半導(dǎo)體技術(shù)測(cè)試系統(tǒng)推薦——介電特性評(píng)估系統(tǒng)AMQ
計(jì)測(cè)產(chǎn)品推薦
電容器溫度特性評(píng)估系統(tǒng)
介電特性評(píng)估系統(tǒng)AMQ
“電容器溫度特性評(píng)估系統(tǒng)”是一個(gè)自動(dòng)多通道系統(tǒng),可將環(huán)境測(cè)試箱與測(cè)量和評(píng)估系統(tǒng)相結(jié)合,以便高效收集數(shù)據(jù)。
測(cè)試內(nèi)容
*記錄的測(cè)量結(jié)果可以在圖形和列表中實(shí)時(shí)查看。
八個(gè)通道的數(shù)據(jù)可以顯示在一個(gè)圖表上。
可以根據(jù)偏好選擇要顯示的頻道。
產(chǎn)品性能
1、最多可自動(dòng)測(cè)量128個(gè)通道
該系統(tǒng)可在不同溫度環(huán)境下測(cè)量多個(gè)通道的靜電容量(C)、損耗系數(shù)(D)和阻抗(Z)。
您可以選擇8個(gè)通道的倍數(shù),最多128個(gè)通道。
2、圖形功能允許實(shí)時(shí)查看測(cè)量結(jié)果
收集的數(shù)據(jù),包括不同溫度、頻率和時(shí)間下的電氣特性值和變化率,可通過(guò)各種圖形函數(shù)實(shí)時(shí)查看。
3、多測(cè)試模式
有三種測(cè)試模式可選:溫度特性評(píng)估測(cè)試、定值運(yùn)行測(cè)試和頻率特性測(cè)試。
溫度特性評(píng)估測(cè)試
在此測(cè)試模式下,自動(dòng)記錄特性數(shù)據(jù),并與溫度同步變化,最多40步。
定值運(yùn)行測(cè)試
該測(cè)試模式測(cè)量特定溫度環(huán)境下特性隨時(shí)間的變化,并自動(dòng)記錄數(shù)據(jù)。
頻率特性評(píng)估測(cè)試
該測(cè)試模式自動(dòng)記錄各種頻率下的特性數(shù)據(jù),同時(shí)在特定溫度環(huán)境中改變頻率。
測(cè)試可與溫度特性評(píng)估測(cè)試或定值運(yùn)行測(cè)試相結(jié)合。
SMD組件專用夾具(可選)
4、各種可選夾具可用于不同的測(cè)試樣品(可選)
除了用于SMD元件的專用夾具外,我們還提供針對(duì)分立器件形狀定制的夾具。
SMD組件專用夾具(可選)
規(guī)格
*測(cè)量數(shù)據(jù)取決于試樣和測(cè)試條件。
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