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11-12飛納臺式電鏡能譜一體機(jī)的核心優(yōu)勢及產(chǎn)品特點(diǎn)
飛納臺式電鏡能譜一體機(jī)的核心優(yōu)勢及產(chǎn)品特點(diǎn)飛納臺式電鏡能譜一體機(jī)在低真空及環(huán)掃模式下,發(fā)射的高能入射電子束穿過壓差光闌進(jìn)入樣品室,射向被測定的樣品,從樣品表面激發(fā)出信號電子:二次電子和背散射電子。由于樣品室內(nèi)有氣體存在,入射電子和信號電子與氣體分子碰撞,使之電離產(chǎn)生電子和離子,如果我們在樣品和電極板之間加一個(gè)穩(wěn)定電場,電離所產(chǎn)生的電子和離子會被分別引往與各自極性相反的電極方向,非導(dǎo)體表面積累的負(fù)電荷會與電離出來的正電荷中和而消除荷電。飛納臺式電鏡能譜一體機(jī)在礦物加工中的主要應(yīng)用是分析礦物表面形態(tài)2019
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08-28如何呈現(xiàn)掃描電鏡樣品表面的“真實(shí)形貌”
掃描電子顯微鏡(SEM)是依靠電子束與樣品相互作用產(chǎn)生俄歇電子、特征X射線和連續(xù)譜X射線、背散射電子等信號,對樣品進(jìn)行分析研究。掃描電鏡在表征樣品時(shí),受諸多參數(shù)的影響,不同類型樣品應(yīng)選用合適的參數(shù),才能呈現(xiàn)出樣品更真實(shí)的表面信息。如在不同的加速電壓下,電子束與樣品作用所獲得的信號會有很大的差別。從理論上說,入射電子在樣品中的散射軌跡可用MonteCarlo的方法模擬(如圖1所示),并且推導(dǎo)得到入射電子大穿透深度Zmax。Zmax=0.0019(A/Z)1.63E01.71/ρ圖1電子在鈦(Ti)2019
08-212019
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