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低相位差高速檢查設(shè)備RE-200
- 公司名稱 大塚電子（蘇州）有限公司-J
- 品牌
- 型號(hào)
- 產(chǎn)地
- 廠商性質(zhì) 經(jīng)銷商
- 更新時(shí)間 2019/5/25 16:25:28
- 訪問次數(shù) 397
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分光光度計(jì)、液晶盒厚分光測(cè)試儀、色度儀;理化分析儀器、裝置和其他測(cè)量或檢驗(yàn)儀器、器具、機(jī)器商品（包含相應(yīng)另部件、消耗品）的批發(fā)、進(jìn)出口、光學(xué)膜厚儀、
特 點(diǎn)
• 低相位差高速檢查設(shè)備RE-200可測(cè)從0nm開始的低（殘留）相位差
• 光軸檢出同時(shí)可高速測(cè)量相位差(Re.)
（相當(dāng)于快速的0.1秒以下來處理）
• 無驅(qū)動(dòng)部，重復(fù)再現(xiàn)性高
• 設(shè)置的測(cè)量項(xiàng)目少，測(cè)量簡(jiǎn)單
• 測(cè)量波長(zhǎng)除了550nm以外，還有各種波長(zhǎng)
• Rth測(cè)量、*角測(cè)量
（需要option的自動(dòng)旋轉(zhuǎn)傾斜治具
• 通過與拉伸試驗(yàn)機(jī)組合，可同時(shí)評(píng)價(jià)膜的偏光特性和光弾性
(本系統(tǒng)屬特注。）
測(cè)量項(xiàng)目
• 相位差（ρ[deg.], Re[nm]）
• 主軸方位角（θ[deg.]）
• 橢圓率（ε）?方位角（γ）
• 三次元折射率（NxNyNz）
用 途
• 低相位差高速檢查設(shè)備RE-200位相差膜、偏光膜、橢圓膜、視野角改善膜、各種功能性膜
• 樹脂、玻璃等透明、非均質(zhì)材料（玻璃有變形，歪曲等）
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