費(fèi)希爾測厚儀DualScope DMP20信息測量原理與核心性能
測量原理
菲希爾 DualScope DMP20 測厚儀整合兩種經(jīng)典測量技術(shù),滿足不同基材與涂層的檢測需求:
磁感應(yīng)法:遵循 DIN EN ISO 2178 標(biāo)準(zhǔn),針對鐵、鋼等磁性金屬基材,通過檢測涂層對磁場的影響,精準(zhǔn)計(jì)算非磁性涂層(如油漆、鍍鉻層)的厚度。
電渦流法:依據(jù) DIN EN ISO 2360 標(biāo)準(zhǔn),適用于鋁、銅等非磁性金屬基材,利用涂層厚度對電渦流強(qiáng)度的干擾特性,測量非導(dǎo)電涂層(如陽極氧化膜、塑料涂層)的厚度。
核心測量性能
范圍與精度:測量范圍隨探頭及材料組合靈活變化,覆蓋多種涂層厚度需求;精度達(dá) ±(1% 讀數(shù) + 1µm),確保數(shù)據(jù)可靠。
分辨率:最小分辨率為 0.1µm,可捕捉涂層厚度的微小差異,滿足高精度檢測場景。
探頭適配性:支持多種可更換數(shù)字探頭,兼容 F 系列探頭(需 DMP-F 適配器),適配平面、曲面、小孔等復(fù)雜工件的測量需求。
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