雙光束光度計通過同步測量樣品光與參比光,有效消除光源波動干擾,但在長期使用中仍可能因部件老化或操作不當出現(xiàn)故障。以下是常見故障的排查與處理方案:
一、無檢測信號輸出
現(xiàn)象:儀器初始化后無吸光度或透射率數(shù)據(jù)。
排查步驟:
檢查光路:將波長設為530nm,狹縫調至最寬,在黑暗環(huán)境下用白紙置于樣品室出口,觀察是否有綠光斑。若無光斑,檢查光源鏡是否歸位或切光電機是否轉動(可聽見電機聲)。
確認光源狀態(tài):檢查鎢燈/氘燈是否點亮,若燈絲發(fā)紅但無光輸出,需更換燈泡;若燈不亮,檢查電源保險絲是否熔斷。
檢測器檢查:若光路正常但無信號,可能是檢測器污染或損壞,需清潔或更換。
二、基線噪聲大
現(xiàn)象:樣品室空置時,基線在全波長范圍內(nèi)波動明顯。
處理措施:
調整光源鏡:重新校準光源鏡位置,確保光線對準入射狹縫。
清潔石英窗:用乙醇擦拭樣品室石英窗,去除濺射的樣品殘留。
檢查光學組件:若噪聲集中在紫外區(qū),可能是氘燈老化或濾光片結晶,需更換氘燈或研磨濾光片(需專業(yè)操作)。
三、吸光度重復性差
現(xiàn)象:多次測量同一樣品,結果波動超過允許范圍。
排查方向:
樣品問題:確認樣品是否光解(如某些有機物在光照下分解),或濃度隨時間變化(如金屬離子沉淀)。
比色皿污染:用乙醇清洗比色皿,紫外區(qū)需使用石英比色皿(標有“Q”字樣),避免誤用玻璃比色皿。
儀器干擾:檢查周圍是否存在強電磁場,或光譜帶寬設置過小導致信號不穩(wěn)定。
四、波長校準失敗
現(xiàn)象:自檢時提示“波長檢查失敗”。
解決方案:
機械調整:關閉電源,打開儀器蓋板,將正弦臂轉至絲桿中間位置,避免撞桿。
光源更換:若鎢燈/氘燈損壞,需更換同規(guī)格燈泡。
保險絲檢查:確認燈電源極上的保險管是否熔斷,及時更換。
五、按鍵信號擺動
現(xiàn)象:固定波長下吸光值波動,按鍵式儀器尤為明顯。
原因:按鍵觸點氧化導致接觸不良。
處理:用金屬活化劑清洗按鍵觸點,恢復導電性能。
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