環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備檢測(cè)和校準(zhǔn)過(guò)程中，同樣的檢測(cè)與校準(zhǔn)數(shù)據(jù)，依據(jù)不同的依據(jù)標(biāo)準(zhǔn)可以得出不同的結(jié)論，有的依據(jù)標(biāo)準(zhǔn)可以得出合格的結(jié)論，而有的依據(jù)標(biāo)準(zhǔn)可以得出相反的不合格結(jié)論。不同處一:溫度偏差計(jì)算方法的不同

①在GB/TS170一1996《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備基本參數(shù)檢定方法溫度試驗(yàn)設(shè)備》中8.1.2條溫度偏差計(jì)算方法是這樣規(guī)定的:設(shè)備在穩(wěn)定狀態(tài)下，工作空間各測(cè)量點(diǎn)的實(shí)測(cè)zui高溫度(Tmax)zui低溫度(Tmin)與標(biāo)稱(chēng)溫度(TN)的上下偏差，即為設(shè)備在該標(biāo)稱(chēng)溫度下的溫度偏差。計(jì)算公式如下:△Tmax=Tmax.TN,△Tmin-TN。

③在GBlll58一1989《高溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件》、GB10589一1989《低溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件》、GB10592一1989《高低溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件))、GBI0586一1989《濕熱試驗(yàn)箱技術(shù)條件》、GB10587一1989《鹽霧試驗(yàn)箱技術(shù)條件》中溫度偏差計(jì)算方法是這樣規(guī)定的:在工作空間中心測(cè)試點(diǎn)的溫度*達(dá)到測(cè)試溫度并穩(wěn)定211后，每隔Zmin測(cè)試所有點(diǎn)的溫度1次，在3Omin內(nèi)共測(cè)巧次，隔3Omin在測(cè)1次，以后每隔lh測(cè)試l次，共測(cè)24h。利用24h的測(cè)試數(shù)據(jù)，分別算出zui高、zui低溫度與該標(biāo)稱(chēng)溫度下的溫度偏差。

例如在一臺(tái)環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備檢測(cè)中，標(biāo)稱(chēng)溫度為100℃，工作空間各測(cè)量點(diǎn)的實(shí)測(cè)zui高溫度為102.5℃、zui低溫度101.0℃，中心點(diǎn)溫度101名℃，設(shè)備顯示溫度100℃。按JJF1101一2003《環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備溫度、濕度校準(zhǔn)規(guī)范》中溫度偏差計(jì)算方法計(jì)算:溫度下偏差△護(hù)100一101.8二一LS<士2℃，判為合格?？墒前碐B/Tsl70.2一19%《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備基本參數(shù)檢定方法溫度試驗(yàn)設(shè)備》中溫度偏差計(jì)算方法計(jì)算:溫度偏差△Tmin=101.O一100=1.0<土2℃，溫度上偏差△幾ax一102.5一100一2.5℃>士2℃，卻判為不合格。由上可見(jiàn)，三類(lèi)檢測(cè)與校準(zhǔn)的依據(jù)標(biāo)準(zhǔn)中溫度偏差計(jì)算方法的不同，會(huì)得出不同的結(jié)論來(lái)。不同處二:溫度波動(dòng)度計(jì)算方法的不同

在GB/TS170.1一1995《電子電工產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備基本參數(shù)檢定方法總則》中溫度波動(dòng)度是指試驗(yàn)箱(室)在穩(wěn)定狀態(tài)下，工作空間內(nèi)任意一點(diǎn)溫度隨時(shí)間的變化量。

溫度波動(dòng)度計(jì)算指環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備在穩(wěn)定狀態(tài)下，工作空間中心點(diǎn)溫度隨時(shí)間的變化量，即中心點(diǎn)在30min(每隔Zmin測(cè)試一次)，…實(shí)測(cè)zui高溫度與zui低溫度之差的一半，冠以“士”號(hào)?？梢?jiàn)溫度波動(dòng)度的規(guī)定定義也是不相同的，有規(guī)定工作空間內(nèi)任意一點(diǎn)溫度隨時(shí)間的變化量，也有規(guī)定工作空間中心點(diǎn)溫度隨時(shí)間的變化量，{依據(jù)不同的標(biāo)準(zhǔn)會(huì)得出不同的結(jié)論來(lái)。不同處三:相對(duì)濕度偏差訓(xùn)算方法的不同