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PHI nanoTOF 3+ 飛行時間質(zhì)譜儀

具體成交價以合同協(xié)議為準

聯(lián)系我們時請說明是化工儀器網(wǎng)上看到的信息,謝謝!


ULVAC-PHI是超高真空表面分析儀器供應商。專注于研發(fā)和生產(chǎn)表面分析儀器,包括光電子能譜儀(XPS)、俄歇電子能譜儀(AES)、飛行時間二次離子質(zhì)譜儀(Tof-SIMS)和動態(tài)二次離子質(zhì)譜儀(D-SIMS)。通過提供獨T的技術解決方案,幫助客戶解決各種具有挑戰(zhàn)性的問題,從而加速新產(chǎn)品和新技術的發(fā)展。產(chǎn)品應用領域包括納米技術、太陽能技術、微電子技術、存儲介質(zhì)、催化、生物材料、藥品以及金屬、礦物、聚合物、復合材料和涂料等基礎材料。

作為唯1一家能夠同時提供高性能XPS、AESSIMS全系列表面分析儀器的制造商,ULVAC-PHI在全面性和完整性的表面分析解決方案領域擁有獨T的地位。

愛發(fā)科費恩斯(南京)儀器有限公司成立于202311月,創(chuàng)辦理念是為一.L的商業(yè)產(chǎn)品提供頂.J的創(chuàng)新市場營銷和售后服務。作為ULVAC-PHI在中國區(qū)域的子公司,負責PHI產(chǎn)品在中國的銷售和售后服務。主要客戶包括清華大學,復旦大學,上海交通大學,南京大學,西安交通大學,廈門大學,山東大學,吉林大學,華南理工大學,中南大學等國內(nèi)知.M高校和科研院所。在全國各地都有銷售合作伙伴,能夠為您提供全.F位的服務。技術專員具備多年超高真空和精密電子分析儀器的使用經(jīng)驗,致力于為合作伙伴提供最.J的產(chǎn)品和服務,以實現(xiàn)最.D的效益。


表面分析儀器

價格區(qū)間 面議 儀器種類 飛行時間
應用領域 化工,地礦,能源,電子/電池,綜合

特征

良好的多功能TOF-SIMS具有更強大的微區(qū)分析能 力,更加出色的分析精度


飛行時間二次離子質(zhì)譜儀


較新一代 TRIFT 質(zhì)量分析器,更好的質(zhì)量分辨率 

適用于絕緣材料的無人值守自動化多樣品分析 

D特的離子束技術 

平行成像 MS/MS 功能,助力有機大分子結構分析 

多功能選配附件

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TRIFT分析器適用于各種形狀的樣品 

寬帶通能量+寬立體接收角度


寬帶通能量、寬立體接受角-適用于 各種形貌樣品分析

主離子束激發(fā)的二次離子會以不同角度和能量從樣品表面飛 出,特別是對于有高度差異和形貌不規(guī)則的樣品,即使相同 的二次離子在分析器中會存在飛行時間上的差異,因此導致 質(zhì)量分辨率變差,并對譜峰形狀和背景產(chǎn)生影響。 TRIFT質(zhì)量分析器可以同時對二次離子發(fā)射角度和能量進行 校正, 保證相同二次離子的飛行時間一致, 所以TRIFT兼顧 了高質(zhì)量分辨率和高檢測靈敏度優(yōu)勢,而且對于不平整樣品 的成像可以減少陰影效應。


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實現(xiàn)高精度分析的一次離子槍

良好的離子束技術 實現(xiàn)更高質(zhì)量分辨

PHI nanoTOF3+ 能夠提供高質(zhì)量分辨和高空間分辨的TOF-SIMS分析 :在高質(zhì)量分辨模式下,其空間分辨率優(yōu)于500 nm ;在高 空間分辨模式下,其空間分辨模式優(yōu)于50 nm。通過結合高強度離子源、高精度脈沖組件和高分辨率質(zhì)量分析器,可以實現(xiàn)低 噪聲、高靈敏度和高質(zhì)量分辨率的測量 ;在這兩種模式下,只需幾分鐘的測試時間,均可完成采譜分析。

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前所未見的無人值守TOF-SIMS自動化多樣品分析 -適用于絕緣材料

PHI nanoTOF3+搭載全新開發(fā)的自動化多樣品分析功能,程序可根據(jù) 樣品導電性自動調(diào)整分析時所需的高度與樣品臺偏壓, 可以對包括 絕緣材料在內(nèi)的各類樣品進行無人值守自動化TOF-SIMS分析。 整個分析過程非常簡單, 只需三步即可對多個樣品進行表面或深度 分析 :①在進樣室拍攝樣品臺照片 ;②在進樣室拍攝的照片上指。定 分析點 ;③按下分析鍵,設備自動開始分析。 過去,必須有熟練的操作人員專門操作儀器才能進行TOF-SIMS分析 ; 現(xiàn)在,無論操作人員是否熟練,都可以獲得高質(zhì)量的分析數(shù)據(jù)

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標配自動化傳樣系統(tǒng)

PHI nanoTOF3+配置了在XPS上表現(xiàn)優(yōu)異的全自動樣品傳送系 統(tǒng) :最大樣品尺寸可達100mmx100 mm, 而且分析室標配內(nèi)置 樣品托停放裝置 ;結合分析序列編輯器(Queue Editor),可 以實現(xiàn)對大量樣品的全自動連續(xù)測試。

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采用新開發(fā)的脈沖氳離子槍獲得 zhuan利的自動荷電雙束中和技術

TOF-SIMS測試的大部分樣品為絕緣樣品,而絕緣樣品表面 通常有荷電效應。PHI nanoTOF3+ 采用自動荷電雙束中和 技術,通過同時發(fā)射低能量電子束和低能量氳離子束,可 實現(xiàn)對任何類型和各種形貌的絕緣材料的真正自動荷電中 和,無需額外的人為操作。

 ·需要選配Ar離子qiang


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遠程訪問實現(xiàn)遠程控制儀器

PHI nanoTOF3+允許通過局域網(wǎng)或互聯(lián)網(wǎng)訪問儀器。 只需將樣品臺放入進樣室,就可以對進樣、換樣、測試和分析等所有操作進行遠程控制。我們的專業(yè)人員可以對儀器進行遠程診斷

*如需遠程診斷,請聯(lián)系我們的客戶服務人員。

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從截面加工到截面分析: 只需一個離子源即可完成

標配離子槍FIB(Focused lon Beam)功能

在PHI nanoTOF3+中, 液態(tài)金屬離子qiang/

具備FIB功能, 可以使用單個離子槍對樣品進行 橫截面加工和橫截面TOF-SIMS分析。通過操 作計算機, 可以快速輕松地完成從FIB處理 到TOF-SIMS分析的全過程。此外,可在冷卻 條件下進行FIB加工。 在選配Ga源進行FIB加工時,可以獲得FIB加 工區(qū)域的3D影像 ;Ga源還可以作為第二分析 源進行TOF-SIMS分析。

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通過平行成像MS/MS進行分子結構分析[選配]

MS/MS平行成像 同時采集MS1/MS2數(shù)據(jù)(Z利)

TOF- SIMS分析

在TOF-SIMS測試中,MS1質(zhì)量分析分析器接收從樣品表面 產(chǎn)生的所有二次離子碎片,對于質(zhì)量數(shù)接近的大分子離子, MS1譜圖難以區(qū)分。通過安裝串聯(lián)質(zhì)譜MS2,對于特定離子 進行碰撞誘導解離生產(chǎn)特征離子碎片,MS2譜圖可以實現(xiàn) 對分子結構的進一步鑒定。

PHI nanoTOF3+具備串聯(lián)質(zhì)譜MS/MS平行成像功能, 可以 同時獲取分析區(qū)域的MS1和MS2數(shù)據(jù),為有機大分子結構解 析提供了強有力的工具。

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