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2023
06-28應(yīng)用分享 | MDP在4H-SiC少子壽命中的應(yīng)用
少數(shù)載流子壽命是影響半導(dǎo)體器件性能的基本參數(shù)之一，特別是對于應(yīng)用在高壓器件中的SiC來說。對于外延層來說，載流子壽命的主要影響因素是相當(dāng)復(fù)雜的，因?yàn)橥庋訉颖砻?、外延?襯底界面、外延層和襯底這都有助于載流子復(fù)合行為。因此如何在樣品中獲取較準(zhǔn)確的載流子壽命成為問題的關(guān)鍵。通過比較不同厚度生長的4H-SiC外延層在相同激發(fā)條件下獲得的光致發(fā)光和光電導(dǎo)衰減測量的時(shí)間常數(shù)，有助于更好地理解這個(gè)問題。實(shí)驗(yàn)條件和設(shè)備12~62µm的4H-SiC外延層通過化學(xué)氣相沉積在350µm厚的4H-SiCn+型襯底上(2023
06-282023
06-27德國弗萊貝格電池片PID測試儀PIDcon bifacial技術(shù)
自2010年以來，潛在的誘導(dǎo)退化被認(rèn)為是導(dǎo)致模塊故障的主要原因之一。利用弗勞恩霍夫CSP開發(fā)的新技術(shù)，以及弗萊貝格儀器公司的臺式工具PIDcon，可以對太陽能電池和微型組件的PID敏感性進(jìn)行測試，現(xiàn)在已經(jīng)投入市場。了解更多關(guān)于PID的原因以及如何研究太陽能電池、微型模塊和封裝材料的敏感性。PID-s的物理性質(zhì)電勢誘導(dǎo)退化（PID）是在晶體硅組件中觀察到的較高危險(xiǎn)的退化現(xiàn)象之一。在了解分流型PID（PID-s）的基本機(jī)制方面已經(jīng)取得了很大進(jìn)展。PID-s的物理性質(zhì)在現(xiàn)場，模塊中的前玻璃表面和太陽能2023
06-24三維X射線顯微鏡（3D XRM）在紙張纖維微觀結(jié)構(gòu)表征中的應(yīng)用
紙張是一種特殊的材料，其是由纖維（主要是植物纖維）和其他固體顆粒（如膠料、填料和助劑等物質(zhì)）交織結(jié)合而成的，具有多孔性網(wǎng)狀的微觀結(jié)構(gòu)。其中，作為紙張主要稱為的植物纖維，對絕大多數(shù)紙張的性能起到了決定性作用，因此針對紙張植物纖維的相關(guān)微觀表征就顯得尤為重要了。而在眾多的方法中，3DXRM，即三維X射線顯微鏡是一種可以在無損檢測的前提下表征樣品內(nèi)部真實(shí)三維空間結(jié)構(gòu)的全新手段，具有不可替代的優(yōu)勢和潛力。本文中，我們將以德國布魯克公司的Skyscan1272這一桌面型高分辨顯微成像系統(tǒng)為例，介紹一下該設(shè)2023
06-16【用戶成果賞析】 深圳清華應(yīng)用TOF-SIMS研究鋰金屬電池電解質(zhì)中溶劑化機(jī)制
鋰離子電池（LIBs）在歷經(jīng)幾十年的快速發(fā)展后，其能量密度已接近理論極限（300Whkg-1），這促使了鋰（Li）金屬化學(xué)的復(fù)興。實(shí)際上，由于鋰金屬電池（LMBs）存在脆弱的固體電解質(zhì)界面（SEI）和脫溶時(shí)效等因素，導(dǎo)致枝晶生長和與集流體分離的非活性Li（也稱為“死鋰”）的形成，使LMB的實(shí)際應(yīng)用一直停滯不前。電解質(zhì)直接影響界面處鋰離子（Li+）的SEI化學(xué)和脫溶動力學(xué)。通常，會通過增加鹽/配位溶劑的比例，即高濃度電解質(zhì)（HCE）和局部高濃度電解質(zhì)的策略來生成富含無機(jī)物的SEI以用于快速穩(wěn)定的L2023
06-152023
06-11布魯克三維X射線顯微鏡在HTPB復(fù)合固體推進(jìn)劑微觀結(jié)構(gòu)研究中的作用
固體推進(jìn)劑是一種具有特定性能的含能復(fù)合材料，該材料是航天、空間飛信器等各種固體發(fā)動機(jī)的動力源，在**和航天技術(shù)發(fā)展中扮演著重要角色。其中復(fù)合固體推進(jìn)劑是以高聚物為基體?；煊脱趸瘎┖徒饘偃剂系冉M分的多相混合物。作為一種高顆粒填充比的含能材料，其宏觀性能與微觀結(jié)構(gòu)緊密相關(guān)。近些年隨著對復(fù)合固體推進(jìn)劑研究的不斷深入，原有的微觀結(jié)構(gòu)表征方法或由于只能表征二維表面信息，或由于分辨率精度的限制，已不能適應(yīng)該領(lǐng)域研究的更高要求，在這種背景下，三維X射線顯微鏡（3DXRM）憑借能夠在無損研究情況下，從微米、亞微2023
06-11微型模組分類|電池片PID測試儀PIDcon bifacial
臺式系統(tǒng)PIDcon可以對微組模塊進(jìn)行常規(guī)質(zhì)量控制，作為一種快速和低成本的PID敏感性測試，不需要?dú)夂蚴一蚱渌麛U(kuò)張性工具。小型模組分類電位誘導(dǎo)衰減（PID）是光伏電站的一個(gè)嚴(yán)重的可靠性問題。因此，調(diào)查其產(chǎn)品對PID的敏感性是很重要的。PIDcon的目的是使生產(chǎn)商能夠在生產(chǎn)鏈的早期測試他們的產(chǎn)品，例如在微型模塊上。請注意，這里考慮的PID是由于高電壓應(yīng)力引起的漏電電流（PID-s）導(dǎo)致的太陽能電池的分流。迷你模塊通過2個(gè)接觸點(diǎn)進(jìn)行接觸，并通過接觸檢查確保良好的接觸。PIDStudio軟件使用戶能夠2023
06-112023
06-07德國弗萊貝格-太陽能電池分類| 電池片PID測試儀PIDcon bifacial
太陽能電池分類：圖一：帶EVA箔和玻璃的太陽能電池放置在PIDcon中電位誘導(dǎo)衰減（PID）是光伏電站的一個(gè)嚴(yán)重的可靠性問題。因此，調(diào)查其產(chǎn)品的PID敏感性是很重要的。PIDcon的目的是使生產(chǎn)商能夠在太陽能電池的生產(chǎn)鏈中盡可能快地測試他們的產(chǎn)品，并調(diào)查封裝材料。因此，太陽能電池及其SiNx層的影響可以立于EVA和玻璃的影響進(jìn)行研究。請注意，這里考慮的PID是太陽能電池由于高電壓應(yīng)力引起的漏電電流（PID-s）而產(chǎn)生的分流。為了對太陽能電池進(jìn)行分類，使用敏感的EVA和玻璃是很重要的，這樣太陽能電2023
06-07德國弗萊貝格-生產(chǎn)監(jiān)控|電池片PID測試儀PIDcon bifacial
根據(jù)IEC62804標(biāo)準(zhǔn)PIDcon的測量設(shè)置PIDcon測量的典型結(jié)果電勢誘導(dǎo)退化（PID）是光伏電站的一個(gè)嚴(yán)重的可靠性問題。因此，調(diào)查其產(chǎn)品的PID敏感性是很重要的。PIDcon的目的是使生產(chǎn)商能夠在生產(chǎn)鏈中盡早地測試他們的產(chǎn)品，并調(diào)查封裝材料。PIDcon允許對標(biāo)準(zhǔn)生產(chǎn)單元進(jìn)行常規(guī)質(zhì)量控制，測試新工藝、材料或?qū)拥淖兓Ω鞣N模塊步驟進(jìn)行鑒定。請注意，這里考慮的PID是由于高電壓應(yīng)力引起的漏電電流（PID-s）導(dǎo)致的太陽能電池的分流。PIDcon的結(jié)構(gòu)實(shí)際上與IEC標(biāo)準(zhǔn)相同（圖1）。樣品堆2023
06-07德國弗萊貝格|臺式PID檢測儀用于EVA及其它封裝材料的評估
EVA評估不同的EVA薄膜與來自同一批次和同一玻璃的太陽能電池的比較PIDcon的測量設(shè)置PIDcon可以通過使用一個(gè)模擬模塊的樣品堆來調(diào)查EVA箔對PID敏感性的影響。用戶只需將太陽能電池、需要調(diào)查的EVA箔和玻璃放在上面。當(dāng)然，必須使用同一批次的太陽能電池和同一玻璃進(jìn)行比較。在圖1所示的例子中，兩種EVA薄膜的PID敏感度有明顯的差異。EVA1比EVA2更適合用于模塊。2023
06-07德國弗萊貝格PIDcon bifacial｜雙面電池的可逆與不可逆PID快速測試解決方案
論文來源：K.Sporlederetal.,QuicktestforreversibleａndirreversiblePIDofbifacialPERCsolarcells部分摘要：雙面PERC電池背面PID會導(dǎo)致嚴(yán)重的功率損失。與單面PERC太陽能電池相比，可以發(fā)生可逆的去極化相關(guān)電位誘導(dǎo)衰退（PID-p）和不可逆的腐蝕電位誘導(dǎo)衰退（PID-c）。研究表明，一個(gè)可靠的評估太陽能電池功率損失的方法需要一種改進(jìn)的PID測試方法，需要在高壓測試上附加光照。此外，還需要在測試方案中加入恢復(fù)步驟來將可逆2022
05-252022
05-20熱釋光考古測定儀-lexsygresearch-在考古中的應(yīng)用
釋光：晶體物質(zhì)的一種發(fā)光現(xiàn)象，晶體中的電子吸收放射性能量并貯藏,當(dāng)受到加熱或光照時(shí),電子以發(fā)射光的形式失去部分能量，加熱發(fā)出的光叫熱釋光,光照時(shí)發(fā)出的光叫光釋光燧石和其它被加熱的巖石含有非晶態(tài)/微晶SiO2的巖石在加熱到大約400°C時(shí)，可以用發(fā)光法測定其年代。這樣的溫度，不管是偶然的還是故意的，都很容易在火爐中達(dá)到，因此這個(gè)日期事件與以前火災(zāi)中燧石的加熱有關(guān)。u用光釋光分析石英卵石或砂巖u用熱釋光分析燧石、打火石、角巖、砂巖和石英卵石u建立舊石器時(shí)代年代地層（e.g.Valladasetal.2022
05-202022
05-202022
05-202022
05-20光釋光地質(zhì)年代測定儀-research-光釋光地質(zhì)年代測定系統(tǒng)
沉積物中的礦物顆粒被掩埋之后不斷接受來自周圍環(huán)境的輻射，導(dǎo)致礦物顆粒隨時(shí)間的增長不斷累積輻射能。通過加熱或者光束照射激發(fā)礦物顆粒使累積的輻射能以光的形式被激發(fā)出來，這就是釋光信號。通過加熱激發(fā)的釋光信號叫熱釋光，通過光束激發(fā)的釋光信號叫光釋光。其測年物質(zhì)是石英或長石，在絕大多數(shù)沉積物中含量豐富，因而被廣泛應(yīng)用。石英的光釋光測年光照減少了石英的光釋光(OSL)信號，并為日曬物和沉積物的年代測定提供了依據(jù)。OSL年代測定年代范圍：u?幾年(視lexsyg系統(tǒng)特別開發(fā)設(shè)備的信號強(qiáng)度和靈敏度而定)u?可2022
05-20掃一掃訪問手機(jī)商鋪
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