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閃點(diǎn)測定儀是石油化工、涂料、油漆、溶劑等行業(yè)中不能缺的重要分析儀器，用于測定液體或半固體物質(zhì)的閃點(diǎn)溫度。閃點(diǎn)作為物質(zhì)安全性能的重要指標(biāo)，直接關(guān)系到產(chǎn)品的儲存、運(yùn)輸和使用安全。一、基本原理閃點(diǎn)是指液體表面揮發(fā)出的蒸氣與空氣形成的混合物在特定條件下接觸火源時發(fā)生閃燃的低溫度。閃點(diǎn)測定儀通過精確控制樣品溫度并引入點(diǎn)火源來測定這一臨界溫度。溫度控制：儀器以規(guī)定的速率加熱樣品蒸氣形成：樣品表面形成可燃蒸氣與空氣的混合物點(diǎn)火測試：定期或連續(xù)引入測試火焰或電火花閃燃檢測：通過視覺觀察或光電傳感器檢測閃燃現(xiàn)象二

傅立葉近紅外光譜儀（FourierTransformNear-InfraredSpectrometer,FT-NIR）是一種基于傅里葉變換原理的近紅外光譜分析儀器，通過干涉圖與光譜圖的轉(zhuǎn)換實(shí)現(xiàn)快速、無損的化學(xué)成分分析。以下是其核心特點(diǎn)、技術(shù)優(yōu)勢及應(yīng)用領(lǐng)域的詳細(xì)介紹：一、核心原理與技術(shù)特點(diǎn)工作原理基于邁克爾遜干涉儀設(shè)計(jì)，通過光源發(fā)出的光芒被分束器分為兩束，一束反射回光源，另一束照射到樣品上。兩束光再次匯合時產(chǎn)生干涉圖，經(jīng)傅里葉變換后得到紅外光譜。檢測器通常采用InGaAs（銦鎵砷）探測器，對近紅外

緊固件螺紋摩擦系數(shù)試驗(yàn)機(jī)主要是針對緊固件（螺栓、螺母、螺釘?shù)龋┞菁y摩擦系數(shù)的測試，需使用專用的螺紋摩擦系數(shù)試驗(yàn)機(jī)，該設(shè)備能夠精確測量螺紋副在擰緊過程中的總摩擦系數(shù)（μtot）、螺紋摩擦系數(shù)（μth）和支承面摩擦系數(shù)（μb），以確保緊固件裝配的可靠性和預(yù)緊力控制的準(zhǔn)確性。緊固件螺紋摩擦系數(shù)試驗(yàn)機(jī)操作流程簡述推薦機(jī)型：HY-2000N.m微機(jī)控制緊固件螺紋摩擦系數(shù)試驗(yàn)機(jī)?試樣安裝?：固定螺栓/螺母，設(shè)定夾頭間距（如1000mm）。?參數(shù)設(shè)定?：選擇測試標(biāo)準(zhǔn)（如GB/T16823.3）、扭矩速度及循環(huán)

頂空殘氧分析儀原理與應(yīng)用分享←點(diǎn)擊前方鏈接進(jìn)行詳細(xì)了解→點(diǎn)擊此處進(jìn)入在線咨詢板塊隨著包裝技術(shù)的不斷進(jìn)步，確保食品、藥品和其他商品在密封包裝中保持質(zhì)量和延長貨架期，成為了各行各業(yè)關(guān)注的重點(diǎn)。今天，我們?yōu)槟窒硪豢罡锩缘墓ぞ摺斂諝堁醴治鰞x，它憑借其精確的氣體測量能力，為多個行業(yè)提供了強(qiáng)有力的技術(shù)支持。頂空殘氧分析儀的工作原理頂空殘氧分析儀，顧名思義，它是通過分析包裝容器中“頂空”部分的氣體成分，尤其是氧氣含量，來評估包裝產(chǎn)品的密封性與質(zhì)量。這項(xiàng)技術(shù)基于氧氣和二氧化碳傳感器的電化學(xué)和紅外吸收原理

在水質(zhì)檢測領(lǐng)域，便攜一體式多參數(shù)水質(zhì)檢測儀憑借其卓-越性能成為行業(yè)新寵。該儀器采用高強(qiáng)度PVC工程塑料手提箱設(shè)計(jì)，集消解與檢測功能于一體，真正實(shí)現(xiàn)“一機(jī)多用”。其消解模塊具備雙溫區(qū)功能，左右獨(dú)立控制，室溫-200℃可調(diào)，控溫精度達(dá)±0.5℃，10分鐘內(nèi)即可升溫至165℃，可快速完成COD、總磷、總氮等項(xiàng)目消解。檢測部分融合360°旋轉(zhuǎn)比色管檢測與比色皿檢測，配合光纖檢測技術(shù)和進(jìn)口光源，確保檢測精度，示值誤差≤±5%，重復(fù)性＜0.5%，穩(wěn)定性＜0.5%。從生活污水到工業(yè)廢水，從市政監(jiān)測到高校科研，

氮?dú)獍l(fā)生器是一種能夠從空氣中分離并產(chǎn)生高純度氮?dú)獾脑O(shè)備，廣泛應(yīng)用于實(shí)驗(yàn)室、工業(yè)生產(chǎn)、醫(yī)療、食品包裝等領(lǐng)域。氮?dú)獍l(fā)生器用于氣相色譜（GC）、液相色譜（LC-MS）、核磁共振（NMR）等分析儀器的載氣；樣品保護(hù)、溶劑蒸發(fā)等實(shí)驗(yàn)操作。氮?dú)獍l(fā)生器主要通過以下幾種技術(shù)實(shí)現(xiàn)氮?dú)獾姆蛛x和純化：1、變壓吸附法（PSA）：利用碳分子篩對氮?dú)夂脱鯕獾奈侥芰Σ町悾诟邏合挛窖鯕猓蛪合陆馕?，從而?shí)現(xiàn)氮?dú)獾姆蛛x。優(yōu)點(diǎn)：成本低、操作簡單、維護(hù)方便。缺點(diǎn)：氮?dú)饧兌韧ǔＴ?5%-99.9%之間，適用于對氮?dú)饧兌纫蟛桓叩?/p>

冷凍研磨儀是一種利用低溫技術(shù)將樣品冷凍至脆化點(diǎn)以下，再通過機(jī)械力（如撞擊、摩擦）進(jìn)行高效研磨的專業(yè)設(shè)備，廣泛應(yīng)用于生物醫(yī)學(xué)、材料科學(xué)、食品檢測等領(lǐng)域。一、工作原理低溫脆化：通過液氮或空氣制冷將樣品冷卻至-50℃至-196℃，使韌性物質(zhì)（如植物組織、橡膠）脆化。機(jī)械研磨：撞擊式：利用電磁振動驅(qū)動金屬撞擊柱，在液氮環(huán)境中高速撞擊樣品。球磨式：通過研磨罐內(nèi)小球（如玻璃球）的高頻擺動，對樣品進(jìn)行撞擊和摩擦。成分保護(hù)：低溫環(huán)境避免樣品因高溫氧化或降解，確保生物大分子（如DNA、RNA）的活性。二、技術(shù)參數(shù)

XHEMISTX-3000V內(nèi)置VPD的TXRF光譜儀超快速金屬污染分布驗(yàn)證VPD的最高靈敏度兼容最大300毫米的晶圓XHEMISTX-3000V規(guī)格技術(shù)全內(nèi)反射X射線熒光光譜法（TXRF）與氣相分解（VPD）用微量元素表面污染測量niyoru1E7原子/cm2檢測限標(biāo)測速度提高約3倍科技集成自動VPD制備、三光束激發(fā)和自動光學(xué)元件更換主要組件三探測器配置：高功率W與陰極X射線源（9kW旋轉(zhuǎn)與陰極）3種激發(fā)能量，針對輕元素、過渡元素和重元素進(jìn)行了優(yōu)化XYθ樣品臺雙FOUP負(fù)載端口特征全晶圓映射（

葉面積儀是一種用于快速、準(zhǔn)確測量植物葉片面積的儀器，廣泛應(yīng)用于農(nóng)業(yè)、林業(yè)、生態(tài)學(xué)研究以及植物生理學(xué)等領(lǐng)域。其核心原理主要分為以下幾種類型：1.掃描式葉面積儀（基于圖像分析）原理通過高分辨率掃描儀或攝像頭獲取葉片圖像，結(jié)合圖像處理算法（如邊緣檢測、像素統(tǒng)計(jì)）計(jì)算葉片面積。通常采用背景對比法（如白色背景）或顏色分割技術(shù)（區(qū)分葉片與背景）。工作流程葉片放置：將葉片平鋪在掃描儀或攝像頭的拍攝區(qū)域。圖像采集：掃描或拍攝葉片圖像（部分儀器支持自動去陰影、反光補(bǔ)償）。圖像分析：二值化處理（區(qū)分葉片和背景）。邊

TXRF3760系列全內(nèi)反射X射線熒光光譜儀對晶圓表面的污染進(jìn)行無損、非接觸式和高靈敏度分析轉(zhuǎn)子式高功率X射線發(fā)生器和新設(shè)計(jì)的入射X射線單色器過渡金屬LLD10采用直接TXRF測量方法8原子/厘米2達(dá)到水平。在封閉X射線管測量時間的1/3內(nèi)即可實(shí)現(xiàn)相同的精度，從而實(shí)現(xiàn)高通量。TXRF3760規(guī)格產(chǎn)品名稱TXRF3760系列技術(shù)全內(nèi)反射X射線熒光（TXRF）用從Na到Y(jié)ou的元素分析以測量晶圓污染科技帶無液氮檢測器的3光束TXRF系統(tǒng)主要組件適用于最大200mm晶圓的XYθ樣品臺系統(tǒng)、真空晶圓中的

WaferX310系列用于薄膜評估的X射線熒光光譜儀波長色散X射線熒光光譜儀（WD-XRF）可以無損、非接觸式方式同時分析300mm和200mm晶圓上各種薄膜的厚度和成分。這是一種波長色散X射線熒光光譜儀（WD-XRF），可以無損、非接觸的方式同時分析300mm和200mm晶圓上各種薄膜的厚度和成分。它與GEM300兼容，并支持300mmFab的在線規(guī)格。XYθZ驅(qū)動式樣品臺可準(zhǔn)確分析各種金屬膜，避免了衍射線的影響。使用4kW高功率X射線管可以測量痕量元素。此外，通過安裝高靈敏度硼檢測器，可以高

耐電弧試驗(yàn)機(jī)是評估絕緣材料性能的關(guān)鍵設(shè)備，通過精確控制電弧參數(shù)和自動化操作，為各行業(yè)提供可靠的測試解決方案。選擇時需關(guān)注標(biāo)準(zhǔn)符合性、品牌信譽(yù)及設(shè)備擴(kuò)展性，以滿足不同應(yīng)用場景的需求。一、工作原理電弧激發(fā)：通過高壓發(fā)生器在試樣表面施加高壓電弧，模擬實(shí)際運(yùn)行中的電弧放電現(xiàn)象。性能評估：持續(xù)激發(fā)電弧并監(jiān)測試樣從炭化到導(dǎo)電的時間，該時間直接反映材料的耐電弧性能。數(shù)據(jù)記錄：記錄電弧通斷時間、電流變化及試樣失效時間，生成試驗(yàn)曲線。二、核心結(jié)構(gòu)高壓發(fā)生器：產(chǎn)生試驗(yàn)所需的高壓電弧。PLC控制系統(tǒng)：實(shí)現(xiàn)電壓、電流的

氧化鋯分析器的原理基于固體電解質(zhì)的電化學(xué)特性，通過氧濃差電池效應(yīng)實(shí)現(xiàn)氧濃度測量。具體原理如下：1.?導(dǎo)電機(jī)理?純氧化鋯（ZrO?）在常溫下不導(dǎo)電，但摻雜氧化鈣（CaO）、氧化釔（Y?O?）等低價(jià)金屬氧化物后，晶體內(nèi)部形成“氧空穴”缺陷結(jié)構(gòu)，高溫下（通常需加熱至600-1000℃）具備氧離子導(dǎo)電性。2.?氧濃差電池效應(yīng)?氧化鋯管兩側(cè)分別接觸參比氣體（如空氣，氧濃度已知）和被測氣體（如煙氣），當(dāng)兩側(cè)氧分壓不同時：高氧分壓側(cè)的氧分子在鉑電極表面獲得電子，轉(zhuǎn)化為氧離子（O2?），通過氧化鋯晶格中的氧空穴

ENS型HYDAC液位繼電器工作原理ENS型HYDAC液位繼電器可用于礦物油，也可用于水，具體的適用介質(zhì)見操作手冊。ENS3000主要應(yīng)用于液壓系統(tǒng)油箱的液位監(jiān)測。ENS型HYDAC液位繼電器廣泛應(yīng)用于各種工業(yè)應(yīng)用，如電力、石油、化工、水處理、紡織、食品加工、冶金等。它可以用于液位控制和液位監(jiān)測系統(tǒng)，可以實(shí)時監(jiān)測液位變化，幫助控制和調(diào)節(jié)介質(zhì)的流量和液位，從而達(dá)到節(jié)約能源、降低成本的目的。ENS型HYDAC液位繼電器的標(biāo)準(zhǔn)型桿長為250mm、410mm、520mm和730mm，溫度檢測功能可選。E

連續(xù)流光微通道反應(yīng)器的工作原理主要基于連續(xù)流動和光化學(xué)反應(yīng)的結(jié)合，具體過程如下：反應(yīng)物輸入：反應(yīng)物通過特定的進(jìn)料口被連續(xù)地輸入到反應(yīng)器中?；旌吓c分散：在反應(yīng)器內(nèi)部，反應(yīng)物通過攪拌或流動實(shí)現(xiàn)充分混合，以確保反應(yīng)均勻進(jìn)行。光催化反應(yīng)：光源系統(tǒng)（如激光器、氙燈、鹵素?zé)舻龋┊a(chǎn)生穩(wěn)定、連續(xù)的光束，該光束經(jīng)過光學(xué)系統(tǒng)（如透鏡或反射鏡）進(jìn)行聚焦或分散，以照射到反應(yīng)物上。在光能的激發(fā)下，光催化劑產(chǎn)生具有催化活性的物種，催化反應(yīng)物進(jìn)行化學(xué)反應(yīng)。反應(yīng)條件控制：在反應(yīng)過程中，可以通過相關(guān)設(shè)備精確控制反應(yīng)條件（如溫度、

晶圓/磁盤分析儀3650用于薄膜評估的X射線熒光光譜儀對各種薄膜的厚度和成分進(jìn)行同步、無損、非接觸分析這是一種波長色散X射線熒光光譜儀（WD-XRF），可以以非破壞性、非接觸的方式同時分析最大~200mm晶圓上各種薄膜的厚度和成分。XYθZ驅(qū)動式樣品臺可準(zhǔn)確分析各種金屬膜，避免了衍射線的影響。使用4kW高功率X射線管可對超輕元素進(jìn)行高精度分析，例如BPSG薄膜的痕量元素測量和硼分析。它還與C-to-C傳輸機(jī)器人（可選）兼容。它配備了AutoCal（全自動日常檢查和強(qiáng)度校正功能）。WAFER/DI

旋涂儀是一種廣泛應(yīng)用于材料科學(xué)、半導(dǎo)體制造、微電子、光學(xué)和生物醫(yī)學(xué)等領(lǐng)域的實(shí)驗(yàn)室設(shè)備，用于在基片（如硅片、玻璃片、聚合物片等）表面均勻涂覆液體薄膜（如光刻膠、聚合物溶液、生物材料等）。其核心原理是利用高速旋轉(zhuǎn)產(chǎn)生的離心力，使液體材料均勻鋪展并形成厚度可控的薄膜。一、工作原理滴液：將液體材料（如光刻膠）滴加到靜止或低速旋轉(zhuǎn)的基片中心。加速旋轉(zhuǎn)：基片在電機(jī)驅(qū)動下高速旋轉(zhuǎn)，離心力使液體材料從中心向外鋪展。薄膜形成：隨著旋轉(zhuǎn)速度穩(wěn)定，液體材料在基片表面形成均勻的薄膜。溶劑揮發(fā)（可選）：對于含溶劑的液體，

XTRAIACD-3010G斜入射X射線CD測量工具可以使用GISAXS和X射線反射（XRR）測量來測量CD，以測量薄膜厚度、密度和粗糙度。兼容最大300毫米的晶圓XTRAIACD-3010G規(guī)格技術(shù)傾斜小角X射線散射測量（GISAXS），X射線反射測量（XRR）用淺層重復(fù)結(jié)構(gòu)的臨界尺寸測量X射線源包合管，CuKa（8.04KeV）X射線光學(xué)元件多層反射鏡光學(xué)元件X射線探測器二維探測器主要組件圖案化晶圓測量周期性精細(xì)3D形狀線和空間，點(diǎn)或孔結(jié)構(gòu)，淺孔/列，抗蝕劑，掩模圖案，存儲設(shè)備單元區(qū)域，F(xiàn)i

除了前面提到的重鉻酸鉀法、高錳酸鉀法、分光光度法和電化學(xué)法之外，還有一些其他的COD檢測儀檢測原理，具體如下：快速消解分光光度法原理：該方法是在傳統(tǒng)重鉻酸鉀氧化法的基礎(chǔ)上，通過提高消解溫度和加入助催化劑等手段，縮短消解時間，然后利用分光光度法測定消解后水樣中特定離子的吸光度，進(jìn)而計(jì)算出COD值。在強(qiáng)酸性介質(zhì)中，水樣中的有機(jī)物被重鉻酸鉀氧化，生成的三價(jià)鉻離子在特定波長下有特征吸收，其吸光度與水樣中的COD值成正比關(guān)系。通過與標(biāo)準(zhǔn)曲線對比，即可得出水樣的COD值。優(yōu)點(diǎn)：消解時間短，一般僅需15-20

在現(xiàn)代科技的前沿探索與工業(yè)生產(chǎn)的質(zhì)量把控中，高低溫交變試驗(yàn)箱作為一款關(guān)鍵設(shè)備，正發(fā)揮著重要作用。它宛如一位環(huán)境模擬大師，能夠精準(zhǔn)營造出各種嚴(yán)苛的高低溫交替環(huán)境，為眾多行業(yè)的產(chǎn)品研發(fā)、質(zhì)量檢測筑牢根基。一、高低溫交變試驗(yàn)箱的功能與用途高低溫交變試驗(yàn)箱能夠在寬廣的溫度區(qū)間內(nèi)，快速且精準(zhǔn)地調(diào)節(jié)溫度，模擬產(chǎn)品在不同環(huán)境溫度下的使用狀況。通過構(gòu)建高溫、低溫以及高低溫交替變化的環(huán)境場景，提前洞察產(chǎn)品在溫度變化進(jìn)程中可能遭遇的難題，諸如材料變形、電氣性能波動、零部件損壞等。這些寶貴的試驗(yàn)數(shù)據(jù)，猶如明亮的燈塔，