資料簡介
挑戰(zhàn)
一家化學品生產(chǎn)商為了更好地管理水和能源的使用,希望更深入地分析了解凝結(jié)水回水的質(zhì)量。該生產(chǎn)商想要對目前正在使用的pH值和電導率測量方法進行補充加強,以便能更好地作出回收還是排放回流凝結(jié)水的決定。如果水質(zhì)監(jiān)測系統(tǒng)能快速檢測污染物,尤其是極低濃度的污染物,工廠就能更有信心地做出回收還是排放的決定,從而優(yōu)化水系統(tǒng)管理和提高工藝效率。雖然pH值和電導率測定法在檢測水中離子污染物時有效,但在檢測有機污染物時,尤其是在檢測低濃度有機污染物時,該測試方法還是有很大的局限性。
解決方案
總有機碳(TOC,Total Organic Carbon)分析法可以檢測出所有天然和合成的有機化合物,其中包括pH值和電導率測定法難以檢測出的化合物。TOC分析法能夠測量有機污染物的綜合參數(shù),是一種強大的檢測方法,可以檢測出所有能降低凝結(jié)水水質(zhì)和加速系統(tǒng)腐蝕的化合物。TOC分析法為用戶提供有關(guān)水泄漏、污染趨勢、偏離最佳工藝狀態(tài)等寶貴信息。化工廠的污染物主要包括工藝化學品、揮發(fā)性有機化合物(VOC,Volatile Organic Compounds)、清潔劑、溶劑、油類、處理化學品、樹脂浸出物等。這些污染物可能是磺化、鹵化、含氮的有機化合物,在蒸汽系統(tǒng)的高溫高壓下會分解成腐蝕性離子或有機酸。pH值和電導率測定法無法在上述化合物分解之前就把它們有效地檢測出來,而TOC分析法就能快速有效地檢測出它們的存在。
Sievers*M5310 C TOC分析儀
Sievers M5310 C TOC分析儀采用紫外過硫酸鹽氧化技術(shù),以及靈敏和穩(wěn)定的Sievers膜電導率檢測技術(shù)。膜電導率檢測技術(shù)能夠測量液相中的被氧化有機物(以CO2形式存在),而其它類型的TOC分析儀都采用非分散紅外(NDIR,Non-dispersive Infrared)檢測技術(shù)來測量氣相中的CO2。因此Sievers M系列分析儀(包括Sievers M5310 C)是能在標準操作模式下無需使用載氣即可檢測出非揮發(fā)性和揮發(fā)性有機物的TOC分析儀。膜電導率檢測技術(shù)正好符合這家全球化學品生產(chǎn)商的關(guān)鍵需求。
結(jié)論
盡早發(fā)現(xiàn)工藝泄漏或痕量級污染,有助于保護設(shè)備和產(chǎn)品,并加快用戶的決策速度,從而大大節(jié)省生產(chǎn)成本和時間。pH值和電導率測量無法檢測出某些化合物,而Sievers M5310 C TOC分析儀能夠有效檢測出生產(chǎn)過程中的所有有機污染物和揮發(fā)性有機物。此款分析儀憑借其低檢測限、極低的維護要求、穩(wěn)定性、準確的低濃度分析能力,為用戶提供了極為可靠的檢測方案。凝結(jié)水回水的監(jiān)測作為工廠持續(xù)技術(shù)改進計劃的一部分,對優(yōu)化水和能源管理來說至關(guān)重要。在本案例研究中,工廠在每個凝結(jié)水回水位置上都安裝了Sievers M5310 C在線型TOC分析儀,從而加強了水質(zhì)監(jiān)控能力。這一新增能力使得工廠能夠更快、更全面地監(jiān)測工藝變化,并保護超純水蒸汽系統(tǒng)。工廠憑借這些分析儀的快速響應(yīng)、高靈敏度、低維護要求、便捷的操作,大大加強了水質(zhì)控制。
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