Park FX40 納米科學(xué)研發(fā)界的新星 全自動原子力顯微鏡

儀器簡介

Park FX40全自動原子力顯微鏡（AFM）是一款專注于納米科學(xué)研究的精密設(shè)備，通過智能自動化與高精度技術(shù)，為材料科學(xué)、半導(dǎo)體、生命科學(xué)等領(lǐng)域的研究者提供高效支持。作為Park Systems的核心產(chǎn)品之一，F(xiàn)X40結(jié)合先進(jìn)的硬件設(shè)計與智能化軟件系統(tǒng)，簡化了從探針更換、激光校準(zhǔn)到高清成像的全流程操作，從選探針到放置再到全自動掃描樣品，只需輕松一鍵。

儀器特點

1. 全流程自動化操作

l                      自動探針管理：配備8針盒磁控?fù)Q針系統(tǒng)，支持探針類型自動識別與更換，減少人為操作干擾；

l                      智能激光校準(zhǔn)：該功能將激光精確定位到懸臂梁的合適位置并進(jìn)一步分別優(yōu)化PSPD的垂直及橫向位置。您只需簡單點擊，移動下X,Y和Z軸便可得到不失真的高清掃描圖。

l                      簡化操作流程：Park SmartScan軟件支持預(yù)設(shè)參數(shù)，自動完成掃描區(qū)域定位與高清成像。

2. 高精度掃描技術(shù)

l                      平直正交XY軸掃描：采用串?dāng)_消除技術(shù)，減少掃描器弓形彎曲，支持樣品表面平直掃描；

l                      獨立Z軸掃描器設(shè)計：結(jié)合低噪聲探測器（0.02 nm噪聲帶寬），實現(xiàn)納米級形貌測量；

l                      非接觸掃描模式：True Non-Contact™模式避免針尖與樣品接觸，適用于軟性樣品分析。

3. 多功能與拓展性

l                      多模式兼容：支持接觸模式、輕敲模式、磁力顯微鏡（MFM）、導(dǎo)電原子力顯微鏡（C-AFM）等模式，滿足電學(xué)、力學(xué)等分析需求；

l                      環(huán)境監(jiān)測功能：內(nèi)置傳感器實時監(jiān)測溫度、濕度及振動，輔助優(yōu)化實驗條件；

4. 用戶友好設(shè)計

l                      雙攝像頭系統(tǒng)：樣品與探針攝像頭協(xié)同定位，提升操作便捷性；

l                      直觀軟件界面：Park SmartScanTM提供三步操作流程（預(yù)設(shè)、定位、成像），降低使用門檻；

儀器應(yīng)用

Park FX40憑借其技術(shù)特性，可服務(wù)于多個科研與工業(yè)領(lǐng)域：

1.       材料科學(xué)

2.       半導(dǎo)體與電子器件

3.       生命科學(xué)

4.       能源與催化

選擇Park FX40的優(yōu)勢？

l                      操作便捷：簡化傳統(tǒng)AFM的多步流程，提升實驗效率；

l                      數(shù)據(jù)可靠性：低噪聲探測與平直掃描技術(shù)支持高精度測量；

l                      設(shè)計耐用性：非接觸模式可減少探針損耗；

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