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　　【化工儀器網(wǎng) 展會(huì)報(bào)道】2023年3月1日-3月3日，第十三屆中國(guó)國(guó)際納米技術(shù)產(chǎn)業(yè)博覽會(huì)(以下簡(jiǎn)稱納博會(huì))在蘇州國(guó)際博覽中心順利舉行。作為中國(guó)大規(guī)模極具影響力的納米技術(shù)應(yīng)用產(chǎn)業(yè)交流盛會(huì)，本次納博會(huì)展出面積達(dá)20000平方米，內(nèi)容涵蓋納米新材料、微納制造、第三代半導(dǎo)體、分析檢測(cè)、納米生物醫(yī)藥、納米技術(shù)應(yīng)用等多個(gè)領(lǐng)域，縱向覆蓋納米技術(shù)產(chǎn)業(yè)鏈條，為企業(yè)提供技術(shù)展示、產(chǎn)品推廣的平臺(tái)，為客戶提供一個(gè)與企業(yè)面對(duì)面洽談交流的機(jī)會(huì)。展覽期間，會(huì)場(chǎng)還設(shè)有多場(chǎng)主題大會(huì)，來(lái)自各個(gè)企業(yè)、機(jī)構(gòu)及高校的專家學(xué)者共聚納博會(huì)分享、交流經(jīng)驗(yàn)。
 

　　3月2日，由勝科納米((蘇州)股份有限公司 、中國(guó)半導(dǎo)體行業(yè)協(xié)會(huì)MEMS分會(huì)、蘇州納米科技發(fā)展有限公司主辦的第五屆納博會(huì)分析測(cè)試應(yīng)用論壇在主會(huì)場(chǎng)B1展區(qū)會(huì)議室1順利召開。會(huì)議以國(guó)際領(lǐng)先的分析儀器為基礎(chǔ)，依托科研人員獨(dú)創(chuàng)性的分析方法與對(duì)儀器、產(chǎn)品、材料及工藝的深刻理解，為工業(yè)界解決實(shí)際生產(chǎn)過程中迫在眉睫或懸而未決的問題，進(jìn)行技術(shù)和案例的分享與研討。
 

　　此次會(huì)議邀請(qǐng)了湖南越摩先進(jìn)半導(dǎo)體有限公司總經(jīng)理謝建友、上海光源中心副主任李愛國(guó)、蔡司顯微鏡業(yè)務(wù)拓展經(jīng)理黃承梁、南開大學(xué)講席教授羅鋒、國(guó)家納米科學(xué)中心研究員葛廣路、賽默飛世爾科技(中國(guó))有限公司EFA商務(wù)拓展經(jīng)理唐涌耀、牛津儀器科技(上海)有限公司應(yīng)用科學(xué)家馬嵐、日立科學(xué)儀器(北京)有限公司經(jīng)理張希文、中國(guó)科學(xué)院半導(dǎo)體研究所教授級(jí)高級(jí)工程師鈕應(yīng)喜等業(yè)界專家參與，為與會(huì)觀眾帶去了一場(chǎng)場(chǎng)別開生面的專題報(bào)告。
 

　　會(huì)議伊始，勝科納米(蘇州)股份有限公司董事長(zhǎng)李曉旻首先以會(huì)議主辦方的身份發(fā)表了致歡迎詞，隨后帶來(lái)本次會(huì)議的第一場(chǎng)報(bào)告《從分析檢測(cè)賽道看半導(dǎo)體行業(yè)周期》。
 

報(bào)告人：勝科納米(蘇州)股份有限公司董事長(zhǎng)李曉旻
 

　　湖南越摩先進(jìn)半導(dǎo)體有限公司總經(jīng)理謝建友盡管無(wú)緣現(xiàn)場(chǎng)，依舊以線上講座的方式帶來(lái)報(bào)告《SiP先進(jìn)封裝行業(yè)的技術(shù)現(xiàn)狀及發(fā)展趨勢(shì)》。
 

報(bào)告人：湖南越摩先進(jìn)半導(dǎo)體有限公司總經(jīng)理謝建友
 

　　會(huì)議的第三場(chǎng)報(bào)告由上海光源中心副主任李愛國(guó)帶來(lái)，標(biāo)題為《集成電路器件同步輻射無(wú)損表征方法》。
 

報(bào)告人：上海光源中心副主任李愛國(guó)
 

　　上午的最后一場(chǎng)報(bào)告為蔡司顯微鏡業(yè)務(wù)拓展經(jīng)理黃承梁帶來(lái)的《化合物半導(dǎo)體的先進(jìn)失效分析技術(shù)》。
 

報(bào)告人：蔡司顯微鏡業(yè)務(wù)拓展經(jīng)理黃承梁
 

　　報(bào)告結(jié)束后是圓桌會(huì)議的環(huán)節(jié)，來(lái)自南開大學(xué)的教授羅峰、勝科納米(蘇州)股份有限公司的董事長(zhǎng)李曉旻、中國(guó)科學(xué)院半導(dǎo)體研究所的高級(jí)工程師鈕應(yīng)喜、賽默飛世爾科技(中國(guó))有限公司的高級(jí)商務(wù)總監(jiān)Sherry Zhu圍繞半導(dǎo)體行業(yè)中分析測(cè)試的發(fā)展前景與機(jī)遇展開了深入的討論。也讓觀眾更加期待下午的報(bào)告。
 

圓桌會(huì)議環(huán)節(jié)
 

　　下午，羅峰教授首先進(jìn)行報(bào)告，報(bào)告題為《超精密制造與集成電路工藝與裝備》。
 

報(bào)告人：南開大學(xué)講席教授羅峰
 

　　隨后，來(lái)自國(guó)家納米科學(xué)中心研究員葛廣路帶來(lái)了《納米材料測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)》。
 

報(bào)告人：納米科學(xué)中心研究員葛廣路
 

　　下午的第三場(chǎng)報(bào)告由賽默飛世爾科技(中國(guó))有限公司EFA商務(wù)拓展經(jīng)理唐涌耀帶來(lái)，題為《提高失效分析成功率-賽默飛整體解決方案助你一臂之力》。
 

報(bào)告人：賽默飛世爾科技(中國(guó))有限公司EFA商務(wù)拓展經(jīng)理唐涌耀
 

　　第四場(chǎng)報(bào)告由牛津儀器科技(上海)有限公司應(yīng)用科學(xué)家馬嵐帶來(lái)，題為《牛津儀器EDS和EBSD在半導(dǎo)體表征中的應(yīng)用進(jìn)展》。
 

報(bào)告人：牛津儀器科技(上海)有限公司應(yīng)用科學(xué)家馬嵐
 

　　簡(jiǎn)單的茶歇之后，來(lái)自日立科學(xué)儀器(北京)有限公司的經(jīng)理張希文帶來(lái)了《日立電鏡產(chǎn)品助力最先進(jìn)半導(dǎo)體產(chǎn)業(yè)》。
 

報(bào)告人：日立科學(xué)儀器(北京)有限公司經(jīng)理張希文
 

　　鈕應(yīng)喜高級(jí)工程師則作為壓軸，帶來(lái)了《碳化硅缺陷表征以及其對(duì)器件性能的影響》。
 

報(bào)告人：中國(guó)科學(xué)院半導(dǎo)體研究所教授級(jí)高級(jí)工程師鈕應(yīng)喜
 

　　負(fù)責(zé)收尾的是勝科納米(新加坡)副總裁華佑南，他以線上報(bào)告的形式帶來(lái)了《X-射線能譜(EDS)、X-射線光電子能譜(XPS)和俄歇電子能譜(AES)分析技術(shù)研究和在半導(dǎo)體芯片設(shè)計(jì)、晶圓制造和先進(jìn)封裝中的應(yīng)用》，為活動(dòng)畫上了圓滿的句號(hào)。