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表面光電壓JPV\SPV

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公司成立于2021年,是一家注冊在蘇州、具備技術(shù)的非接觸式半導體檢測分析設(shè)備制造商。公司集研發(fā)、設(shè)計、制造、銷售于一體,主要攻克國外壟斷技術(shù),替代進口產(chǎn)品,使半導體材料測試設(shè)備國產(chǎn)化。

主要產(chǎn)品:非接觸式無損方塊電阻測試儀、晶圓方阻測試儀、方阻測試儀、硅片電阻率測試儀、渦流法高低電阻率分析儀、晶錠電阻率分析儀、渦流法電阻率探頭和PN探頭測試儀、遷移率(霍爾)測試儀、少子壽命測試儀,晶圓、硅片厚度測試儀、表面光電壓儀JPV\SPV、汞CV、ECV。碳化硅、硅片、氮化鎵、襯底和外延廠商提供測試和解決方案。

憑借*的技術(shù)和豐富的產(chǎn)品設(shè)計經(jīng)驗申請各項知識產(chǎn)權(quán)20余項,已發(fā)展成為中國大陸少數(shù)具有一定國際競爭力的半導體專用設(shè)備提供商,產(chǎn)品得到眾多國內(nèi)外主流半導體廠商的認可,并取得良好的市場口碑。





晶圓電阻率測試儀,硅片電阻率測試儀,渦流法低電阻率分析儀,晶錠電阻率分析儀,遷移率測試儀,少子壽命測試儀

價格區(qū)間 面議 應用領(lǐng)域 電子/電池,電氣,綜合

表面光電壓法的基本原理:

表面光電壓法(Surface Photovoltage Method,簡稱SPV法)是通過測量由于光照在半導體材料表面產(chǎn)生的表面電壓來獲得少數(shù)載流子擴散長度的方法。其原理是:用能量大于半導體材料禁帶寬度的單色光照射在半導體材料表面,在其內(nèi)部產(chǎn)生電子-空穴對,受濃度梯度驅(qū)動擴散至半導體材料近表面空間電荷區(qū)的電子和空穴將被自建電場分離,形成光生電壓,即表面光電壓JPV\SPV。

表面光電壓法的應用和優(yōu)勢:

SPV法是表征半導體材料少子擴散長度的主要方法,具有以下優(yōu)點:

是一種穩(wěn)態(tài)方法,與時間無關(guān),避免了體內(nèi)和表面復合對測試結(jié)果的影響。

一般情況下,表面復合過程不影響少子擴散長度的測試結(jié)果,表面復合速率只對表面光電壓信號強度產(chǎn)生影響,因此無須特殊處理材料的表面。

表面光電壓JPV\SPV是一種無接觸的測試方法,測試成本低、易于操作、不容易受到干擾,并且可以實施面掃描(mapping)。



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