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粒徑分布分析儀是一種用于測(cè)量顆粒物質(zhì)粒徑分布的重要工具，主要類(lèi)型介紹：
根據(jù)測(cè)量原理的不同，粒徑分布分析儀可以分為多種類(lèi)型，包括但不限于：
激光粒度分析儀：利用激光散射原理，通過(guò)測(cè)量顆粒物質(zhì)對(duì)激光的散射角度和散射光強(qiáng)度，計(jì)算出顆粒的粒徑分布。
沉降式粒度分析儀：基于顆粒在液體中的沉降速度來(lái)測(cè)量粒徑分布。
電阻法粒徑分析儀：通過(guò)測(cè)量顆粒通過(guò)小孔時(shí)產(chǎn)生的電阻變化來(lái)推算粒徑。
聲波粒徑分析儀：利用聲波在顆粒物質(zhì)中的傳播特性來(lái)測(cè)量粒徑。
除了上面提到的激光粒度分析儀、沉降式粒度分析儀、電阻法粒徑分析儀和聲波粒徑分析儀，粒徑分布分析儀還包括以下幾種類(lèi)型：
動(dòng)態(tài)光散射儀（DLS）：
原理：基于顆粒在液體中做布朗運(yùn)動(dòng)時(shí)對(duì)光的散射現(xiàn)象來(lái)測(cè)量粒徑。散射光強(qiáng)度的波動(dòng)與顆粒的布朗運(yùn)動(dòng)相關(guān)，通過(guò)分析這些波動(dòng)可以推算出顆粒的粒徑分布。
特點(diǎn)：適用于納米級(jí)顆粒的測(cè)量，測(cè)量速度快，對(duì)樣品的要求較低。
微分電遷移率式粒徑分布測(cè)定儀（DMPS）：
原理：結(jié)合靜電分級(jí)和氣溶膠濃度測(cè)量技術(shù)，通過(guò)測(cè)量不同粒徑顆粒在電場(chǎng)中的遷移率來(lái)推算粒徑分布。
特點(diǎn)：能夠全自動(dòng)地測(cè)定0.01~1μm范圍的氣溶膠粒徑分布，分辨率高，適用于氣溶膠顆粒的測(cè)量。
光散射式粒子計(jì)數(shù)器：
原理：利用光照射顆粒時(shí)產(chǎn)生的散射光來(lái)測(cè)量顆粒的濃度和粒徑。散射光的強(qiáng)度與顆粒的大小相關(guān)，通過(guò)測(cè)量散射光的強(qiáng)度分布可以推算出顆粒的粒徑分布。
特點(diǎn)：適用于懸浮粉塵、氣溶膠等顆粒物質(zhì)的測(cè)量，測(cè)量速度快，操作簡(jiǎn)便。
全息照相法粒徑分析儀：
原理：通過(guò)記錄顆粒的全息圖像，并利用數(shù)字圖像處理技術(shù)來(lái)重建顆粒的三維形態(tài)，從而測(cè)量其粒徑。
特點(diǎn)：能夠提供顆粒的三維形態(tài)信息，適用于對(duì)顆粒形貌有較高要求的測(cè)量場(chǎng)景。
其他特殊類(lèi)型：
如基于超聲波、X射線、中子散射等原理的粒徑分析儀，這些儀器通常用于特定領(lǐng)域或特殊樣品的測(cè)量。
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