IT電子產(chǎn)業(yè)計(jì)算機(jī)冷熱沖擊試驗(yàn)箱測試條件
筆記型計(jì)算機(jī)從早期的12吋熒幕進(jìn)化到現(xiàn)在的LED背光熒幕,其運(yùn)算效能及3D處理,不會輸給一般桌上計(jì)算機(jī),而重量越來越?jīng)]有負(fù)擔(dān),相對的對于整個(gè)筆記型計(jì)算機(jī)的可靠度試驗(yàn)要求也越趨嚴(yán)苛,從早期的包裝落下到現(xiàn)今的開機(jī)落下,傳統(tǒng)的高溫高濕到現(xiàn)在的結(jié)露試驗(yàn),從一般環(huán)境的溫濕度范圍到將沙漠試驗(yàn)列為常用條件,這些都是生產(chǎn)筆記型計(jì)算機(jī)相關(guān)組件及設(shè)計(jì)所需要考量的部分 。
冷熱沖擊試驗(yàn)箱可用來測試材料結(jié)構(gòu)或復(fù)合材料,在瞬間下經(jīng)*溫及極低溫的連續(xù)環(huán)境下所能忍受的程度, 借以在zui短時(shí)間內(nèi) 試驗(yàn)其因熱脹冷縮所引起的化學(xué)變化或物理傷害.適用的對象包括金屬, 塑膠, 橡膠, 電子....等材料,可作為其產(chǎn)品改進(jìn)的依據(jù)或參考。
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技術(shù)規(guī)格Specification table: |
Models | TSK-A4 | TSK-B4 | TSK-C4 | TSK-D4 | TSK-A5 | TSK-B5 | TSK-C5 | ||
結(jié)構(gòu) (Structure) | 預(yù)冷箱(PRECOOLING ZONE) 預(yù)熱箱 (PREHEATING ZONE) 測試箱 (TESTING ZONE) | ||||||||
環(huán)境溫度 | 5℃~30℃ | ||||||||
預(yù)熱溫度 | +60℃~ +200℃ | +60℃~ +200℃ | |||||||
預(yù)冷溫度 | -10℃~-70℃ | -10℃~-70℃ | |||||||
高溫沖擊 (H.T. Shocking) | +60℃~ +150℃ | +60℃~ +150℃ | |||||||
低溫沖擊 (L.T. Shocking) | 0℃~ -55℃ | 0℃~ -65℃ | |||||||
溫度分布均勻度 | ±2.00℃以內(nèi)(UNDER±2.00℃ ) | ||||||||
溫變率范圍(℃/min)(控制點(diǎn)) | 5℃~30℃ | ||||||||
※以上規(guī)格僅供參考,如有變更不另行通知。 |
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