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布魯克MultiMode 8原子力顯微鏡、高分辨掃描探針顯微鏡

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布魯克MultiMode 8原子力顯微鏡

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徠卡顯微鏡,體視顯微鏡,金相顯微鏡,顯微鏡攝像頭,電鏡制樣設(shè)備,原子力顯微鏡,

 

布魯克MultiMode 8原子力顯微鏡
 
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布魯克MultiMode 8原子力顯微鏡

 

世界上用戶zui多的高分辨掃描探針顯微鏡
 
不斷突破,追求*的創(chuàng)新之路
 
 
MultiMode8系統(tǒng)的性能源于其緊湊堅(jiān)固的機(jī)械設(shè)計(jì)與*的低噪音SPM控制電路。SPM系統(tǒng)性能的優(yōu)劣很大程度取決于樣品與探針之間的機(jī)械路徑長度,路徑越短受聲學(xué)和振動噪音的影響越小,同時(shí)受到熱漂移的影響也越小。另外SPM各功能部件組裝穩(wěn)定性也會影響儀器性能。對儀器細(xì)節(jié)的考量和技術(shù)的不斷革新,提升了 Multimode系列儀器性能。SPM控制器是保證系統(tǒng)高性能的另一個(gè)關(guān)鍵因素,第五代NanoScope V控制器具有*的數(shù)字架構(gòu):高數(shù)據(jù)帶寬,低噪聲數(shù)據(jù)采集和的數(shù)據(jù)處理能力,布魯克采用技術(shù), ScanAsyst模式 & PeakForce QNM模式,幫助研究者在各研究領(lǐng)域取得更多研究成果。
ScanAsyst自動成像軟件,適用于大氣和溶液各種掃描條件. ScanAsyst采用智能計(jì)算方法,連續(xù)監(jiān)控圖像質(zhì)量,根據(jù)反饋?zhàn)龀鲞m當(dāng)?shù)膮?shù)調(diào)整,系統(tǒng)自動化而完成這一系列工作,為用戶提供更快捷優(yōu)異的測量結(jié)果,也大大降低了對操作者的技術(shù)要求。全新推出ScanAsyst-HR, 可以在MultiMode8上實(shí)現(xiàn)快速掃描模式。與傳統(tǒng)的AFM相比,在其速度提高6倍時(shí)仍不損失圖像分辨率,獲得超高分辨的AFM圖像。PeakForceQNM, Bruker*的納米尺度機(jī)械性能的定量測量,提供更加準(zhǔn)確的材料彈性模量和粘附性的測量結(jié)果,同時(shí)也有利于保持樣品和針尖的完整性。
AFM性能的*詮釋
MultiMode®是世界上的掃描探針顯微鏡,得到客戶的高度認(rèn)可,迄今為止數(shù)以萬計(jì)的MultiMode®掃描探針顯微鏡已經(jīng)在成功安裝使用。其世界的超高分辨率,完備的儀器性能,以及得到充分驗(yàn)證的數(shù)據(jù)可靠性,奠定了其在AFM領(lǐng)域的。
 
 
簡便易行,輕松獲得專業(yè)結(jié)果
·使用的自動掃描成像模式ScanAsyst™,研究人員不必再去繁瑣地調(diào)整Setpoint、反饋增益和掃描速度等參數(shù),不論是在大氣下還是在溶液中,都可以輕松獲得高質(zhì)量圖像。
·在溶液環(huán)境下掃描更簡便易行,它無需進(jìn)行尋找探針的共振頻率,ScanAsyst始終直接控制針尖樣品間的作用力,這樣可以消除Setpoint。
 
功能強(qiáng)大的定量成像模式
·Bruker的新型成像模式PeakForce™ QNM™,可以對材料納米尺度的力學(xué)性質(zhì)進(jìn)行定量檢測,在正常的掃描速率下獲得高分辨率的材料粘附力和彈性模量圖像。與傳統(tǒng)的相位成像和某些廠家的多頻技術(shù)不同的是,使用Peakforce™ QNM™模式可獲得精確、定量的實(shí)驗(yàn)數(shù)據(jù)。
·PeakForce TUNA™模塊,能夠定量測量樣品的導(dǎo)電特性,這是傳統(tǒng)的導(dǎo)電模式所不能實(shí)現(xiàn)的。
·全新推出ScanAsyst-HR, 可以在MultiMode8上實(shí)現(xiàn)快速掃描模式。與傳統(tǒng)的AFM相比,在其速度提高6倍時(shí)仍不損失圖像分辨率,獲得超高分辨的AFM圖像。zui快掃描速度,可比傳統(tǒng)的AFM提高20倍。
具有zui高的分辨率和測試性能
·迄今為止,利用MultiMode系列原子力顯微鏡,已發(fā)表大量高水平論文,幫助科學(xué)家們解決了
·諸多重大前沿科研問題。MultiMode8采用結(jié)構(gòu)緊湊的剛性設(shè)計(jì),即使樣品的測試難度大,測試條件極為苛刻,也能實(shí)現(xiàn)低系統(tǒng)噪音,獲得超高分辨率的圖像。
·NanoScope®V控制器提供業(yè)界zui低的系統(tǒng)噪音和*的超高帶寬,大大提高了數(shù)據(jù)分析能力,適用于更多的研究領(lǐng)域。
·Bruker*的Peak Force Tapping® 技術(shù),精確控制針尖與樣品的作用力,可遠(yuǎn)低于TappingMode™所需要的力。
 
功能完備,適用于各研究領(lǐng)域
·大氣或者溶液環(huán)境中,MultiMode8都能夠完成樣品檢測,以其超高分辨率和完備的功能,被廣泛應(yīng)用于物理、化學(xué)、材料、電子以及生命科學(xué)等各個(gè)領(lǐng)域。
·MultiMode8上可選配溫度調(diào)節(jié)和環(huán)境控制附件。加熱到250°C,冷卻至-35°C,或在水蒸氣和氧氣含量小于1ppm的手套箱中,都可以實(shí)現(xiàn)敏感樣品的檢測和成像。
·MultiMode8基本操作模式的基礎(chǔ)上選配不同功能的附件,可在高分辨成像的同時(shí),獲得樣品的力學(xué)、電學(xué)、磁學(xué)、熱力學(xué)等各項(xiàng)性能指標(biāo) 


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