陶瓷介電常數(shù)介質(zhì)損耗儀

陶瓷介電常數(shù)介質(zhì)損耗儀

一.儀器的特點：

1.優(yōu)化的測試電路設計使殘值更小

2.高頻信號采用數(shù)碼調(diào)諧器和頻率鎖定技術

3.LED 數(shù)字讀出品質(zhì)因數(shù)，手動/自動量程切換

4.自動掃描被測件諧振點，標頻單鍵設置和鎖定，大大提高測試速度

二.作為新一代的通用、多用途、多量程的阻抗測試儀器，測試頻率上限達到目前國內(nèi)高的160MHz。

1 雙掃描技術 - 測試頻率和調(diào)諧電容的雙掃描、自動調(diào)諧搜索功能。

2 雙測試要素輸入 - 測試頻率及調(diào)諧電容值皆可通過數(shù)字按鍵輸入。

3 雙數(shù)碼化調(diào)諧 - 數(shù)碼化頻率調(diào)諧，數(shù)碼化電容調(diào)諧。

4 自動化測量技術 -對測試件實施 Q 值、諧振點頻率和電容的自動測量。

5 全參數(shù)液晶顯示 – 數(shù)字顯示主調(diào)電容、電感、 Q 值、信號源頻率、諧振指針。

6 DDS 數(shù)字直接合成的信號源 -確保信源的高葆真，頻率的高精確、幅度的高穩(wěn)定。

7 計算機自動修正技術和測試回路優(yōu)化 —使測試回路 殘余電感減至低， Q 讀數(shù)值在不同頻率時要加以修正的困惑。

8.標準配置：

1）高配Q表 一只  2）試驗電極  一只 （c類）3）電感      一套（9只）4）電源線    一條5）說明書    一份合格證  6）  一份保修卡    一份

三.電離損耗（又稱游離損耗）是由氣體引起的，含有氣孔的固體介質(zhì)在外加電場強度超過氣孔氣體電離所需要的電場強度時，由于氣體的電離吸收能量而造成指耗，這種損耗稱為電離損耗。

四.結構損耗

1.在高頻電場和低溫下，有一類與介質(zhì)內(nèi)鄰結構的緊密度密切相關的介質(zhì)損耗稱為結構損耗。

2.試驗表明結構緊密的晶體成玻璃體的結構損耗都很小，但是當某此原因使它的內(nèi)部結構松散后。

3.結構耗就會大大升高。

五.宏觀結構不均勾性的介質(zhì)損耗

1. 工程介質(zhì)材料大多數(shù)是不均勻介質(zhì)。(例如陶瓷材料就是如此，它通常包含有晶相、玻璃相和氣相，各相在介質(zhì)中是統(tǒng)計分布口。

2. 由于各相的介電性不同，有可能在兩相間積聚了較多的自由電荷使介質(zhì)的電場分布不均勻，造成局部有較高的電場強度而引起了較高的損耗.