菲希爾測厚儀X射線XDL210產品信息

FISCHERSCOPE X-RAY XDL 210 是一款應用廣泛的能量色散型X射線熒光鍍層測厚及 材料分析儀。它非常適用于無損測量鍍層厚度、材料分析和溶液分析，一起還能檢測 大規(guī)模出產的零部件及印刷線路板上的鍍層。

XDL 210 特別適用于客戶進行質量控制、進料查驗和生產流程監(jiān)控。 典型的應用領域有： • 丈量大規(guī)模生產的電鍍部件 • 丈量超薄鍍層，例如：裝飾鉻 • 丈量電子工業(yè)或半導體工業(yè)中的功能性鍍層 • 丈量印刷線路板 • 分析電鍍溶液 XDL210 有著杰出的長期穩(wěn)定性，這樣就不需要經常校準儀器。 比例接收器能完成高計數率，這樣就可以進行高精度丈量。 因為采用了 FISCHER 基本參數法，因而無論是對鍍層系統還是對固體和液體樣 品，儀器都能在沒有規(guī)范片的情況下進行丈量和分析。