二次離子質(zhì)譜概述

1. 一定能量的離子打到固體表面會(huì)引起表面原子、分子或原子團(tuán)的二次發(fā)射，即離子濺射。濺射的粒子一般以中性為主，其中有一部分帶有正、負(fù)電荷，這就是二次離子。利用質(zhì)量分析器接收分析二次離子就得到二次離子質(zhì)譜。根據(jù)濺射的二次離子信號(hào)，可對(duì)被轟擊樣品的表面和內(nèi)部元素及分布特征進(jìn)行分析。
2. 二次離子質(zhì)譜儀主要用于材料學(xué)（半導(dǎo)體、薄層、絕緣材料等）、地質(zhì)空間學(xué)、天體化學(xué)、環(huán)境微生物學(xué)和細(xì)胞學(xué)。
3. 主要功能：

               質(zhì)譜分析-表面微區(qū)元素組成

               痕量元素深度剖析

               二次離子成像及顯微圖像分布（2＆3D）

               穩(wěn)定同位素豐度比

               放射性顆粒分析

               地質(zhì)定年

大型二次離子質(zhì)譜 IMS 1280-HR

1. 針對(duì)地質(zhì)領(lǐng)域和環(huán)境科學(xué)分析專門(mén)而設(shè)計(jì)、注重原位分析
2. 具有超高的靈敏度
3. U-Pb地質(zhì)學(xué)定年、穩(wěn)定同位素分析、痕量元素以及放射性顆粒分析的zui高水平分析儀器

     K/Ca dating: MR>30,000 (monocollection)

     Rb/Sr dating: MR>20,000-40,000 (monocollection)

     Mg & metal isotope ratios: MR>5000 (multicollection)

     Li-U區(qū)間元素快高精確度同位素豐度比測(cè)量

大型二次離子質(zhì)譜性能優(yōu)勢(shì)

1. 靈活多用的多接受系統(tǒng)，尤其適于用于同位素分析。
2. 兩種具有反應(yīng)活性的的一次離子源，在數(shù)據(jù)采集的同時(shí)可對(duì)其進(jìn)行監(jiān)控。
3. 具有高度再現(xiàn)能力的樣品臺(tái)。
4. NMR高分辨磁場(chǎng)控制。
5. *的圖像功能。
6. *計(jì)算機(jī)化自動(dòng)工作，可遠(yuǎn)程監(jiān)控。
7. 通過(guò)加入一個(gè)新的六極靴，對(duì)耦合進(jìn)行了重新設(shè)計(jì)，減少了軸上二次畸變。
8. 多接受模式下，峰形得到很大的改善。
9. 優(yōu)化了真空以降低背底，有利于探測(cè)輕元素，氫化物。

在單接受模式以及高質(zhì)量分辨率下，通過(guò)靜電壓跳峰，提高了穩(wěn)定性。