測(cè)定限(limit of determination)為定量范圍的兩端,分別為測(cè)定上限與測(cè)定下限。
1、測(cè)定下限
在測(cè)定誤差能滿足預(yù)定要求的前提下,用特定方法能準(zhǔn)確地定量測(cè)定待測(cè)物質(zhì)的zui小濃度或量,稱為該方法的測(cè)定下限。
測(cè)定下限反映出分析方法能準(zhǔn)確地定量測(cè)定低濃度水平待測(cè)物質(zhì)的極限可能性。在沒(méi)有(或消除了)系統(tǒng)誤差的前提下,它受精密度要求的限制(精密度通常以相對(duì)標(biāo)準(zhǔn)偏差表示)。分析方法的精密度要求越高,測(cè)定下限高于檢出限越多。
美國(guó)EPA SW-846規(guī)定4MDL為定量下限(RQL ),即4倍檢出限濃度作為測(cè)定下限,其測(cè)定值的相對(duì)標(biāo)準(zhǔn)偏差約為10%。日本JIS規(guī)定定量下限為10倍的MDL。
2、測(cè)定上限
在限定誤差能滿足預(yù)定要求的前提下,用特定方法能夠準(zhǔn)確地定量測(cè)量待測(cè)物質(zhì)的zui大濃度或量,稱為該方法的測(cè)定上限。
對(duì)沒(méi)有(或消除了)系統(tǒng)誤差的特定分析方法的精密度要求不同,測(cè)定上限也將不同。文章由華晨?jī)x器整理。
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