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高分子材料高阻計(jì)法原理介紹

來源:北京北廣精儀儀器設(shè)備有限公司   2025年07月30日 16:24  

大家在日常使用高阻計(jì)檢測高分子材料的時(shí)候,不了解工作原理,下面我來為大家介紹一下:

高阻計(jì)法是一種基于歐姆定律擴(kuò)展原理的測量技術(shù),主要用于精確表征高分子薄膜、絕緣材料等高阻值物體的電學(xué)性能。其核心原理與實(shí)現(xiàn)方式如下:

一、測量基礎(chǔ)原理

?歐姆定律擴(kuò)展應(yīng)用?
對試樣施加穩(wěn)定直流電壓(通常為10V–1000V),通過檢測流經(jīng)試樣的?微弱電流?(10?1? A)計(jì)算電阻值:
Rx=VIRx=IV
其中 VV 為施加電壓,II 為測得電流。通過標(biāo)準(zhǔn)電阻分壓可間接提升計(jì)算精度 ?。

二、消除干擾的關(guān)鍵設(shè)計(jì)

?三電極系統(tǒng)?

?測量電極?:直接接觸被測區(qū)域,采集有效電流信號(hào)。

?保護(hù)電極?:環(huán)繞測量電極,通過接地(測體積電阻時(shí))或加壓(測表面電阻時(shí))?消除邊緣漏電流干擾?,確保電流僅流經(jīng)目標(biāo)路徑 ?。

?高壓電極?:施加可控直流電壓 ?

?四電極法擴(kuò)展?
針對表面電阻測量,采用雙環(huán)形電極分離表面與體積導(dǎo)電路徑,避免交叉干擾 ?。

三、微弱電流檢測技術(shù)

?跨阻放大器(TIA)?:將納安至飛安級(jí)電流轉(zhuǎn)換為可測電壓信號(hào),核心元件為高增益運(yùn)算放大器與精密反饋電阻 ?。

?屏蔽防護(hù)?:采用三同軸電纜和金屬屏蔽層,環(huán)境電磁噪聲對微弱信號(hào)的干擾 ?。

 四、電阻率自動(dòng)計(jì)算

參數(shù)

公式

關(guān)鍵參數(shù)說明

?體積電阻率?

ρv=Rv?Sdρv=Rv?dS

SS: 測量電極有效面積
dd: 試樣厚度 ?

?表面電阻率?

ρs=Rs?ghρs=Rs?hg

gg: 環(huán)形電極間隙寬度
hh: 電極周長 ?

五、精度保障要素

?環(huán)境控制?:需在恒溫恒濕環(huán)境(23±2℃, 65±5% RH)中平衡試樣,濕度上升會(huì)導(dǎo)致電阻率顯著降低 ?。

?電壓選擇?:過高電壓可能引發(fā)離子遷移,建議采用100V–500V分檔測試,電化1分鐘后讀數(shù) ?。

?幾何校正?:當(dāng)試樣厚度>電極間距40%時(shí),需引入校正因子減小邊緣效應(yīng)誤差 ?。

該技術(shù)通過精密電流檢測與電極協(xié)同設(shè)計(jì),實(shí)現(xiàn)了對超高阻值材料的可靠量化分析,為絕緣材料開發(fā)與電子元件可靠性評估提供核心數(shù)據(jù)支撐 ?

 

高分子薄膜高阻計(jì)是用于測量高分子薄膜材料體積電阻率與表面電阻率的專用儀器,基于直流放大法原理,通過三電極系統(tǒng)和微弱電流檢測實(shí)現(xiàn)超高阻值(通常為10?Ω至101?Ω)的精確測量?13。其核心功能包括:

?測量原理與系統(tǒng)組成?

?三電極系統(tǒng)?:

?測量電極?:直接接觸薄膜表面,采集電流信號(hào)。

?保護(hù)電極?:消除表面漏電流(測體積電阻時(shí)接地)或體積電流干擾(測表面電阻時(shí)加壓)?。

?高壓電極?:施加直流測試電壓(10V–1000V可調(diào))。

?歐姆定律擴(kuò)展法?:施加電壓 UU 后,檢測流經(jīng)試樣的微弱電流 II,通過標(biāo)準(zhǔn)電阻計(jì)算電阻值 Rx=(U/U0)?RRx=(U/U0)?R(U0U0 為標(biāo)準(zhǔn)電阻壓降)?。

?自動(dòng)計(jì)算電阻率?:積電阻率?:ρv=Rv?(S/d)ρv=Rv?(S/d),其中 SS 為測量電極面積,dd 為薄膜厚度。

?表面電阻率?:ρs=Rs?(g/h)ρs=Rs?(g/h),gg 為環(huán)形電極間隙寬度,hh 為電極長度

??關(guān)鍵性能與技術(shù)參數(shù)?

?量程范圍?:電阻值覆蓋10?–101?Ω,電流檢測下限達(dá)10?1?A(0.1 fA)?。

?精度與穩(wěn)定性?:誤差≤1%,內(nèi)置屏蔽環(huán)技術(shù)抑制環(huán)境干擾?。

?測試電壓?:支持10V、50V、100V、250V、500V、1000V多檔位快速切換?。

?適用形態(tài)?:固體薄膜、粉體、膏體及液體材料?。

?操作流程與影響因素?

?試樣預(yù)處理?:

清潔表面(如乙醇擦拭),置于恒溫恒濕環(huán)境(23±2℃, 65±5% RH)平衡24小時(shí)?。

?測試步驟?:

儀器預(yù)熱30分鐘,校準(zhǔn)零點(diǎn)與滿度值。

選擇電壓(通常100V–500V),電化時(shí)間1分鐘后讀取穩(wěn)定電流值?。

?關(guān)鍵影響因素?:

?溫濕度?:濕度升高或溫度上升將顯著降低電阻率?。

?電場強(qiáng)度?:高壓下離子遷移率增加,導(dǎo)致電阻率下降?。

?表面污染?:吸附雜質(zhì)會(huì)極大影響表面電阻率測量準(zhǔn)確性?。

?應(yīng)用場景?

?電子工業(yè)?:評估絕緣材料(如電纜護(hù)套)、防靜電薄膜(如電子產(chǎn)品包裝)的靜電消散能力?。

?新能源材料?:測試鋰電隔膜、光伏膠膜(EVA/POE)的體積電阻率?。

?科研領(lǐng)域?:分析高分子共混體系(如PP/CaCO?)電學(xué)性能與結(jié)構(gòu)關(guān)系?

注意事項(xiàng)?

?厚度校正?:薄膜厚度 > 探針間距的40%,需引入幾何校正因子以避免誤差?。

?殘余電荷?:測試前需對樣品充分放電,防止雜散電勢干擾?。

高分子薄膜高阻計(jì)是材料電學(xué)性能表征的核心工具,其精確測量對保障電子元件可靠性及新材料開發(fā)具有重要意義。

 

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