怎樣測量半導體器件PN結(jié)勢壘在不同偏壓下的電容量

來源：北京中慧天誠科技有限公司 2025年06月17日 21:58

電容電壓特性測定儀是測試頻率為1MHz的數(shù)字式電容測試儀器。用于測量半導體器件PN結(jié)勢壘在不同偏壓下的電容量，也可測試其它電容。適用于元件生產(chǎn)、科研、高校等。

儀器電容量是四位讀數(shù)，可分辨到0.001pF，偏置電壓分辨率為0.01V，漏電流分辨率為0.01μA。

規(guī)格參數(shù)

信號頻率：1.000MHz±0.01%

信號電壓：≤100mVrms

測量速率：3次/秒、5次/秒

電容范圍C：0.001-10000pF

漏電流范圍：0.1-199.9μA

直流偏壓：儀器自帶偏壓0.01-35V，可外接偏壓源，偏壓輸入為100V

預熱時間：30min

供電電源：AC 220V±10%,50Hz±5%

功率范圍：≤40W

環(huán)境溫度：0-40℃

相對濕度：20%-90%RH

電容電壓特性測試儀

型號：GSKDY-400

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