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B系列 Bowman XRF高精度鍍層測厚儀

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優(yōu)尼康科技有限公司成立于 2012 年。在香港、上海、東莞、天津、成都和蘇州設有分支機構或辦公室。從成立伊始一直專注于精密薄膜測量領域,為半導體、面板等高科技企業(yè)和高校及研發(fā)中心提供精密測量設備與解決方案。我們秉承“真誠,專注,信賴”的理念,用我們真誠的態(tài)度與行動服務客戶,專注于為客戶提供好品質、適合用戶需求的產品,與每一位客戶建立互相信賴的合作伙伴關系。我們真誠希望與大家共同成長,共同發(fā)展,一起創(chuàng)造美好的明天。







主動式減震臺,Profilm3D光學輪廓儀,Filmetrics膜厚測量儀,薄膜厚度測量儀,粗糙度測量,輪廓測量,橢偏儀

分析含量范圍 5層,每層10個元素 價格區(qū)間 50萬-100萬
能量分辨率 190eV 行業(yè)專用類型 電子產品
儀器種類 臺式/落地式 應用領域 電子/電池,道路/軌道/船舶,汽車及零部件,電氣
元素分析范圍 13號鋁元素到92號鈾元素

Bowman B系列 XRF高精度鍍層測量系統(tǒng)





Bowman B系列 XRF高精度鍍層測量系統(tǒng)產品介紹:

Bowman B系列 XRF高精度鍍層測量系統(tǒng)是博曼的基礎機型和常規(guī)機型。該型號采用自上而下的測量方式。配備固定樣品臺可實現手動操作。測量時將樣品放入樣品倉,通過觀察視頻圖像來對準屏幕上十字線內的位置來完成測量。



Bowman B系列 XRF高精度鍍層測量系統(tǒng)優(yōu)勢:

XRF系統(tǒng)

高分辨率的固態(tài)探測器具有良好的元素分辨能力,無需二次濾波器。峰位長時間保持穩(wěn)定,無需頻繁地進行再校準。與其他同類型設備相比,X射線管和探測器的閉合耦合幾何布局光子數有明顯提升。

直觀的用戶界面

Bowman配套軟件將為儀器的性能提供支持。Bowman XR F高精度鍍層測量系統(tǒng)的分析數據擁有強大的軟件作為支持,該軟件將擁有直觀的用戶界面,操作簡單友好。測量數據可通過批次號進行檢索,報告可一鍵生成。用戶可以無限制地創(chuàng)建新的應用程序和報告格式,所有結果自動保存到電腦數據庫,所有用戶級別都可以設置密碼保護。

廣泛的鍍層厚度測量范圍

BowmanXRF高精度鍍層測量系統(tǒng)可對13號鋁元素到92號鈾元素進行高精度測量分析。

  • 單層鍍層:Au,Ag,Ni,Cu,Sn,Zn等

  • 合金鍍層:ZnNi合金,SnPb合金等鍍層厚度和成分比例同時分析

  • 雙層鍍層:Au/Ni/Cu,Sn/Ni/Cu,Cr/Ni/Fe等

  • 三層鍍層:Au/Pd/Ni/Cu等

  • 至多可分析5層鍍層

  • 可同時分析25種元素成分

  • 可分析電鍍溶液中的金屬離子濃度

  • 可分析ROHS有害元素


Bowman XRF 高精度鍍層測量系統(tǒng)服務支持:

Bowman為用戶提供的XRF技術支持和服務。目前,除美國芝加哥總部外,Bowman已在全球四大洲二十余個國家建立了辦事處或機構。博曼始終致力于通過提供現場技術支持服務,從而成就用戶。Bowman在中國上海設有演示應用中心,培訓中心及備品配件庫,在深圳,杭州,西安設有辦事處。有能力為客戶提供貼心的鍍層厚度檢測方案和快速相應的售后服務。



Bowman B系列 XRF高精度鍍層測量系統(tǒng)配置:

Bowman B系列 XRF高精度鍍層測量系統(tǒng)標準配置包括一個固定準直器,一個固定焦距的相機,固態(tài)PIN探測器和質量可靠的微聚焦X射線管。與其他型號一樣,該型號也可以升級為包括多個準直器,可變焦距相機和SDD探測器。



Bowman B系列 XRF高精度鍍層測量系統(tǒng)測量原理:

?Bowman B系列 XRF高精度鍍層測量系統(tǒng)利用X射線熒光原理測量鍍層和成分。當高能X射線照射金屬薄膜表面時,入射光子擊出薄膜或基底材料原子的內層電子形成空穴。外層電子躍遷填補空穴時釋放特征X射線熒光,其能量與元素的原子序數一一對應,通過熒光的能量我們可以知道樣品中存在哪些元素,通過XRF的強度我們可以分析獲得樣品的厚度和每個元素的成分。

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Bowman B系列 XRF高精度鍍層測量系統(tǒng)行業(yè)應用:

半導體

線路板

電鍍

汽車

航空航天

首飾/珠寶

連接器

緊固件

電子元器件

引線框架

管道

切削工具



Bowman B系列 XRF高精度鍍層測量系統(tǒng)產品參數:

元素測量范圍:

13號鋁元素到92號鈾元素

X射線管:

50W(50kV和1mA)微聚焦鎢靶射線管

探測器:

準直:硅固態(tài)探測器,分辨率為190eV或更高
光學元件:大窗口硅固態(tài)探測器,分辨率為190eV或更高

分析能力:

5層(4層+基礎),每層10個元素。同時分析多達25種元素的成分

更多參數可聯系我們獲取






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