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掃描式電子顯微鏡（SEM）是1965年發(fā)明的較現(xiàn)代的細(xì)胞生物學(xué)研究工具，主要是利用二次電子信號(hào)成像來觀察樣品的表面形態(tài)，即用極狹窄的電子束去掃描樣品，通過電子束與樣品的相互作用產(chǎn)生各種效應(yīng)，其中主要是樣品的二次電子發(fā)射。掃描電鏡（SEM）是介于透射電鏡和光學(xué)顯微鏡之間的一種微觀性貌觀察手段，可直接利用樣品表面材料的物質(zhì)性能進(jìn)行微觀成像。
PhenomPro（掃描式電子顯微鏡）是Phenom（飛納）產(chǎn)品中zui*的型號(hào)，在繼承了Phenom（飛納）*代（G1）產(chǎn)品操作方便、30秒快速成圖像、售后無憂等優(yōu)點(diǎn)的同時(shí)，電鏡分辨率和圖像質(zhì)量顯著提高。采用了壽命高達(dá)1500小時(shí)的新一代CeB6燈絲和分辨率更高，功能更全的光學(xué)顯微鏡，提高后的光學(xué)顯微鏡有聚焦功能，放大倍數(shù)在20-120倍之間，具備明場(chǎng)和暗場(chǎng)兩種模式。
掃描式電子顯微鏡大倍數(shù)：20×-130,000×。
分辨率：優(yōu)于17nm。
電子槍：1500小時(shí)CeB6燈絲。
抽真空時(shí)間：10秒。
樣品移動(dòng)方式：自動(dòng)馬達(dá)樣品臺(tái)。
樣品定位方式：光學(xué)和低倍電子雙重導(dǎo)航。
樣品導(dǎo)電性要求：無需噴金，直接觀測(cè)絕緣體。
拓展功能：顆粒分析系統(tǒng)、3D粗糙度重建、纖維統(tǒng)計(jì)測(cè)量、孔徑測(cè)量系統(tǒng)、高倍拼圖等。
環(huán)境掃描選件（ESEM）：溫控樣品臺(tái)，可直接觀測(cè)液體。
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