嵌入式膜厚儀FE-5000
具體成交價以合同協(xié)議為準(zhǔn)
- 公司名稱 大塚電子（蘇州）有限公司-J
- 品牌
- 型號
- 產(chǎn)地
- 廠商性質(zhì) 經(jīng)銷商
- 更新時間 2019/5/25 15:58:00
- 訪問次數(shù) 290
產(chǎn)品標(biāo)簽
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分光光度計(jì)、液晶盒厚分光測試儀、色度儀;理化分析儀器、裝置和其他測量或檢驗(yàn)儀器、器具、機(jī)器商品（包含相應(yīng)另部件、消耗品）的批發(fā)、進(jìn)出口、光學(xué)膜厚儀、
嵌入式膜厚儀FE-5000在高精度薄膜分析的光譜橢偏儀之上，增加安裝了測量角度可自動變化裝置,可對應(yīng)所有種類的薄膜。嵌入式膜厚儀FE-5000在傳統(tǒng)旋轉(zhuǎn)分析儀法之上，通過安裝相位差板自動分離裝置，提高了測量精度。
特點(diǎn)
可在紫外和可見（250至800nm）波長區(qū)域中測量橢圓參數(shù)
可分析納米級多層薄膜的厚度
可以通過超過400ch的多通道光譜快速測量Ellipso光譜
通過可變反射角測量，可詳細(xì)分析薄膜
通過創(chuàng)建光學(xué)常數(shù)數(shù)據(jù)庫和追加菜單注冊功能，增強(qiáng)操作便利性
通過層膜貼合分析的光學(xué)常數(shù)測量可控制膜厚度/膜質(zhì)量
測量項(xiàng)目
測量橢圓參數(shù)（TANψ，COSΔ）
光學(xué)常數(shù)（n：折射率，k：消光系數(shù)）分析
薄膜厚度分析
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