新一代GC PLOT 柱
?? 新型鍵合技術(shù)zui小化微粒脫落，減少柱堵塞，保護儀器部件。
?? 連續(xù)穩(wěn)定的流速意味著在 Deans 以及相關(guān)的流動切換技術(shù)中的保留
時間很穩(wěn)定。
?? 優(yōu)異的對稱色譜峰改進了氣體、溶劑和烴的純度分析。
可供選擇的柱子：
Rt®-Alumina 鍵合柱、Rt®-QS-鍵合柱、Rt®-Msieve 、Rt®-S-鍵合柱、
Rt®-Q-鍵合柱、Rt®-U-鍵合柱、New MXT®- Alumina 鍵合柱、New MXT®- Msieve
具體信息可登陸www.restek.com/petro 查詢

新一代多孔層開口管柱（PLOT）
1. 穩(wěn)定的微粒涂層提高了保留時間和流速的穩(wěn)健性和重復(fù)性。
2. *符合閥門切換和 Deans 切換系統(tǒng)。
3. 、重復(fù)性分析，是*氣體、溶劑和烴類的理想選擇。
4. 新的制作工序減少了微粒脫落，改進了多孔聚合物柱、分子篩柱和PLOT
柱的性能。
多孔層開口管柱（PLOT）非常適合解決實際應(yīng)用的難題，特別是揮發(fā)性化合
物的分析。PLOT 柱具有*的選擇性，室溫下可以分離氣態(tài)化合物。由于PLOT
柱中載體的吸附機理，可以溶解室溫下的*氣體和輕烴，然后柱子程序升溫到
較高溫度，蒸餾出較高沸點的化合物。

傳統(tǒng)PLOT 柱的穩(wěn)定性比較差
傳統(tǒng)型PLOT 柱是由5-50μm 的微粒涂層粘附在管壁上制作而成。由于這種微
粒涂層缺乏穩(wěn)定性，所以PLOT 柱必須謹慎使用，因為微粒容易脫落，可能導(dǎo)致
保留時間和流動特性異常的變化。通常，PLOT 柱必須和微粒捕集器結(jié)合使用，
目的是防止閥門、進樣口和GC 檢測器被污染。圖1 是一個微粒堆積導(dǎo)致
Press-Tight®襯管內(nèi)部堵塞的例子。如果不使用微粒捕集器，微粒就會擊打檢測
器，導(dǎo)致電子噪聲，表現(xiàn)出來的就是基線毛刺；對于閥門來說，微粒可能就積聚
在里面，導(dǎo)致泄露。

新型PLOT 柱zui小化微粒脫落
Restek 開發(fā)的新工藝研制出的PLOT 柱具有集中、穩(wěn)定的吸附層。新一代PLOT
色譜柱表現(xiàn)出穩(wěn)定的流動特性（通透性），顯著改進了機械穩(wěn)定性，使得操作更
容易、減少微粒脫落，從而成為性能更好的色譜分析。穩(wěn)定性更好的微粒意味著
保留時間的重復(fù)性更高、沒有尖峰、柱子的壽命更長。目前，這種創(chuàng)新型穩(wěn)定化
學(xué)技術(shù)應(yīng)用于Rt®-Alumina 鍵合柱、Rt®-Msieve 、Rt®-Q-鍵合柱、Rt®-QS-鍵合
柱、Rt®-S-鍵合柱、Rt®-U-鍵合柱等熔融石英柱。同時，也應(yīng)用于*的金屬柱
包括MXT®-Alumina 鍵合柱和MXT®- Msieve 柱。

限流因子（F）的一致性保證了流動特性的再現(xiàn)性
傳統(tǒng)工序制作的PLOT 柱，微粒不容易沉積在均勻的厚涂層上，導(dǎo)致涂層的
厚度不均勻一致。涂層比較厚的位置會限制和影響流速（圖2）。受這些限制因
素數(shù)量和強度的影響，傳統(tǒng)PLOT 柱比涂壁空心柱的限流更易發(fā)生變化。實際上，
在相同公稱壓力下使用相同尺寸的常規(guī)PLOT 柱，它們的流速也會因4-6 個因素
的影響而不同。流動比較重要的應(yīng)用中，比如Deans 切換器中，大多數(shù)商業(yè)用
PLOT 柱的不穩(wěn)定的流動特性是個難題。
 

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深圳市高比科技有限公司北京生物部