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低溫試驗箱考核和確定電工、電子產(chǎn)品或材料在經(jīng)受溫度突變不致產(chǎn)生損傷作用的非散熱電工、電子產(chǎn)品低溫下貯存和使用的適應性。低溫試驗箱可以采用強迫空氣循環(huán)來保持溫度均勻。為了限制輻射影響，試驗箱內(nèi)壁各部分溫度與規(guī)定試驗溫度之差不應超過8%（按開爾文溫度計算），且試驗樣品不應受到不符合上述要求的任何加熱與冷卻元件的直接輻射。
低溫試驗箱采用數(shù)控機床加工成型，并采用無反作用把手，操作簡便。箱體內(nèi)膽采用進口不銹鋼鏡面板，外膽采用A3鋼板噴塑。利用發(fā)熱體內(nèi)嵌式鋼化玻璃制造的大型觀測窗，可隨時清晰的觀測箱內(nèi)試驗狀況。設備配有直徑50mm測試孔，可供外接測試電源線或信號線使用。低溫試驗箱入門簡介*：4000-662-888
低溫試驗箱采用數(shù)控機床加工成型，并采用無反作用把手，操作簡便。箱體內(nèi)膽采用進口不銹鋼鏡面板，外膽采用A3鋼板噴塑。利用發(fā)熱體內(nèi)嵌式鋼化玻璃制造的大型觀測窗，可隨時清晰的觀測箱內(nèi)試驗狀況。設備配有直徑50mm測試孔，可供外接測試電源線或信號線使用。低溫試驗箱入門簡介*：4000-662-888
低溫試驗箱的相關標準：GB /T 2421-1999 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第1部分:總則（idtI EC 60068-1:1988）；GB /T 2422-1995 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗術(shù)語（eqvI EC 60068-5-2:1990）；GB /T 2424.1-1989 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程高溫低溫試驗導則。
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