工作原理簡(jiǎn)述：

① 滑動(dòng)變阻器勻速滑動(dòng)，不同時(shí)間段的電壓變化率（dV/dt）相同；

② 阻值從0滑動(dòng)到無窮大（∞），該過程測(cè)試I-V參數(shù)變化為：起始短路狀態(tài)，電流最大（Isc），電壓為0，最終斷路狀態(tài)，電流為0，電壓從0逐漸升高到電壓最高（Voc），這也就是我們通常所說I-V掃描模式；

③ 阻值從無窮大（∞）滑動(dòng)到0，此過程測(cè)試I-V參數(shù)變化為：起始開路狀態(tài)，電流為0，電壓最大（Voc），最終短路狀態(tài)，電流最大（Isc），電壓為0，這也就是我們通常所說的V-I掃描模式；

④ 應(yīng)用場(chǎng)景：容性不強(qiáng)的普通單多晶光伏組件I-V測(cè)試；

工作原理簡(jiǎn)述：

① 滑動(dòng)變阻器非勻速滑動(dòng)，在短路及開路兩個(gè)端點(diǎn)處，因只測(cè)試Isc與Voc兩個(gè)值，因此，滑動(dòng)變阻器可以快速滑動(dòng)，以便節(jié)省出足夠的時(shí)間，在最大功率點(diǎn)附近，滑動(dòng)速度放緩，用于降低在最大功率點(diǎn)的電壓變化率（dV/dt），該測(cè)試方式，不同時(shí)間段的電壓變化率（dV/dt）不相同；

② 阻值的變化過程同線性掃描模式，可以從0到無窮大（∞），也可以從無窮大（∞）變化為0，實(shí)現(xiàn)I-V與V-I的掃描方式隨意切換；

③ 為適應(yīng)不同光伏組件類型及版型的精準(zhǔn)測(cè)量，建議拐點(diǎn)1與拐點(diǎn)2可以開放；

④ 應(yīng)用場(chǎng)景：容性較強(qiáng)的PERC光伏組件I-V測(cè)試；

工作原理簡(jiǎn)述：

① 滑動(dòng)變阻器非勻速滑動(dòng)，在短路及開路處，滑動(dòng)變阻器快速滑動(dòng)，在最大功率點(diǎn)附近，滑動(dòng)到一定阻值（r1），停留一段時(shí)間（ms級(jí)別），再繼續(xù)滑動(dòng)到下一個(gè)阻值（r2），再停留一段時(shí)間，依次往復(fù)，該測(cè)試方式，不同時(shí)間段的電壓變化率（dV/dt）不相同，停留時(shí)間內(nèi)dV/dt=0；

② 阻值的變化過程同線性掃描模式，可以從0到無窮大（∞），也可以從無窮大（∞）變化為0，實(shí)現(xiàn)I-V與V-I的掃描隨意切換；

③ 該測(cè)試方法原理類似離散式阻性電子負(fù)載，非連續(xù)，容易錯(cuò)過最大功率點(diǎn)，對(duì)標(biāo)版的依賴性較強(qiáng)，建議長(zhǎng)脈沖疊加該方法使用；

工作原理簡(jiǎn)述：

① 在一次雙光過程中，電子負(fù)載完成I-V與V-I的雙向掃描測(cè)試，輸出兩組IV曲線，并可以通過比較驗(yàn)證容性是否克服，若有磁滯偏離現(xiàn)象，則通過算法輸出綜合數(shù)據(jù)；

② 在單方向掃描過程中可以采用線性掃描也可以采用非線性掃描模式；

③ 該測(cè)試方法對(duì)脈沖寬度要求較高：設(shè)定脈寬的2倍；

④ 該測(cè)試方法的綜合數(shù)據(jù)是依據(jù)正反掃算法得來，非實(shí)測(cè)；

⑤ 應(yīng)用場(chǎng)景：容性很強(qiáng)的HJT、TopCon光伏組件I-V測(cè)試；

工作原理簡(jiǎn)述：

① 設(shè)置分段測(cè)試次數(shù)（舉例：5次），則是把電壓（V）平均分為5段，每段只測(cè)試其中一段IV曲線，完成所有的測(cè)試后，再擬合成完整的最終曲線及數(shù)據(jù)；

② 在單方向掃描過程中可以采用線性掃描也可以采用非線性掃描模式；

③ 該測(cè)試方法的依據(jù)被測(cè)樣品的容性強(qiáng)弱，對(duì)測(cè)試次數(shù)差異較大，PERC在6-8分段，IBC在30-50分段，HJT、TopCon：50-60分段也無法有效克服容性；

④ 應(yīng)用場(chǎng)景：實(shí)驗(yàn)室、三方機(jī)構(gòu)，工廠不適用；

工作原理簡(jiǎn)述：

① 第1-2次閃光完成完整的I-V（電阻變化：0-∞）與V-I（電阻變化：∞-0）測(cè)試；

② 分別得到最大功率點(diǎn)所在位置范圍R1、R2（此時(shí)的R1、R2值未必是精準(zhǔn)的最大功率點(diǎn)）；

③ 第3-4次閃光依據(jù)2）中得到的R1、R2值，在一定范圍內(nèi)，完成包含R1、R2的局部I-V（電阻變化：Ra-Rb）與V-I（電阻變化：Rb-Ra）測(cè)試，此時(shí)的dV減少，dt不變，并比較正反掃測(cè)試得到的兩組數(shù)據(jù)的差異，比較是否在設(shè)定的允差范圍內(nèi)，若是，則測(cè)試停止，若否，繼續(xù)下面步驟；

④ 第3-4次閃光分別得到最新的最大功率點(diǎn)所在位置范圍R3、R4（此時(shí)的R3、R4值也未必是精準(zhǔn)的最大功率點(diǎn)），依次重復(fù)1-3步驟，直到正反向掃描符合設(shè)定的閾值范圍，則測(cè)試完成；

⑤ 在單方向掃描過程中可以采用線性掃描也可以采用非線性掃描模式；

⑥ 該測(cè)試方法對(duì)客戶開放閾值設(shè)定、系統(tǒng)自動(dòng)測(cè)試，不依賴標(biāo)版、不依賴脈寬，在較少的閃光次數(shù)（HJT：8-10次、TopCon：4-6次）可以有效克服HJT、TopCon容性，做到精確測(cè)試；

⑦ 應(yīng)用場(chǎng)景：檢測(cè)機(jī)構(gòu)、企業(yè)研發(fā)實(shí)驗(yàn)室、三方機(jī)構(gòu)；

持續(xù)最大功率點(diǎn)跟蹤（MPPT）測(cè)試：

運(yùn)用微擾算法，測(cè)試過程中不斷地反饋修正太陽(yáng)能電池的最大功率點(diǎn)位置，使電池長(zhǎng)時(shí)間保持在最大功率放電狀態(tài)，放電過程實(shí)時(shí)監(jiān)控輸出功率，通過設(shè)定測(cè)試時(shí)長(zhǎng)和掃描間隔時(shí)間采集記錄最大功率隨時(shí)間變化的值和P-t曲線。

動(dòng)態(tài)IV測(cè)試：

在最大功率點(diǎn)附近接近Vmp位置，設(shè)定一個(gè)電壓值V，在這個(gè)電壓條件下，一直采樣對(duì)應(yīng)的電流值I，直到該電流I穩(wěn)定了，則計(jì)算對(duì)應(yīng)的P值，再去變換另一電壓值，循環(huán)往復(fù)，直到計(jì)算出來最大功率Pmax。

線性掃描(LCS/LVS):

常用的激勵(lì)方式。算法控制電子負(fù)載產(chǎn)生一個(gè)高度線性、斜率恒定的電流(LCS)或電壓(LVS)變化。例如，在 LCS 模式下，電流Iload(t)=K*t(K是斜率，單位 A/s)。這個(gè)受控的、已知的、快速的擾動(dòng)是整個(gè)算法的基礎(chǔ)。

為什么線性?

線性掃描簡(jiǎn)化了后續(xù)的數(shù)學(xué)處理。對(duì)于電容效應(yīng)，IC=CdV/dt。在 LCS 中，dI/dt 是常數(shù)dV/dt 雖然不一定是常數(shù)，但其變化相對(duì)可控；在 LVS 中，dV/dt 是常數(shù)，dI/dt的變化可控。這比隨機(jī)或階躍擾動(dòng)更容易建模和分析。

算法設(shè)定參數(shù):

算法需要精確設(shè)定掃描的起始點(diǎn)(通常接近 0V 或 0A)、終止點(diǎn)(略大于預(yù)期 Voc 或 lsc)、掃描速度/斜率(K)和總掃描時(shí)間(Tsweep)這些參數(shù)的選擇是算法成功的關(guān)鍵。