塞貝克系數(shù)電阻測試儀的主要功能、測試范圍及測試條件綜合說明
一、主要功能
雙參數(shù)同步測試
l 塞貝克系數(shù):采用靜態(tài)直流法,測量材料在溫差下的熱電勢(單位:μV/K)。
l 電阻率/電導率:通過四端法測量電阻,計算電導率(單位:S/cm)。
l 數(shù)據(jù)集成分析:支持同步獲取塞貝克系數(shù)和電阻率數(shù)據(jù),直接計算熱電優(yōu)值(ZT值),用于評估材料的熱電轉換效率。
智能軟件系統(tǒng)
l 自動完成信號激勵、數(shù)據(jù)采集、實時處理及結果輸出,支持曲線比較、一階/二階求導、多重峰分析等功能。
l 支持數(shù)據(jù)導出至Excel、ASCII格式,兼容樣品溫度多點校正和焓變校正。
二、測試范圍
參數(shù) | 范圍 | 精度/重復性 |
溫度范圍 | RT(室溫)~1500℃ | 閉環(huán)溫控(K/S/C型熱電偶) |
塞貝克系數(shù) | 1~2500 μV/K | 準確度±7%,重復性±3% |
電導率 | 0.01~2×10? S/cm | 準確度±5~8%,再現(xiàn)性±3% |
電阻率 | 覆蓋絕緣體到導體全品類材料 | 四端法減少接觸誤差 |
三、測試條件
環(huán)境控制
l 氣氛類型:惰性、氧化、還原、真空環(huán)境。
l 適用場景:高溫合金在還原氣氛下的穩(wěn)定性測試、燃料電池催化劑的氧化環(huán)境導電性分析等。
l 樣品兼容性
樣品形狀:圓柱形或棱柱形:2 至 5 mm(面寬),23mmφ6mm,23mm、圓盤狀(10、 12.7、 25.4 mm)。
l 夾持結構: 三明治夾持設計,探頭距離可調(4/6/8mm),確保接觸穩(wěn)定性。
l 電極材料: 鎳電極(-100~500℃)、鉑電極(-100~1500℃)。
l 長期穩(wěn)定性:電源輸出0~1A,支持連續(xù)高溫實驗(如1500℃下長周期測試)。
四、典型應用場景
l 熱電材料開發(fā):半導體、方鈷礦等材料的ZT值計算。
l 能源器件研究:鋰電電極電阻率、固態(tài)電解質界面特性分析。
l 惡劣環(huán)境測試:高溫超導材料在真空/還原氣氛下的電輸運特性。
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