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測(cè)厚儀是用來(lái)測(cè)量材料及物體厚度的儀表。在工業(yè)生產(chǎn)中常用來(lái)連續(xù)或抽樣測(cè)量產(chǎn)品的厚度。測(cè)厚儀的測(cè)試方法主要有：磁性測(cè)厚法，放射測(cè)厚法，電解測(cè)厚法，渦流測(cè)厚法，超聲波測(cè)厚法。測(cè)厚儀測(cè)量時(shí)的注意事項(xiàng)：
1、在進(jìn)行測(cè)試的時(shí)候要注意標(biāo)準(zhǔn)片集體的金屬磁性和表面粗糙度應(yīng)當(dāng)與試件相似。
2、測(cè)量時(shí)側(cè)頭與試樣表面保持垂直。
3、測(cè)量時(shí)要注意基體金屬的臨界厚度，如果大于這個(gè)厚度測(cè)量就不受基體金屬厚度的影響。
4、測(cè)量時(shí)要注意試件的曲率對(duì)測(cè)量的影響。因此在彎曲的試件表面上測(cè)量時(shí)不可靠的。
5、測(cè)量前要注意周圍其他的電器設(shè)備會(huì)不會(huì)產(chǎn)生磁場(chǎng)，如果會(huì)將會(huì)干擾磁性測(cè)厚法。
6、測(cè)量時(shí)要注意不要在內(nèi)轉(zhuǎn)角處和靠近試件邊緣處測(cè)量，因?yàn)橐话愕臏y(cè)厚儀試件表面形狀的忽然變化很敏感。
7、在測(cè)量時(shí)要保持壓力的恒定，否則會(huì)影響測(cè)量的讀數(shù)。
8、在進(jìn)行測(cè)試的時(shí)候要注意儀器測(cè)頭和被測(cè)試件的要直接接觸，因此超聲波測(cè)厚儀在進(jìn)行對(duì)側(cè)頭清除附著物質(zhì)。
Nanocalc系列測(cè)厚儀的特點(diǎn)：
1、UV/VIS/NIR高分辨率的配置
2、測(cè)量準(zhǔn)確度在1nm，精度在0.1nm
3、可測(cè)量4層薄膜的任意3層
4、薄膜測(cè)量zui小可至10nm，zui大可至400um
5、可測(cè)量zui小1nm厚的透明金屬層
6、提供用于復(fù)雜外形材料測(cè)量的試驗(yàn)臺(tái)及附件
7、對(duì)表面缺陷和光滑度不敏感
8、龐大的材質(zhì)數(shù)據(jù)庫(kù)，保證各種材料的測(cè)量
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