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粒度儀是用物理的方法測試固體顆粒的大小和分布的一種儀器。根據(jù)測試原理的不同分為沉降式粒度儀、沉降天平、激光粒度儀、光學顆粒計數(shù)器、電阻式顆粒計數(shù)器、顆粒圖像分析儀等。
美國PSS公司擁有4個系列顆粒檢測分析產(chǎn)品。
Nicomp 380 系列粒度儀采用動態(tài)光散射原理檢測分析亞微米顆粒的粒度和粒度分布，核心技術包括基于數(shù)字信號處理（DSP）的相關器及其擁有技術的更加準確數(shù)學算法。強大的相關器和的算法使得NiComp 380系列粒度儀的粒度分布解析度在同類產(chǎn)品中遙遙。NiComp 380系列粒度儀采用模塊化設計，有許多可供選擇的組件和模塊，如 ：擁有的自動稀釋系統(tǒng)和各種激光器/檢測器。此外，還有各種不同的伺樣模塊可供選擇以適應實驗室或工業(yè)在線檢測分析的不同需求。
Nicomp ZLS 系列在Nicomp 380的基礎上增加了Zeta 電位模塊，不僅能進行粒度檢測分析，還能測定亞微米級分散體系的Zeta 電位，并且擁有與Nicomp 380相同的高解析度。Nicomp ZLS 系列同樣采用模塊化設計，可供選擇的模塊有自動滴定儀以及擁有的稀釋系統(tǒng)等，以滿足用戶的不同測試需求。
AccuSizer 產(chǎn)品系列采用光阻法單顆粒檢測分析技術計數(shù)測量顆粒粒度及粒度分布，粒徑測量范圍從亞微米到幾千微米，其超高的解析度、靈敏度以及大跨度的粒徑檢測分析范圍是同類其它儀器*的。無論是其擁有技術的傳感器還是擁有的液體系統(tǒng)，AccuSizer系列產(chǎn)品都將會給您帶來無以倫比的優(yōu)勢。AccuSizer系列產(chǎn)品有干法和濕法檢測分析兩種機型，并且擁有各種模塊或組件可供選擇以滿足用戶任何特殊需求。
研制的AccuSizer FX 聚焦光粒度儀采用了AccuSizer 系列產(chǎn)品的基本技術和原理，但在光學檢測方面進行了重新設計，使其能檢測分析更高濃度的樣品。該系列產(chǎn)品特別適合于檢測分析粒度分布的尾部信息，如：膠體分散系統(tǒng)、乳液以及化學機械研磨漿液（CMP）等。
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