MCPD 透過率測(cè)試儀
- 公司名稱 大塚電子(蘇州)有限公司
- 品牌 OTSUKA/日本大塚
- 型號(hào) MCPD
- 產(chǎn)地
- 廠商性質(zhì) 生產(chǎn)廠家
- 更新時(shí)間 2020/6/12 16:03:25
- 訪問次數(shù) 1547
聯(lián)系我們時(shí)請(qǐng)說明是化工儀器網(wǎng)上看到的信息,謝謝!
zeta電位?粒徑?分子量測(cè)量系統(tǒng),晶圓在線測(cè)厚系統(tǒng),線掃描膜厚儀,顯微分光膜厚儀,線掃描膜厚儀,分光干涉式晶圓膜厚儀,相位差膜?光學(xué)材料檢測(cè)設(shè)備,非接觸光學(xué)膜厚儀,小角激光散射儀,多檢體納米粒徑量測(cè)系統(tǒng),量子效率測(cè)量系統(tǒng)
按探測(cè)器 | CCD | 光譜范圍 | 紫外 |
---|---|---|---|
價(jià)格區(qū)間 | 面議 | 應(yīng)用領(lǐng)域 | 醫(yī)療衛(wèi)生,化工,電子/電池,包裝/造紙/印刷,電氣 |
MCPD系列透過率測(cè)試儀
(MCPD-9800/MCPD-3700/MCPD-7700)
提供豐富選配套件以及客制化光纖,可依據(jù)安裝現(xiàn)場(chǎng)需求評(píng)估設(shè)計(jì),是一套可靈活架設(shè)于各種環(huán)境下的即時(shí)測(cè)量系統(tǒng)
膜厚測(cè)量
半導(dǎo)體晶圓膜(氧化膜、氮化膜、光阻膜)光阻剝離液厚度、濕狀薄膜涂布膜(Coating膜、蒸鍍膜、接著劑、亞克力樹脂、光碟片膜層、薄膜磁頭)樹脂膜(PET、PP、PE、PC、Nylon)、機(jī)能性薄膜、包裝膜
![]() | ![]() |
膜厚測(cè)量(分光光譜儀 + 顯微鏡)
半導(dǎo)體晶圓膜(氧化膜、氮化膜、光阻膜)光阻剝離液厚度、濕狀薄膜塗布膜(Coating膜、蒸鍍膜、接著劑、亞克力樹脂、光碟片膜層、薄膜磁頭)樹脂膜(PET、PP、PE、PC、Nylon)、機(jī)能性薄膜、包裝膜。
影印機(jī)感光鼓膜厚度量測(cè)
半導(dǎo)體晶圓膜(氧化膜、氮化膜、光阻膜)光阻剝離液厚度、濕狀薄膜塗布膜(Coating膜、蒸鍍膜、接著劑、亞克力樹脂、光碟片膜層、薄膜磁頭)樹脂膜(PET、PP、PE、PC、Nylon)、機(jī)能能性薄膜、包裝膜
![]() | ![]() |
LB膜測(cè)量
蒸餾膜測(cè)量
![]() | ![]() |
多點(diǎn)膜厚測(cè)量
半導(dǎo)體晶圓膜(氧化膜、氮化膜、光阻膜)
光阻剝離液厚度、濕狀薄膜
塗布膜(Coating膜、蒸鍍膜、接著劑、亞克力樹脂、光碟片膜層、薄膜磁頭)
樹脂膜(PET、PP、PE、PC、Nylon)、機(jī)能能性薄膜、包裝膜
![]() | ![]() |