高溫試驗(yàn)箱/烤箱適用于工礦企業(yè)、學(xué)校、醫(yī)療及科研單位進(jìn)行非揮發(fā)性物品的干燥、烘焙及滅菌（檢測(cè)產(chǎn)品是否耐高溫試驗(yàn)）。本產(chǎn)品嚴(yán)格按GB/T2423.2-2008，GB/T11158-2008高溫老化試驗(yàn)方法制造。

　　GB/T11158-2008（高溫試驗(yàn)）標(biāo)準(zhǔn)簡(jiǎn)介

　　本標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定了高溫試驗(yàn)箱的術(shù)語(yǔ)和定義，高溫試驗(yàn)箱使用條件、技術(shù)要求、試驗(yàn)方法、檢驗(yàn)規(guī)則及標(biāo)志、包裝、貯存。

　　本標(biāo)準(zhǔn)適用于對(duì)電工、電子及其他產(chǎn)品、零部件、材料進(jìn)行高溫試驗(yàn)的試驗(yàn)箱。

　　英文名稱(chēng)： Specifications for high temperature test chambers

　　中標(biāo)分類(lèi)： 儀器、儀表>>實(shí)驗(yàn)室儀器與真空儀器>>N61實(shí)驗(yàn)室基礎(chǔ)設(shè)備

　　發(fā)布部門(mén)： 中華人民共和國(guó)* 中國(guó)*

　　目錄

　　前言

　　范圍1

　　2 規(guī)范性引用文件1

　　3 術(shù)語(yǔ)和定義1

　　4 使用條件2

　　5 技術(shù)要求2

　　6 試驗(yàn)方法3

　　7 檢驗(yàn)規(guī)則7

　　8 標(biāo)志?包裝?貯存9

　　GB/T2423.2-2008（電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)試驗(yàn)方法　試驗(yàn)B：高溫）

        標(biāo)準(zhǔn)簡(jiǎn)介

　　GB/T 2423的本部分規(guī)定的高溫試驗(yàn)適用于非散熱和散熱試驗(yàn)樣品。

　　本高溫試驗(yàn)的目的于用來(lái)確定元件、設(shè)備或其他產(chǎn)品在高溫環(huán)境下使用、運(yùn)輸或貯存的能力。

　　本高溫試驗(yàn)方法細(xì)分為以下幾種：

　　非散熱試驗(yàn)樣品高溫試驗(yàn)：

　　試驗(yàn)Bb，溫度漸變。

　　散熱試驗(yàn)樣品高溫試驗(yàn)：

　　試驗(yàn)Bd，溫度漸變;

　　試驗(yàn)Be，溫度漸變，試驗(yàn)樣品在整個(gè)試驗(yàn)過(guò)程通電。

　　本部分給出的試驗(yàn)方法通常用于試驗(yàn)期間能達(dá)到溫度穩(wěn)定的試驗(yàn)樣品。

　　中標(biāo)分類(lèi)： 電工>>電工綜合>>K04基礎(chǔ)標(biāo)準(zhǔn)與通用方法

　　英文名稱(chēng)： Environmental testing - Part 2: Test methods - Tests B:Dry heat

　　發(fā)布部門(mén)： 中華人民共和國(guó)* 中國(guó)*