溫濕度不適宜：實(shí)驗(yàn)室溫度超出天平適宜工作范圍（10 - 30℃）或相對(duì)濕度不在 20% - 80% 之間。例如環(huán)境溫度過高或過低，會(huì)使天平傳感器的性能發(fā)生變化，導(dǎo)致測(cè)量不準(zhǔn)確，從而校準(zhǔn)失??；濕度過高可能導(dǎo)致電子元件受潮，影響天平的正常工作。

存在振動(dòng)與氣流干擾：天平放置在有振動(dòng)源的地方，如靠近大型儀器設(shè)備、通風(fēng)口、門窗等，外界的振動(dòng)和氣流會(huì)干擾天平的穩(wěn)定稱量，使校準(zhǔn)過程中天平無法準(zhǔn)確讀取質(zhì)量數(shù)據(jù)，導(dǎo)致校準(zhǔn)無法順利完成。

電磁干擾：若天平周圍存在強(qiáng)電磁場(chǎng)，如靠近微波爐、變壓器等設(shè)備，電磁干擾會(huì)影響天平內(nèi)部電子元件的正常工作，造成稱量數(shù)據(jù)不穩(wěn)定，致使校準(zhǔn)失敗。

傳感器故障：超微傳感器是天平的核心部件，長(zhǎng)期使用或受到碰撞、受潮等因素影響，可能出現(xiàn)故障。傳感器故障會(huì)導(dǎo)致其無法準(zhǔn)確將物體質(zhì)量轉(zhuǎn)換為電信號(hào)，使天平不能正確識(shí)別標(biāo)準(zhǔn)砝碼質(zhì)量，進(jìn)而校準(zhǔn)失敗。

電路系統(tǒng)異常：天平的電路系統(tǒng)出現(xiàn)短路、斷路或元件損壞等問題，會(huì)影響信號(hào)的傳輸和處理，導(dǎo)致校準(zhǔn)過程中數(shù)據(jù)異常，無法完成校準(zhǔn)。例如電源模塊故障，可能使天平無法獲得穩(wěn)定的供電，影響其正常工作。

天平水平未調(diào)準(zhǔn)：校準(zhǔn)前未將天平調(diào)節(jié)至水平狀態(tài)，水平氣泡偏離水平儀中心位置。這會(huì)使天平稱量時(shí)受力不均，導(dǎo)致稱量結(jié)果不準(zhǔn)確，校準(zhǔn)過程中也無法達(dá)到準(zhǔn)確的校準(zhǔn)參數(shù)，最終校準(zhǔn)失敗。

標(biāo)準(zhǔn)砝碼問題：使用的標(biāo)準(zhǔn)砝碼未經(jīng)檢定合格、精度不滿足要求，或者砝碼表面被污染、有磨損，都會(huì)導(dǎo)致砝碼實(shí)際質(zhì)量與標(biāo)稱質(zhì)量不符。當(dāng)天平以不準(zhǔn)確的砝碼為基準(zhǔn)進(jìn)行校準(zhǔn)時(shí)，就會(huì)出現(xiàn)校準(zhǔn)偏差過大，導(dǎo)致校準(zhǔn)失敗。例如用手直接接觸砝碼，使砝碼沾染汗?jié)n、油脂，改變了砝碼質(zhì)量。

預(yù)熱時(shí)間不足：開啟天平后未預(yù)熱足夠時(shí)間（至少 30 分鐘）就進(jìn)行校準(zhǔn)。天平內(nèi)部元件在未達(dá)到穩(wěn)定工作狀態(tài)時(shí)，其性能不穩(wěn)定，會(huì)導(dǎo)致稱量數(shù)據(jù)不準(zhǔn)確，從而使校準(zhǔn)無法成功。

操作流程錯(cuò)誤：手動(dòng)校準(zhǔn)時(shí)，未按照正確步驟操作，如未等天平顯示數(shù)值穩(wěn)定就進(jìn)行下一步操作，或者放置砝碼時(shí)動(dòng)作過大，引起天平晃動(dòng)，都會(huì)干擾校準(zhǔn)過程，造成校準(zhǔn)失敗 。

軟件或參數(shù)設(shè)置錯(cuò)誤：天平的校準(zhǔn)參數(shù)設(shè)置不當(dāng)，如自動(dòng)校準(zhǔn)的溫度閾值、時(shí)間間隔設(shè)置不合理，或者天平軟件出現(xiàn)故障、數(shù)據(jù)錯(cuò)誤等，都會(huì)影響校準(zhǔn)功能的正常運(yùn)行，導(dǎo)致校準(zhǔn)失敗。

長(zhǎng)期未維護(hù)：天平長(zhǎng)時(shí)間未進(jìn)行清潔、保養(yǎng)和定期校準(zhǔn)，內(nèi)部積累灰塵、雜質(zhì)，部分部件老化、性能下降，這些因素都會(huì)影響天平的準(zhǔn)確性和穩(wěn)定性，增加校準(zhǔn)失敗的可能性。