TOPCON拓普康SR-LEDW-5N分光放射計

TOPCON拓普康SR-LEDW-5N分光放射計

該產(chǎn)品是一款 寬動態(tài)范圍光譜輻射計，可以測量從影響黑色圖像表現(xiàn)力的超低亮度 0.0005 cd/m2（也稱為超級對比度）到超高亮度級 LED 5,000,000 cd/m2。 這是我們SR系列的頂級型號，新安裝的FIX模式可自動執(zhí)行測量條件并減少同一樣品的測量時間。 它不僅可用于近年來市場迅速擴大的LED背光模組的設(shè)計和開發(fā)，還可用于生產(chǎn)過程中的高速、高精度控制。 在380 nm至780 nm的測量波長范圍內(nèi)支持5 nm或更小的光譜波長寬度。

兼容寬動態(tài)范圍（0.0005 至 5,000,000 cd/m2） ? 配備 FIX 模式，可顯著縮短生產(chǎn)線上的連續(xù)測量時間（與我們傳統(tǒng)產(chǎn)品相比為 1/2） ? 改進的均勻靈敏度減少了 LED 芯片測量的靈敏度不均勻性很容易就可以實現(xiàn)。 e 也可通過連接照度適配器（單獨出售）進行照度 (lx) 測量。 ? 兼容5 nm或更小的光譜波長寬度（半寬度）

LED背光源、LED照明亮度/色度、色溫特性、顯色性評估 ? LCD、OLED等，顯示屏亮度、色度、色溫特性、一般光學(xué)特性評估 ? 汽車前燈、后燈等 高精度測量LED 照明中亮度和色度的測量 ? 作為光學(xué)特性評估傳感器安裝在各種系統(tǒng)設(shè)備中