推拉力測試機是用于微電子封裝和PCBA電子組裝制造及其失效分析領域的專用動態(tài)測試儀器，具有測試動作迅速、準確、適用面廣的特點。適用于半導體IC封裝測試、LED封裝測試、光電子器件封裝測試、TO封裝測試，IGBT功率模塊封裝測試，PCBA電子組裝測試、汽車電子、航天、JUN工等等。亦可用于各種電子分析及研究單位失效分析領域以及各類院校教學和研究。

設備特點

1.所有傳感器采用高速動態(tài)傳感及高速數(shù)據(jù)采集系統(tǒng)，確保測試數(shù)據(jù)的準確無誤。

2.采用公司*研發(fā)的高分辨率(24 BitPlus超高分辨率)的數(shù)據(jù)采集系統(tǒng)。

3.采用公司安全限位及安全限速技術，讓操作得心應手。

4.采用公司智能燈光控制與調節(jié)系統(tǒng)，減少光源對視力的損傷。

5.標配高清觀察顯微鏡，減少人員視覺疲勞。

6.雙搖桿四向操作及人性化的軟件配置使操作簡單、方便。

7.結合人體學的*設計，讓使用人員更加舒適。

8.設備保護措施，避免因人員誤操作對設備的損壞。

9.強大的研發(fā)實力，根據(jù)客戶的需求提供訂制化產(chǎn)品。

10.貼心的售后服務，讓使用人員無后顧之憂。

測試參數(shù)

設備型號：LB-8100A

測試精度：傳感器精度±0.003%；綜合測試精度±0.25%

測試范圍：根據(jù)客戶產(chǎn)品配置不同量程測試模塊

工作方式：推針及拉針180度垂直與測試產(chǎn)品接觸，確保數(shù)據(jù)的準確性

傳感器更換方式：手動更換測試模組

操作系統(tǒng)：控制系統(tǒng)+Windows操作界面

平臺夾具：機臺可共用各種夾具，夾具可360度旋轉

X軸行程：75mm

X軸分辨率：+/-0.002mm

Y軸行程：75mm

Y軸分辨率：+/-0.002mm

Z軸行程：80mm

Z軸分辨率：+/-0.001mm

電源：220V±5%

功率：300W(MAX)

外型尺寸：長：500mm寬：550mm高：440mm

重量：80kg