KURATECA 被動式減震臺 參考價(jià)：面議
KURATECA HS華山系列被動式減震臺采用：半膜片式空氣彈簧、整體焊接支架、鐵磁不銹鋼臺面（同OTP臺面）的氣浮隔振光學(xué)平臺，整體高度800mm，分為氣浮式...
Unicorn優(yōu)尼康 低頻主動式消磁器 參考價(jià)：面議
UNICORN α500 低頻消磁系統(tǒng)（EMICancelingSystem，又稱消磁器），DC與AC雙模式主動消磁器，采用高精度純直流測量/反饋/控制電路，適...
KURATECA 桌上型主動式隔振臺 參考價(jià)：面議
KURATECA EST-58-450 桌上型主動式隔振臺來自日本馬自達(dá)集團(tuán)下全資子公司KURATECA，是一塊靈活易用的桌上型主動隔振臺，通過針對低頻振動進(jìn)行...
KURATECA 主動式防震臺 參考價(jià)：面議
KURATECA LS-1200 主動式防震臺為電子顯微鏡和類似的大型研究儀器提供主動隔振性能(從0.5Hz開始)。KURATECA LS-1200 在LS-8...
KURATECA 主動式防震臺 參考價(jià)：面議
KURATECA LS-800 主動式防震臺為電子顯微鏡和類似的大型研究儀器提供主動隔振性能(從0.5Hz開始)。KURATECA LS-800 主動式防震臺通...
KURATECA 主動式防震臺 參考價(jià)：面議
KURATECA LS-400 主動式防震臺為電子顯微鏡和類似的大型研究儀器提供主動隔振性能(從0.5Hz開始)。KURATECA LS-400 主動式防震臺廣...
KURATECA 桌上型主動式隔振臺 參考價(jià)：面議
KURATECA MINI 系列桌上型主動式隔振臺來自日本馬自達(dá)集團(tuán)下全資子公司KURATECA，是一款靈活易用的桌上型主動隔振臺，通過針對低頻振動進(jìn)行準(zhǔn)確補(bǔ)償...
KURATECA 主動式防震系統(tǒng) 參考價(jià)：面議
KURATECA EST-L 主動式防震臺來自日本馬自達(dá)集團(tuán)下全資子公司KURATECA，有著超過30年歷史，且在這個領(lǐng)域上有著相當(dāng)豐富的經(jīng)驗(yàn)。一些靈敏度很高的...
Nanosurf 真空環(huán)境用原子力顯微鏡 參考價(jià)：面議
Nanosurf AFSEM 真空環(huán)境用原子力顯微鏡由GETec與Nanosurf提供,讓您能輕松地聯(lián)合兩種功能強(qiáng)大的分析工具，原子力顯微鏡(AFM)與掃描電子...
Nanosurf 自動力譜成像原子力顯微鏡 參考價(jià)：面議
Nanosurf Flex-ANA 自動力譜成像原子力顯微鏡是基于原子力顯微鏡納米力學(xué)分析的自動化解決方案。它旨在以直觀和自動化的方式通過力譜和力圖研究多種或大...
KLA 探針式表面輪廓儀 參考價(jià)：面議
KLA D500 探針式表面輪廓儀的光學(xué)杠桿傳感器技術(shù)提供高分辨率、較大的高度測量范圍和準(zhǔn)確的微力控制。探針的接觸式測量技術(shù)的優(yōu)點(diǎn)是直接測量，與材料特性無關(guān)。多...
KLA 探針式表面輪廓儀 參考價(jià)：面議
KLA D600 探針式表面輪廓儀采用光學(xué)杠桿傳感器技術(shù)提供高分辨率、較大的高度測量范圍和準(zhǔn)確的微力控制。探針的接觸式測量技術(shù)的優(yōu)點(diǎn)是直接測量，與材料特性無關(guān)。...
KLA 探針式臺階儀 參考價(jià)：面議
KLA P-7 探針式臺階儀是KLA公司的探針式臺階儀系統(tǒng)。KLA P-7 探針式表面輪廓儀建立在P-17臺式探針輪廓分析系統(tǒng)的成功基礎(chǔ)之上。它保持了P-17技...
KLA 探針式臺階儀 參考價(jià)：面議
KLA P-17 探針式臺階儀是P系列探針式臺階儀的產(chǎn)品。該系統(tǒng)具備可編程掃描平臺、低噪聲電子分辨率，垂直范圍內(nèi)實(shí)現(xiàn)高分辨率掃描，能夠覆蓋樣品表面整個區(qū)域。KL...
KLA 全自動探針式表面輪廓儀 參考價(jià)：面議
KLA P-170 全自動探針式表面輪廓儀一款盒對盒型臺階儀，具有KLA P-17 探針式表面輪廓儀的臺式系統(tǒng)測量性能和HRP260系統(tǒng)經(jīng)生產(chǎn)驗(yàn)證的處理程序。該...
KLA 光學(xué)輪廓儀 參考價(jià)：面議
KLA Profilm3D 是一款3D白光干涉輪廓儀。KLA Profilm3D 光學(xué)輪廓儀使用垂直干涉掃描(WLI)技術(shù)與相位干涉(PSI)技術(shù)。以較低的價(jià)格...
KLA 表面光學(xué)輪廓儀 參考價(jià)：面議
KLA Zeta-388光學(xué)輪廓儀是非接觸式三維表面形貌測量系統(tǒng)。該系統(tǒng)在Zeta-300光學(xué)輪廓儀的基礎(chǔ)上，增加了用于全自動測量的機(jī)械手臂操作系統(tǒng)。Zeta-...
KLA 白光共聚焦顯微鏡 參考價(jià)：面議
KLA Zeta-20白光共聚焦顯微鏡基于ZDot技術(shù)而來。Zeta-20 白光共聚焦顯微鏡可以對大部分材料和結(jié)構(gòu)進(jìn)行成像分析，從光滑到高粗糙度、低反射率到高反...
Film Sense 多波長橢偏儀 參考價(jià)：面議
Film Sense FS-8多波長橢偏儀采用壽命長 LED 光源和非移動 式部件橢偏探測器，可在操作簡單的緊湊型橢偏儀中實(shí)現(xiàn)可靠地薄膜測量。大多數(shù)厚度 0–1...
Filmetrics 自動光反射膜厚測量儀 參考價(jià)：1
Filmetrics F60-t 自動光反射膜厚儀就像我們的F50白光干涉膜厚測量儀產(chǎn)品一樣。主要測繪薄膜厚度和折射率。但它增加了許多用于生產(chǎn)環(huán)境的功能。這些功...
Filmetrics 單點(diǎn)光學(xué)膜厚測量儀 參考價(jià)：面議
無論您是想要知道薄膜厚度、光學(xué)常數(shù)，還是想要知道材料的反射率和透過率，F(xiàn)ilmetrics F20 單點(diǎn)光學(xué)膜厚測量儀都能滿足您的需要。僅需花費(fèi)幾分鐘完成安裝，...
Filmetrics 薄膜厚度測量儀 參考價(jià)：面議
Filmetrics F10-HC 薄膜厚度測量儀是以Filmetrics F20 白光干涉儀膜厚儀為基礎(chǔ)所發(fā)展而來。F10-HC 薄膜厚度測量系統(tǒng)接觸式探頭大...
Filmetrics 薄膜厚度測量儀 參考價(jià)：面議
Filmetrics F10-AR 薄膜厚度測量儀是操作簡單且高性價(jià)比的減反射與硬涂層檢測設(shè)備。Filmetrics F10-AR 薄膜厚度測量儀使得自動測試眼...
Filmetrics 薄膜厚度測量儀 參考價(jià)：面議
Filmetrics F10-RT 薄膜厚度測量儀以真空鍍膜為設(shè)計(jì)目標(biāo)，F(xiàn)10-RT 薄膜厚度測量儀只要單擊鼠標(biāo)即可獲得反射和透射光譜。 只需簡單操作。用戶就能...(空格分隔,最多3個,單個標(biāo)簽最多10個字符)
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