Park原子力顯微鏡NX20主要目的是對樣品進行缺陷檢測。

而Park原子力顯微鏡NX20所提供的數(shù)據不能允許任何錯誤的存在。Park NX20，這款精密的大型樣品原子力顯微鏡，憑借著出色的數(shù)據準確性，在半導體和超平樣品行業(yè)中大受贊揚。

強大全面的分析功能

具備*的功能，可快速幫助客戶找到產品失效的原因，并幫助

客戶制定出更多具有創(chuàng)意的解決方案。的精密度為您帶來高分辨率數(shù)

據，讓您能夠更加專注于工作。與此同時，真正非接觸掃描模式讓探針*更耐用，無需為頻繁更換探針而耗費大量的時間和金錢。

凝聚著具創(chuàng)新的AFM技術

1. 100 μm x 100 μm掃描范圍的XY平板掃描器

XY平板掃描器，采用壓電堆棧設計，減少傳統(tǒng)掃描過程中XY的正交影響，具有高速的響應頻率，實現(xiàn)精確的樣品納米級掃描。

即便是*次接觸原子顯微鏡的工程師也易于操作

ParkNX20擁有業(yè)界較為便捷的設計和自動界面，讓你在使用時無需花費大量

的時間和精力，也不用為此而時時不停的指導初學者。借助這一系列特點，您

可以更加專注于解決更為重大的問題，并為客戶提供及時且富有洞察力的失效

分析報告。

Park NX20 可以滿足科研工作者需要的多種掃描模式，并能滿足您的所有研究需求。

表面粗糙度測量

  真正非接觸模式

  D輕敲模式

電學性能測量

  導電AFM (ULCA和VECA)

  靜電力顯微鏡(EFM)

  壓電力顯微鏡（PFM）

  掃描電容顯微鏡(SCM)

  掃描開爾文探針顯微鏡 (SKPM)

  掃描電阻顯微鏡(SSRM)

  掃描隧道顯微鏡(STM)

  光電流顯微鏡(Tr-PCM)