高低溫老化試驗(yàn)箱 簡介：
高低溫老化試驗(yàn)箱適用于電工、電子、儀器儀表及其它產(chǎn)品、零部件及材料在高低溫環(huán)境下貯存、運(yùn)輸、使用時(shí)的適應(yīng)性試驗(yàn)；是各類電子、電工、電器、塑膠等原材料和器件進(jìn)行耐寒、耐熱、耐干性試驗(yàn)及品管工程的可靠性測試設(shè)備；特別適用于光纖、LED、晶體、電感、PCB、電池、電腦、手機(jī)等產(chǎn)品的耐高溫、耐低溫、循環(huán)試驗(yàn)。
高低溫老化試驗(yàn)箱執(zhí)行與滿足標(biāo)準(zhǔn)及試驗(yàn)方法:
1、GB10586-89低溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件
2、GB/T10592-89 高低溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件
3、GB10592-89 高低溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件
4、GB11158 高溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件
5、GB2423.1-89電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程 試驗(yàn)A：低溫試驗(yàn)方法
6、GB2423.2-89電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程 試驗(yàn)A：高溫試驗(yàn)方法
7、GJB150.3-86軍用設(shè)備環(huán)境試驗(yàn)方法 高溫試驗(yàn)
8、GJB150.4-86軍用設(shè)備環(huán)境試驗(yàn)方法 低溫試驗(yàn)
9、GB/T2423.22-2001 溫度變化試驗(yàn)方法
10、IEC60068-2-1.1990 低溫試驗(yàn)箱試驗(yàn)方法
11、IEC60068-2-2.1974 高溫試驗(yàn)箱試驗(yàn)方法
高低溫老化試驗(yàn)箱 型號、規(guī)格
   型號        工作室尺寸

工作室尺寸（CM）		40×45×55	50×60×50	50×60×75	80×100×100	100×100×100
功率（-40℃）		3.5（KW）	4.5（KW）	6 （KW）	10 （KW）	12 （KW）

 
高低溫老化試驗(yàn)箱 溫度范圍 
A:-20℃～150℃  B:-40℃～150℃  C:-60℃～150℃  D:-70℃～150℃