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CMI900 CMI900 熒光X射線鍍層測(cè)厚儀

參考價(jià)	￥ 280000
訂貨量	≥1

具體成交價(jià)以合同協(xié)議為準(zhǔn)

公司名稱 深圳鼎極天電子蘇州辦事處
品牌
型號(hào) CMI900
產(chǎn)地 美國(guó)
廠商性質(zhì) 其他
更新時(shí)間 2017/7/22 1:54:58
訪問次數(shù) 469

產(chǎn)品標(biāo)簽

測(cè)厚儀 CMI900 X射線測(cè)厚儀

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（） 、磁感應(yīng)式、電渦流式和微電阻式無損鍍層、涂層測(cè)厚儀） / , /專業(yè)OXFORD英國(guó)牛津系列產(chǎn)品：

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CMI900(X熒光鍍層測(cè)厚儀)
X-Strata980(X熒光鍍層測(cè)厚及痕量元素分析儀RHOS)

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CMI900X熒光鍍層測(cè)厚儀

精度高、穩(wěn)定性好
強(qiáng)大的數(shù)據(jù)統(tǒng)計(jì)、處理功能
測(cè)量范圍寬
NIST認(rèn)證的標(biāo)準(zhǔn)片
服務(wù)及支持

CMI900X射線熒光鍍層測(cè)厚儀，有著非破壞，非接觸，多層合金測(cè)量，高生產(chǎn)力，高再現(xiàn)性等優(yōu)點(diǎn)，在質(zhì)量管理到不良品分析有著廣泛的應(yīng)用。

用于電子元器件，半導(dǎo)體，PCB，汽車零部件，功能性電鍍，裝飾件，連接器……多個(gè)行業(yè)

主要規(guī)格	規(guī)格描述
X射線激發(fā)系統(tǒng)	垂直上照式X射線光學(xué)系統(tǒng)
	空冷式微聚焦型X射線管，Be窗
	標(biāo)準(zhǔn)靶材：Rh靶；任選靶材：W、Mo、Ag等
	功率：50W（4-50kV，0-1.0mA）－標(biāo)準(zhǔn) 75W（4-50kV，0-1.5mA）－任選
	裝備有安全防射線光閘
	二次X射線濾光片：3個(gè)位置程控交換，多種材質(zhì)、多種厚度的二次濾光片任選
準(zhǔn)直器程控交換系統(tǒng)	zui多可同時(shí)裝配6種規(guī)格的準(zhǔn)直器
	多種規(guī)格尺寸準(zhǔn)直器任選：－圓形，如4、6、8、12、20 mil等－矩形，如1x2、2x2、0.5x10、1x10、2x10、4x16等
測(cè)量斑點(diǎn)尺寸	在12.7mm聚焦距離時(shí)，zui小測(cè)量斑點(diǎn)尺寸為：0.078 x 0.055 mm（使用0.025 x 0.05 mm準(zhǔn)直器）
	在12.7mm聚焦距離時(shí)，zui大測(cè)量斑點(diǎn)尺寸為：0.38 x 0.42 mm（使用0.3mm準(zhǔn)直器）
樣品室	CMI900		CMI950
－樣品室結(jié)構(gòu)	開槽式樣品室		開閉式樣品室
－zui大樣品臺(tái)尺寸	610mm x 610mm		300mm x 300mm
－XY軸程控移動(dòng)范圍	標(biāo)準(zhǔn)：152.4 x 177.8mm 還有5種規(guī)格任選		300mm x 300mm
－Z軸程控移動(dòng)高度	43.18mm		XYZ程控時(shí)，152.4mm XY軸手動(dòng)時(shí)，269.2mm
－XYZ三軸控制方式	多種控制方式任選：XYZ三軸程序控制、XY軸手動(dòng)控制和Z軸程序控制、XYZ三軸手動(dòng)控制
－樣品觀察系統(tǒng)		高分辨彩色CCD觀察系統(tǒng)，標(biāo)準(zhǔn)放大倍數(shù)為30倍。50倍和100倍觀察系統(tǒng)任選。
		激光自動(dòng)對(duì)焦功能
		可變焦距控制功能和固定焦距控制功能
計(jì)算機(jī)系統(tǒng)配置		IBM計(jì)算機(jī) 彩色噴墨打印機(jī)
分析應(yīng)用軟件		操作系統(tǒng)：Windows2000中文平臺(tái) 分析軟件包：SmartLink FP軟件包
－測(cè)厚范圍		可測(cè)定厚度范圍：取決于您的具體應(yīng)用。
－基本分析功能		采用基本參數(shù)法校正。牛津儀器將根據(jù)您的應(yīng)用提供必要的校正用標(biāo)準(zhǔn)樣品。
		樣品種類：鍍層、涂層、薄膜、液體（鍍液中的元素含量）
		可檢測(cè)元素范圍：Ti22 – U92
		可同時(shí)測(cè)定5層/15種元素/共存元素校正
		貴金屬檢測(cè)，如Au karat評(píng)價(jià)
		材料和合金元素分析，
		材料鑒別和分類檢測(cè)
		液體樣品分析，如鍍液中的金屬元素含量
		多達(dá)4個(gè)樣品的光譜同時(shí)顯示和比較
		元素光譜定性分析
－調(diào)整和校正功能		系統(tǒng)自動(dòng)調(diào)整和校正功能，自動(dòng)消除系統(tǒng)漂移
－測(cè)量自動(dòng)化功能		鼠標(biāo)激活測(cè)量模式：“Point and Shoot”
		多點(diǎn)自動(dòng)測(cè)量模式：隨機(jī)模式、線性模式、梯度模式、掃描模式、和重復(fù)測(cè)量模式
		測(cè)量位置預(yù)覽功能
		激光對(duì)焦和自動(dòng)對(duì)焦功能
－樣品臺(tái)程控功能		設(shè)定測(cè)量點(diǎn)
		連續(xù)多點(diǎn)測(cè)量
		測(cè)量位置預(yù)覽（圖表顯示）

－統(tǒng)計(jì)計(jì)算功能	平均值、標(biāo)準(zhǔn)偏差、相對(duì)標(biāo)準(zhǔn)偏差、zui大值、zui小值、數(shù)據(jù)變動(dòng)范圍、數(shù)據(jù)編號(hào)、CP、CPK、控制上限圖、控制下限圖
	數(shù)據(jù)分組、X-bar/R圖表、直方圖
	數(shù)據(jù)庫(kù)存儲(chǔ)功能
	任選軟件：統(tǒng)計(jì)報(bào)告編輯器允許用戶自定義多媒體報(bào)告書
－系統(tǒng)安全監(jiān)測(cè)功能	Z軸保護(hù)傳感器
	樣品室門開閉傳感器
	操作系統(tǒng)多級(jí)密碼操作系統(tǒng)：操作員、分析員、工程師

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