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有關(guān)介質(zhì)損耗因數(shù)試驗過程中的典型誤差來源與解決方案
典型誤差來源與解決方案
誤差類型 | 產(chǎn)生原因 | 解決方案 |
邊緣效應(yīng) | 二電極法中電場集中于樣品邊緣 | 改用三電極結(jié)構(gòu)或涂覆導電膏消除邊緣電容 |
濕度干擾 | 吸濕性材料表面吸附水分增加電導 | 干燥箱中測量，樣品預(yù)處理（如真空烘焙） |
儀器噪聲 | 低頻下電流信號微弱（pA 級別） | 采用鎖相放大器或提高測量頻率 |
極化弛豫滯后 | 測量頻率與極化時間不匹配 | 延長采樣時間（如每個頻率點停留≥10 s） |
熱效應(yīng) | 高電場下樣品升溫導致參數(shù)漂移 | 控制功率密度（<1 mW/mm3）或采用循環(huán)水冷 |
試驗步驟：
1、檢查試樣表面應(yīng)清潔、平滑，無裂紋、氣泡和雜質(zhì)等，試樣表面應(yīng)用蘸有無水乙醇的布擦洗。
2、按照Q表的操作規(guī)程調(diào)整儀器，選定測量頻率，測定C1和Q1的值。
3、將試樣放入測試電極中，并調(diào)節(jié)電容器C，使電路諧振，達到最大Q值記下調(diào)諧電容量C2和Q2的值。
4、試樣應(yīng)在標準實驗室溫度及濕度下至少調(diào)節(jié)24h。
3、將試樣從測試電極中取出，調(diào)節(jié)C或測試電極的距離，使電路重新諧振，記下C、或測試電極的校正電容值與Q值，北京智德創(chuàng)新檢測儀器并根據(jù)測試值計算出損耗角tanδ與介電常數(shù)ε。
4、其他高頻測試儀器按其說明書進行操作，檢測儀器通過測試值計算出損耗角tanδ和介電常數(shù)ε。
5、當試樣處理有特殊要求時，可按其產(chǎn)品標準規(guī)定的進行。
相關(guān)產(chǎn)品
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