率測試儀、電纜制樣機和恒溫烘箱來完成。

技術參數(shù)：

·測量量程：2MΩ、200KΩ、20 KΩ、2 KΩ、200Ω五檔，

·輸出電流：1uA、10μA、100μA、1mA、10 mA。

·測量誤差: 測量誤差不大于±（0.5℅rd±2d）

·本儀器采用4位半數(shù)字表顯示，數(shù)字表直接顯示被測試樣半

導電屏蔽電阻的阻值。

·本儀器具有測量精度高、穩(wěn)定性好、結構緊湊、使用方便等特點，符合GB/T 12706、GB/T11017等標準中規(guī)定的要求。

規(guī)格：

·外形尺寸：350×300×250mm 

·電源：AC220V 50/60Hz  0.5A

·烘箱：（客戶選配）

·電纜制樣機：（客戶選配）

信息整理：揚州拓普電氣科技有限公司