一、光電測徑儀/CCD投影測徑儀
光電測徑儀/CCD投影測徑儀由于靠發(fā)光二極管經(jīng)過投影成像運算的方法來測量,而且投影的平行光帶不太容易保證,再加上現(xiàn)在平行光管與CCD的技術(shù)的發(fā)展,現(xiàn)在很多企業(yè)開始采用CCD成像法測量直徑,其光源采用波長較長的紅外光,抗干擾較強,由于少了許多機械件,所以設備較穩(wěn)定可靠,但CCD成像受相素的制約,在精度上不太容易保證,特別是大直徑的物體測量,但又不能太細,太細會有掃描測徑儀相同的問題。
二、激光掃描測徑儀
利用衍射掃描原理測量細線的直徑,而且據(jù)說都是引進的德國的技術(shù),此技術(shù)與前兩項剛好相反,只適用于測小直徑的細絲,而且越細越好,因為此技術(shù)是利用衍射原理,理論只有當波長與被測物相近或大于被測長物時衍射zui明顯。
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