原位XRD電化學(xué)池/單室全四氟光電化學(xué)池（相對(duì)密封） 型號(hào)：C026-1

單室全四氟光電化學(xué)池（密封） 型號(hào)：C026-2

單室全四氟光電化學(xué)池（相對(duì)密封，支架型） 型號(hào)：C026-3

單室全四氟光電化學(xué)池（密封，支架型） 型號(hào)：C026-4

全四氟 H 型可換膜光電化學(xué)池（相對(duì)密封） 型號(hào)：C027-1

全四氟 H 型可換膜光電化學(xué)池（密封） 型號(hào)：C027-2

全四氟 H 型可換膜光電化學(xué)池 型號(hào)：C032-2
原位XRD電化學(xué)池是將電化學(xué)實(shí)驗(yàn)與X射線衍射技術(shù)相結(jié)合的裝置。工作原理是在電化學(xué)過程中，通過對(duì)電極材料施加一定的電壓或電流，使電極材料發(fā)生氧化還原反應(yīng)。同時(shí)，利用X射線對(duì)電極材料進(jìn)行照射，由于X射線與晶體結(jié)構(gòu)的相互作用，會(huì)產(chǎn)生特定的衍射圖案。  

原位XRD電化學(xué)池的特點(diǎn)：  

1.實(shí)時(shí)監(jiān)測(cè)  

能夠?qū)崟r(shí)監(jiān)測(cè)電極材料在電化學(xué)過程中的晶體結(jié)構(gòu)變化，為研究材料的電化學(xué)性能提供了直接的證據(jù)。通過連續(xù)的XRD測(cè)量，可以獲得材料在不同電位、電流或時(shí)間下的結(jié)構(gòu)信息，從而深入了解電化學(xué)過程中的反應(yīng)機(jī)制。  

2.非破壞性分析  

是一種非破壞性的分析方法，不會(huì)對(duì)電極材料造成損傷。這使得可以在同一電極材料上進(jìn)行多次實(shí)驗(yàn)，提高了實(shí)驗(yàn)的可靠性和重復(fù)性。  

3.高分辨率  

XRD技術(shù)具有高分辨率的特點(diǎn)，能夠分辨出微小的晶體結(jié)構(gòu)變化?？梢詸z測(cè)到電極材料在電化學(xué)過程中的晶格參數(shù)變化、相轉(zhuǎn)變等，為研究材料的結(jié)構(gòu)與性能關(guān)系提供了詳細(xì)的信息。  

4.多功能性  

可以與其他分析技術(shù)相結(jié)合，如電化學(xué)阻抗譜（EIS）、拉曼光譜等，實(shí)現(xiàn)對(duì)電極材料的多方面分析。這種多功能性為深入研究材料的電化學(xué)性能提供了更全面的手段。  

原位XRD電化學(xué)池的應(yīng)用領(lǐng)域：  

1.電池研究  

在電池研究中，可以用于研究鋰離子電池、鈉離子電池、鉀離子電池等各種電池體系的電極材料在充放電過程中的結(jié)構(gòu)變化。通過分析電極材料的晶體結(jié)構(gòu)變化，可以了解電池的充放電機(jī)制、容量衰減原因等，為開發(fā)高性能的電池材料提供指導(dǎo)。  

2.超級(jí)電容器研究  

對(duì)于超級(jí)電容器電極材料，可以監(jiān)測(cè)其在充放電過程中的結(jié)構(gòu)變化，研究電極材料的電容特性與結(jié)構(gòu)之間的關(guān)系。這有助于優(yōu)化超級(jí)電容器的性能，提高其能量密度和功率密度。  

3.電催化研究  

在電催化領(lǐng)域，可以用于研究催化劑在電化學(xué)反應(yīng)過程中的結(jié)構(gòu)變化。通過分析催化劑的晶體結(jié)構(gòu)變化，可以了解電催化反應(yīng)的機(jī)制，為設(shè)計(jì)高效的電催化劑提供依據(jù)。  

4.材料科學(xué)研究  

也可以應(yīng)用于材料科學(xué)研究中，如研究材料的相變、晶體生長等過程。通過實(shí)時(shí)監(jiān)測(cè)材料在電化學(xué)過程中的結(jié)構(gòu)變化，可以深入了解材料的結(jié)構(gòu)與性能關(guān)系，為新材料的開發(fā)提供思路。