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化工儀器網(wǎng)>產(chǎn)品展廳>測量/計量儀器>表面測量儀器>輪廓儀> DektakXT臺階儀,表面輪廓儀

DektakXT臺階儀,表面輪廓儀

具體成交價以合同協(xié)議為準(zhǔn)
  • 公司名稱 冠乾科技(上海)有限公司
  • 品牌 Bruker/布魯克
  • 型號
  • 產(chǎn)地 美國
  • 廠商性質(zhì) 經(jīng)銷商
  • 更新時間 2023/1/8 14:57:46
  • 訪問次數(shù) 1102

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冠乾科技Grant Technology 有限公司創(chuàng)立于中國上海。 公司為用戶提供先進(jìn)可靠的設(shè)備及、

儀器技術(shù),為客戶把握工藝過程,得到優(yōu)質(zhì)的結(jié)果而服務(wù)。
Grant是“授予”的意思,希望公司能夠成為一個平臺,以用戶能夠得到上更新更快的技術(shù)資訊,技術(shù)方案為企業(yè)目標(biāo)。

冠乾科技追求品質(zhì)產(chǎn)品、專業(yè)的應(yīng)用和完善的售后服務(wù),我們是您可以信賴的合作伙伴。

工藝設(shè)備:真空鍍膜機(jī);離子束刻蝕機(jī),ICP刻蝕機(jī),等

產(chǎn)品線豐富,元素分析:原子吸收,氣相色譜,液相色譜,氣質(zhì)聯(lián)用,紫外分光光度計等; 熱分析:材料表面分析:原子力顯微鏡,光學(xué)輪廓儀,摩擦磨損等;  通用分析:掃描電鏡,

實驗室儀器
原子吸收光譜儀
近紅外光譜儀
紫外分光光度計
電化學(xué)工作站
紅外光譜儀
鍍層測厚儀
數(shù)字顯微鏡
影像測量儀
Wafer 粗糙度檢測
3D 輪廓儀
超景深顯微鏡
TTV 測試
掃描探針顯微鏡
臺式掃描電鏡

其他儀器:
四探針測試
離子減薄機(jī)

 

原子力顯微鏡,摩擦磨損試驗機(jī),超景深顯微鏡,鍍膜機(jī)

產(chǎn)地類別 進(jìn)口 產(chǎn)品種類 接觸式輪廓儀/粗糙度儀
價格區(qū)間 面議 應(yīng)用領(lǐng)域 電子/電池,航空航天,汽車及零部件,電氣

DektakXT臺階儀,表面輪廓儀(探針式表面輪廓儀)是一項創(chuàng)新的設(shè)計,可以提供更高的重復(fù)性和分辨率,測量重復(fù)性可以達(dá)到5埃。臺階儀這項性能的提高達(dá)到了過去四十年Dektak技術(shù)創(chuàng)新的,更加鞏固了其行業(yè)地位。不論應(yīng)用于研發(fā)還是產(chǎn)品測量,通過在研究工作中的廣泛使用,DektakXT一定能夠做到功能更強(qiáng)大,操作更簡易,檢測過程和數(shù)據(jù)采集更完善。第十代DektakXT臺階儀(探針式表面輪廓儀)的技術(shù)突破,使納米尺度的表面輪廓測量成為可能,從而可以廣泛的應(yīng)用于微電子器件,半導(dǎo)體,電池,高亮度發(fā)光二極管的研發(fā)以及材料科學(xué)領(lǐng)域。

DektakXT臺階儀,表面輪廓儀設(shè)計

探針系統(tǒng)的評價體系受三個因素影響:能否重復(fù)測量,數(shù)據(jù)采集和分析速度快慢,操作的難易程度。這些因素直接影響了數(shù)據(jù)的質(zhì)量和操作效率。DektakXT利用全新結(jié)構(gòu)和和軟件來實現(xiàn)可重復(fù)、時間短、易操作這三個必要因素,達(dá)到儀器使用效果。

強(qiáng)化操作的可重復(fù)性 Delivering Repeatable Measurements

DektakXT在設(shè)計上的幾個提高,使其在測量臺階高度重復(fù)性方面具有優(yōu)異的表現(xiàn),臺階高度重復(fù)性可以到達(dá)5?.使用single-arch結(jié)構(gòu)比原先的懸臂梁設(shè)計更堅硬持久不易彎曲損壞,而且降低了周圍環(huán)境中聲音和震動噪音對測量信號的影響。同時,Bruker還對儀器的智能化電子器件進(jìn)行完善,提高其穩(wěn)定性,降低溫度變化對它的影響,并采用*進(jìn)的數(shù)據(jù)處理器。在控制器電路中使用這些靈敏的電子元器件,會把可能引起誤差的噪音降到很低,DektakXT的系統(tǒng)因此可以更穩(wěn)定可靠的實現(xiàn)對高度小于10nm的臺階的掃描。Single-arch結(jié)構(gòu)和智能器件的聯(lián)用,大大降低了掃描臺的噪音,增強(qiáng)了穩(wěn)定性,使其成為一個有競爭力的臺階儀(表面輪廓儀)。

提高數(shù)據(jù)采集和分析速度 SpeedingUp Collectionand Analysis

利用*的直接掃描平臺,DektakXT通過減少從得到原始數(shù)據(jù)到扣除背底噪音所需要的時間,來提高掃描效率。這一改進(jìn),大大提高了大范圍掃描3D形貌或者對于表面應(yīng)力長程掃描的掃描速度。在保證質(zhì)量和重復(fù)性的前提下,可以將數(shù)據(jù)采集處理的速度提高40%。另外,DektakXT采用Bruker 64-Bit數(shù)據(jù)采集分析同步操作系統(tǒng)Vision64,它可以提高大范圍3D形貌圖的高數(shù)據(jù)量處理速度,并且可以加快濾波器的工作速度和多模式掃描時的數(shù)據(jù)分析處理效率。Vision64還具有有效直觀的用戶界面,簡化了實驗操作設(shè)置,可以自動完成多掃描模式,使很多枯燥繁復(fù)的實驗操作變得更快速簡潔。

完善的操作和分析系統(tǒng) PerfectingOperationand Analysis

與DektakXT的創(chuàng)新性設(shè)計相得益彰的配置是Bruker的Vision64操作分析軟件。Vision64提供了操作上實用簡潔的用戶界面,具備智能結(jié)構(gòu),可視化的使用流程,以及各種參數(shù)的自助設(shè)定以滿足用戶的各種使用要求,快速簡便的實現(xiàn)各種類型數(shù)據(jù)的采集和分析。

DektakXT 技術(shù)參數(shù)

—臺階高度重復(fù)性5?

—Single-arch設(shè)計大大提高了掃描穩(wěn)定性

—前置敏化器件,降低了噪音對測量的干擾

—新的硬件配置使數(shù)據(jù)采集能力提高了40%

—64-bit,這一Vision64同步數(shù)據(jù)處理軟件,使數(shù)據(jù)分析速度提高了十倍。

功能強(qiáng)大,操作簡易

—直觀的Vision64用戶界面操作流程簡便易行

—針尖自動校準(zhǔn)系統(tǒng)讓用戶更換針尖不再是難事

臺階儀(表面輪廓儀)領(lǐng)域無可撼動的地位

—布魯克的臺階儀,體積輕巧,功能強(qiáng)大。

—單傳感器設(shè)計提供了單一平面上低作用力和寬掃描范圍

應(yīng)用領(lǐng)域:MEMS、太陽能、芯片、光刻、刻蝕、鍍膜、LED、微電子、觸摸屏等領(lǐng)域。

我們的部分客戶名單:清華大學(xué)微電子系、清華大學(xué)微電子所、清華大學(xué)電子系等121家高校及研究所,上海神舟新能源有限公司、上海交大泰陽綠色能源有限公司、福建鈞石能源有限公司等幾百家工業(yè)公司。




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