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安徽澤攸科技有限公司

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  • 2024

    09-09

    原位拉伸樣品桿與應(yīng)力-應(yīng)變曲線的關(guān)系探討

    在材料力學(xué)性能的研究中,原位拉伸樣品桿與應(yīng)力-應(yīng)變曲線之間的關(guān)系是至關(guān)重要的。原位拉伸技術(shù)為研究者提供了一種在微觀尺度上觀察材料在受力過程中的變形行為的方法,而應(yīng)力-應(yīng)變曲線則是描述材料在受到外力作用時,其內(nèi)部發(fā)生變形與破壞特性的宏觀表現(xiàn)。原位拉伸樣品桿是實(shí)現(xiàn)這一研究的關(guān)鍵工具。通過在掃描電子顯微鏡(SEM)或透射電子顯微鏡(TEM)等高精度成像設(shè)備中安裝拉伸裝置,研究者能夠在材料受到拉伸力的同時,實(shí)時觀察其微觀結(jié)構(gòu)的變化。這種技術(shù)使得研究者能夠直觀地看到材料的形變過程,包括晶粒的滑移、相變的發(fā)
  • 2024

    08-25

    優(yōu)化原位樣品桿的性能以提高數(shù)據(jù)準(zhǔn)確性分析

    在科學(xué)實(shí)驗(yàn)中,尤其是在材料科學(xué)、生物學(xué)和化學(xué)等領(lǐng)域,原位樣品桿起著至關(guān)重要的作用。它允許研究人員在真實(shí)環(huán)境中對樣品進(jìn)行觀測和分析,從而獲得更準(zhǔn)確、更貼近實(shí)際的數(shù)據(jù)。一、提高機(jī)械穩(wěn)定性機(jī)械穩(wěn)定性是原位樣品桿性能的基礎(chǔ)。為了減少外界振動和熱漂移對實(shí)驗(yàn)結(jié)果的影響,可以采取以下措施:選用高強(qiáng)度材料:選擇具有優(yōu)良機(jī)械性能的材料制作樣品桿,以提高其抗振能力。優(yōu)化結(jié)構(gòu)設(shè)計(jì):通過合理的結(jié)構(gòu)設(shè)計(jì),降低樣品桿的質(zhì)量和剛度,從而減小振動幅度。增加支撐結(jié)構(gòu):在樣品桿周圍增加支撐結(jié)構(gòu),如固定支架或減震墊,以進(jìn)一步降低振動
  • 2024

    08-19

    透射電鏡樣品桿在高分辨率成像中的作用

    透射電子顯微鏡是一種強(qiáng)大的顯微成像工具,能夠在原子尺度上揭示物質(zhì)的微觀結(jié)構(gòu)和性質(zhì)。在實(shí)驗(yàn)中,樣品桿作為樣品的載體和傳輸裝置,其性能直接影響到成像質(zhì)量和分辨率。一、樣品桿的穩(wěn)定性和精度樣品桿的穩(wěn)定性和精度是實(shí)現(xiàn)高分辨率成像的基礎(chǔ)。一個高質(zhì)量的樣品桿應(yīng)具備良好的機(jī)械穩(wěn)定性和熱穩(wěn)定性,以確保在長時間實(shí)驗(yàn)過程中樣品位置的精確性和一致性。此外,樣品桿的制造精度也至關(guān)重要,因?yàn)槿魏挝⑿〉男巫兌伎赡軐?dǎo)致成像失真和分辨率下降。二、樣品桿的導(dǎo)電性在透射電子顯微鏡實(shí)驗(yàn)中,電子束穿過樣品時會產(chǎn)生電荷積累,從而影響成像
  • 2024

    08-09

    如何在掃描電鏡中進(jìn)行粉末樣品分析

    在掃描電鏡(SEM)中進(jìn)行粉末樣品分析,需要經(jīng)過一系列精心的樣品制備步驟,以確保獲得高質(zhì)量的圖像和準(zhǔn)確的數(shù)據(jù)。以下是粉末樣品分析的基本步驟和注意事項(xiàng):1.樣品前處理-導(dǎo)電膠粘結(jié)法:首先,將樣品臺準(zhǔn)備好,貼上導(dǎo)電膠(如銀膠或碳膠)。使用牙簽蘸取少量粉末,輕輕撒在導(dǎo)電膠上,然后通過震動和吹掃去除未粘附的粉末,確保單層分布。-超聲波分散法:對于細(xì)小粉末,可以將其與適量的溶劑(如乙醇)混合,超聲處理后滴在樣品臺上,干燥后進(jìn)行觀察。-直接撒粉法:適用于較粗粉末,直接撒在樣品臺上,可使用分散劑輔助,之后吹掃
  • 2024

    08-09

    如何在掃描電鏡中實(shí)現(xiàn)多種信號檢測?

    在掃描電鏡(SEM)中實(shí)現(xiàn)多種信號檢測主要依賴于其復(fù)雜的設(shè)計(jì)和不同類型的探測器。以下是關(guān)鍵步驟和原理:1、電子束與樣品的相互作用:SEM的核心是高能電子束,它被聚焦到樣品表面。當(dāng)電子束與樣品相互作用時,會產(chǎn)生多種信號,包括但不限于二次電子(SE)、背散射電子(BSE)、特征X射線、俄歇電子等。2、二次電子(SE)檢測:原理:SE是從樣品表面幾納米深度內(nèi)產(chǎn)生的電子,對表面形貌非常敏感,能提供高分辨率的表面圖像。探測器:通常使用半導(dǎo)體材料制成的SE探測器,如硅針尖,來捕捉這些低能量電子。3、背散射電
  • 2024

    07-24

    國產(chǎn)掃描電鏡的操作界面與軟件功能介紹

    國產(chǎn)掃描電鏡是一種顯微成像技術(shù),廣泛應(yīng)用于材料科學(xué)、生物醫(yī)學(xué)、納米技術(shù)等領(lǐng)域。一、操作界面國產(chǎn)掃描電鏡的操作界面設(shè)計(jì)通常簡潔明了,易于上手。主要包括以下幾個部分:主界面:顯示基本狀態(tài),如加速電壓、放大倍數(shù)、工作距離等。用戶可以通過主界面快速了解電鏡的工作狀態(tài)。圖像顯示區(qū):用于實(shí)時顯示捕獲的圖像??梢栽诖藚^(qū)域?qū)D像進(jìn)行縮放、平移等操作,以便更清晰地觀察細(xì)節(jié)??刂泼姘澹杭闪烁鞣N控制功能,如聚焦、偏壓調(diào)節(jié)、亮度/對比度調(diào)節(jié)等。用戶可以通過控制面板輕松調(diào)整電鏡的工作參數(shù)。菜單欄:提供了豐富的功能選項(xiàng),
  • 2024

    07-19

    如何正確使用和維護(hù)液體樣品桿?

    液體樣品桿是實(shí)驗(yàn)室中常用的取樣工具,尤其在色譜分析和光譜分析等實(shí)驗(yàn)中,其使用和維護(hù)的正確性直接關(guān)系到實(shí)驗(yàn)結(jié)果的準(zhǔn)確性和可靠性。一、正確使用選擇合適的樣品桿:根據(jù)實(shí)驗(yàn)需求和樣品性質(zhì),選擇合適的液體樣品桿。不同的樣品桿可能適用于不同的取樣量和樣品類型。清潔樣品桿:在使用前,確保樣品桿內(nèi)外表面干凈無污染??梢杂眠m當(dāng)?shù)那鍧崉┣逑?,然后用干凈的布擦干。正確取樣:將樣品桿插入樣品瓶或容器中,注意避免觸碰樣品底部或側(cè)壁,以免污染樣品或損壞樣品桿。沿垂直方向緩慢提取樣品,確保取樣的準(zhǔn)確性和代表性。樣品處理:將提
  • 2024

    07-12

    臺式掃描電鏡能拍細(xì)胞嗎?

    臺式掃描電鏡(SEM)可以用來拍攝細(xì)胞,但需要注意的是,它不能用于觀察活細(xì)胞。SEM的工作原理要求樣品必須在真空環(huán)境中,且通常需要經(jīng)過固定、干燥和噴金等處理,以減少充電效應(yīng)并提高圖像的對比度。這些預(yù)處理步驟使得SEM不適合觀察活細(xì)胞,因?yàn)檫@些處理會損害細(xì)胞的生命活性。在對細(xì)胞進(jìn)行SEM成像前,細(xì)胞需要經(jīng)過化學(xué)固定以保持其形態(tài),然后可能需要脫水處理,接著通過噴鍍金屬(如金)來提高樣品的導(dǎo)電性,以便在真空條件下進(jìn)行電子束掃描。這樣處理后的細(xì)胞可以展示出細(xì)胞表面的精細(xì)結(jié)構(gòu),包括細(xì)胞壁、細(xì)胞膜以及可能的
  • 2024

    07-12

    臺式掃描電鏡放電需要噴金嗎?

    臺式掃描電鏡(SEM)在遇到放電問題時,通常需要對樣品進(jìn)行噴金處理。這是因?yàn)榉菍?dǎo)電或?qū)щ娦圆畹臉悠吩赟EM中觀察時,由于電子束的轟擊,會在樣品表面積累電荷,導(dǎo)致所謂的“荷電效應(yīng)”。這種效應(yīng)會引起圖像的晃動、亮度突變、以及形成無規(guī)則的明暗條紋,嚴(yán)重影響成像質(zhì)量。噴金的作用在于提供一個導(dǎo)電層,使得樣品表面的電荷能夠被有效導(dǎo)走,避免充電現(xiàn)象,從而改善圖像的穩(wěn)定性和清晰度。金層因其良好的導(dǎo)電性和對電子束的低吸收率,成為常用的鍍膜材料。通過在樣品表面沉積幾納米到十幾個納米的金層,既增強(qiáng)了樣品的導(dǎo)電性,又幾
  • 2024

    06-24

    如何正確使用力學(xué)樣品桿進(jìn)行材料力學(xué)性能測試

    力學(xué)樣品桿是材料力學(xué)性能測試中的關(guān)鍵設(shè)備,它能夠模擬實(shí)際工作環(huán)境,對材料進(jìn)行拉伸、壓縮、彎曲等力學(xué)性能測試。為了確保測試結(jié)果的準(zhǔn)確性和可靠性,正確使用至關(guān)重要。1、準(zhǔn)備階段:在開始測試前,先要選擇合適的力學(xué)樣品桿,確保其尺寸、形狀和質(zhì)量符合測試要求。同時,檢查樣品桿的表面是否光滑,無裂紋、銹蝕等缺陷。準(zhǔn)備好待測樣品,確保樣品表面平整、無損傷。2、安裝樣品:將待測樣品安裝在樣品桿上,確保樣品與樣品桿之間的接觸緊密且無滑動。對于需要夾持的樣品,要確保夾持牢固,避免在測試過程中樣品脫落。3、調(diào)整試驗(yàn)設(shè)
  • 2024

    06-20

    電學(xué)測量樣品桿的安全操作規(guī)范和注意事項(xiàng)

    電學(xué)測量樣品桿是實(shí)驗(yàn)室內(nèi)常用的一種設(shè)備,用于固定和定位樣品,以便進(jìn)行電學(xué)性能的精確測量。然而,不當(dāng)?shù)牟僮骱褪褂每赡軙?dǎo)致觸電、設(shè)備損壞甚至火災(zāi)等安全事故。因此,遵循嚴(yán)格的安全操作規(guī)范和注意事項(xiàng)至關(guān)重要。1、在操作電學(xué)測量樣品桿之前,務(wù)必確保電源已斷開。這是防止觸電事故的基本要求。同時,檢查樣品桿是否存在明顯的損壞或松動現(xiàn)象,如有問題應(yīng)及時維修或更換。2、在使用樣品桿時,應(yīng)佩戴絕緣手套和絕緣鞋等個人防護(hù)裝備。這些裝備能有效隔離電流,降低觸電風(fēng)險。此外,避免在潮濕環(huán)境下操作樣品桿,因?yàn)樗謺黾佑|電
  • 2024

    06-05

    掃描電鏡EDS有哪些分析功能

    掃描電子顯微鏡(SEM)結(jié)合能量色散X射線光譜(EDS或EDX)技術(shù),能夠提供多種成分分析功能。以下是SEM-EDS的主要分析功能:1.定性分析EDS可以識別樣品中的元素,通過檢測特征X射線峰來確定元素的存在。元素識別:檢測并識別樣品中的所有元素,通常范圍從硼(B)到鈾(U)。光譜分析:顯示樣品的X射線光譜圖,通過光譜中的特征峰來識別不同元素。2.定量分析EDS不僅可以識別元素,還可以定量分析其含量。元素含量:通過分析X射線峰的強(qiáng)度,計(jì)算樣品中各元素的重量百分比和原子百分比。標(biāo)準(zhǔn)化方法:使用標(biāo)準(zhǔn)
  • 2024

    05-27

    加熱樣品桿在紅外光譜學(xué)中的高溫樣品分析技術(shù)

    一、特點(diǎn)加熱樣品桿是一種專為紅外光譜學(xué)設(shè)計(jì)的高溫樣品分析裝置,其主要特點(diǎn)如下:1.高溫耐受性:采用耐高溫材料制成,能夠在高溫條件下保持穩(wěn)定,承受樣品產(chǎn)生的高溫。2.良好的熱傳導(dǎo)性能:具有良好的熱傳導(dǎo)性能,能夠確保樣品在高溫條件下均勻受熱,提高分析結(jié)果的準(zhǔn)確性。3.封閉式設(shè)計(jì):采用封閉式設(shè)計(jì),避免了高溫樣品對紅外窗口的損害,保護(hù)了紅外光譜儀的關(guān)鍵部件。4.兼容性強(qiáng):可與多種紅外光譜儀配合使用,具有較強(qiáng)的兼容性。二、高溫樣品分析技術(shù)基于加熱樣品桿的高溫樣品分析技術(shù)主要包括以下幾種:1.高溫紅外光譜法
  • 2024

    05-20

    基于原位樣品桿的催化劑活性測試及表征方法

    催化劑在工業(yè)生產(chǎn)中具有舉足輕重的地位,其活性和選擇性直接影響到產(chǎn)品的質(zhì)量和生產(chǎn)效率。因此,對催化劑的活性進(jìn)行準(zhǔn)確測試和表征具有重要意義。近年來,基于原位樣品桿的催化劑活性測試及表征方法逐漸成為研究熱點(diǎn),為催化劑的篩選、優(yōu)化和應(yīng)用提供了有力支持。一、特點(diǎn)它是一種特殊的樣品桿,可以在反應(yīng)條件下對催化劑進(jìn)行實(shí)時測試和表征。其主要特點(diǎn)如下:1.反應(yīng)條件模擬:可以模擬實(shí)際反應(yīng)條件,如溫度、壓力、氣氛等,使測試結(jié)果更接近實(shí)際情況。2.實(shí)時監(jiān)測:可以實(shí)現(xiàn)對催化劑活性的實(shí)時監(jiān)測,為催化劑的優(yōu)化提供及時反饋。3.
  • 2024

    05-17

    【二維材料轉(zhuǎn)移】二維材料轉(zhuǎn)移臺應(yīng)用案例

    全電動二維材料轉(zhuǎn)移臺2DTrans-ams-03,是專為解決手動轉(zhuǎn)移過程中由手的抖動帶來的這一不良結(jié)果,并充分還原手動轉(zhuǎn)移過程中的手感與操作方式,給予更好的準(zhǔn)確度和掌控性。同時也是一款專為手套箱環(huán)境設(shè)計(jì)的二維材料轉(zhuǎn)移臺,用于解決水氧敏感材料的轉(zhuǎn)移痛點(diǎn)。并且還是一款專為轉(zhuǎn)移“魔角”樣品而設(shè)計(jì)的二維材料轉(zhuǎn)移臺。
  • 2024

    05-09

    掃描電鏡中的電子束對樣品的影響和調(diào)節(jié)方法

    掃描電鏡中的電子束對樣品有幾方面的影響:1.表面充電效應(yīng):您已經(jīng)正確地指出了使用導(dǎo)電性樣品支撐或涂層,以及在樣品表面鍍覆導(dǎo)電材料可以減少表面充電效應(yīng)。此外,還可以通過調(diào)整掃描電鏡的工作模式(如使用環(huán)境掃描電子顯微鏡,它允許在較高壓力下工作,從而減少充電效應(yīng))來減輕這一問題。2.樣品損傷:降低電子束的能量和減少暴露時間確實(shí)是減少樣品損傷的有效方法。此外,還可以通過優(yōu)化掃描模式(例如,使用快速掃描和慢速采集的組合)來減少樣品受到的輻射劑量。3.放射性偽影:您提到的使用低加速電壓和適當(dāng)?shù)臋z測器是正確的
  • 2024

    04-24

    原位多場耦合樣品桿的使用

    原位多場耦合樣品桿的使用涉及一系列精細(xì)的步驟和操作,以下是其使用的基本流程:一、準(zhǔn)備工作樣品準(zhǔn)備:根據(jù)實(shí)驗(yàn)需求,選擇合適的樣品,并確保其尺寸和形狀與樣品桿兼容。設(shè)備檢查:檢查原位多場耦合樣品桿及其附件是否完好無損,確保無松動或損壞的部件。環(huán)境準(zhǔn)備:確保實(shí)驗(yàn)環(huán)境干凈、無塵,以減少對樣品的污染。二、安裝與調(diào)試安裝樣品:將準(zhǔn)備好的樣品固定在樣品桿上,確保樣品穩(wěn)定且位置準(zhǔn)確。連接設(shè)備:將樣品桿連接到電鏡或其他分析設(shè)備上,確保連接穩(wěn)固、無松動。調(diào)試與校準(zhǔn):根據(jù)設(shè)備說明書,對原位多場耦合樣品桿進(jìn)行調(diào)試和校準(zhǔn)
  • 2024

    04-01

    ZEM18電鏡在生命科學(xué)領(lǐng)域的應(yīng)用案例

    隨著科學(xué)技術(shù)的發(fā)展,各類法醫(yī)和犯罪現(xiàn)場證據(jù)的微觀分析對偵破案件的重要性日益增強(qiáng)。電鏡作為一種高分辨微觀工具,在法醫(yī)和犯罪現(xiàn)場搜證方面有巨大的應(yīng)用價值。澤攸科技自主研發(fā)的ZEM18臺式掃描電鏡,利用其超高的圖像分辨率,可以觀察到肉眼無法識別的細(xì)微痕跡,為警方提供詳盡而關(guān)鍵的物證,科學(xué)地偵破許多看似復(fù)雜的刑事案件。例如在涉水死亡案件中,ZEM18臺式掃描電鏡可以通過人體組織內(nèi)殘留的硅藻種類、數(shù)量和狀態(tài)判斷受害者是生前落水還是死后落水。此外,ZEM18掃描電鏡可以檢測現(xiàn)場殘留物,如受害者衣物、頭發(fā)上殘
  • 2024

    04-01

    【半導(dǎo)體形貌及成分表征】ZEM18電鏡在半導(dǎo)體領(lǐng)域的應(yīng)用案例

    ZEM18作為澤攸科技自主研發(fā)的高分辨臺式掃描電子顯微鏡,在半導(dǎo)體領(lǐng)域有著廣泛的應(yīng)用。典型案例如下:【晶圓缺陷檢測】利用ZEM18電鏡直接成像觀察晶圓表面,可以清晰展現(xiàn)出微小劃痕、顆粒污染等各類缺陷情況。根據(jù)圖像結(jié)果判斷缺陷源頭,以優(yōu)化制程,提高生產(chǎn)良率?!竟饪坦に嚈z測】使用ZEM18電鏡可以在微米量級直接刻畫光刻膠層的側(cè)壁形貌及斷口形態(tài)。幫助評估光刻質(zhì)量與曝光量效應(yīng),優(yōu)化曝光量設(shè)置?!窘饘倩ミB觀測】ZEM18高倍成像可以清晰展現(xiàn)芯片互連結(jié)構(gòu)中的空隙缺陷、線邊斷裂情況,有助于電參數(shù)測試結(jié)果的對應(yīng)
  • 2024

    03-20

    澤攸科技JS系列高精度臺階儀在半導(dǎo)體領(lǐng)域的應(yīng)用

    澤攸科技JS系列高精度臺階儀是一款先進(jìn)的自主研發(fā)的國產(chǎn)臺階儀,采用了先進(jìn)的掃描探針技術(shù)。通過掃描探針在樣品表面上進(jìn)行微觀測量,臺階儀能夠準(zhǔn)確獲取表面形貌信息。其工作原理基于探針與樣品表面的相互作用力,通過測量探針的微小位移,實(shí)現(xiàn)對表面高度差異的檢測。其性能特點(diǎn)包括:1.高精度:臺階儀可實(shí)現(xiàn)納米級別的測量,能夠揭示微觀結(jié)構(gòu)的細(xì)節(jié)和特征。2.大行程超精密平面掃描:具備70mm的大行程,優(yōu)于20nm/2mm,能夠高效地獲取表面形貌數(shù)據(jù)。3.大帶寬大行程納米微動臺:擁有80um的大行程和10kHZ的頻率
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