手機版
化工儀器網(wǎng)手機版
化工儀器網(wǎng)小程序
官方微信
公眾號：chem17
掃碼關(guān)注視頻號
β射線測厚儀在鍍層/薄膜在線檢測中，主要依托穿透式與反向散射式兩種物理原理實現(xiàn)非接觸式動態(tài)測量。其核心機制基于β射線與物質(zhì)相互作用時的衰減特性，結(jié)合比爾-朗伯定律（J=J?e^(-μρt)）或康普頓散射效應(yīng)，通過檢測射線強度變化推算材料厚度。
穿透式測量原理
適用于基材與鍍層/薄膜復(fù)合結(jié)構(gòu)的在線監(jiān)測。β放射源（如Kr-85）發(fā)射的粒子流穿透被測材料后，由探測器接收衰減后的射線強度。由于β粒子在材料中的吸收系數(shù)（μ）與密度（ρ）相關(guān)，當(dāng)基材密度恒定時，射線強度衰減量（ΔI）與鍍層/薄膜厚度（t）呈指數(shù)關(guān)系。例如，在鋰電池極片涂布工序中，β射線測厚儀可同步監(jiān)測基材面密度與烘干后極片面密度，通過標(biāo)準(zhǔn)樣品標(biāo)定實現(xiàn)厚度值（0.1-2.2mm范圍）的實時換算，精度達±0.1μm。
反向散射式測量原理
針對薄鍍層（<2.5μm）或涂層檢測，β射線照射試樣后，部分粒子因康普頓散射效應(yīng)被反射至探測器。反射強度與鍍層原子序數(shù)、密度及厚度相關(guān)，尤其適用于貴金屬鍍層（如金、銀）或非金屬覆蓋層（如氧化鋁、氧化鋅）的測量。ISO3543-81標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定，基體與鍍層原子序數(shù)差需≥5以保障精度，例如銅基體鍍鎳層（原子序數(shù)差28-7=21）可滿足檢測條件。
技術(shù)優(yōu)勢與工業(yè)適配性
相較于X射線測厚儀，β射線設(shè)備因能量較低，更適合極薄材料（如0.8mm以下金屬帶材）的在線檢測，且放射源壽命長達10年以上，維護成本低。其典型應(yīng)用場景包括：鋁板軋制中的厚度閉環(huán)控制、橡膠制品涂膠量監(jiān)測、電子元件銅箔/鋁箔厚度分選等。2025年推出的集成華為架構(gòu)軟件平臺的β射線測厚儀，已實現(xiàn)與MES系統(tǒng)直連，支持SPC統(tǒng)計分析與厚度數(shù)據(jù)閉環(huán)控制，顯著提升生產(chǎn)效率。
相關(guān)產(chǎn)品
免責(zé)聲明
- 凡本網(wǎng)注明“來源：化工儀器網(wǎng)”的所有作品，均為浙江興旺寶明通網(wǎng)絡(luò)有限公司-化工儀器網(wǎng)合法擁有版權(quán)或有權(quán)使用的作品，未經(jīng)本網(wǎng)授權(quán)不得轉(zhuǎn)載、摘編或利用其它方式使用上述作品。已經(jīng)本網(wǎng)授權(quán)使用作品的，應(yīng)在授權(quán)范圍內(nèi)使用，并注明“來源：化工儀器網(wǎng)”。違反上述聲明者，本網(wǎng)將追究其相關(guān)法律責(zé)任。
- 本網(wǎng)轉(zhuǎn)載并注明自其他來源（非化工儀器網(wǎng)）的作品，目的在于傳遞更多信息，并不代表本網(wǎng)贊同其觀點和對其真實性負責(zé)，不承擔(dān)此類作品侵權(quán)行為的直接責(zé)任及連帶責(zé)任。其他媒體、網(wǎng)站或個人從本網(wǎng)轉(zhuǎn)載時，必須保留本網(wǎng)注明的作品第一來源，并自負版權(quán)等法律責(zé)任。
- 如涉及作品內(nèi)容、版權(quán)等問題，請在作品發(fā)表之日起一周內(nèi)與本網(wǎng)聯(lián)系，否則視為放棄相關(guān)權(quán)利。
采購中心