Filmetrics 光學(xué)厚膜測(cè)厚儀 參考價(jià)：面議
Filmetrics F3-sX 光學(xué)厚膜測(cè)厚儀利用光譜反射原理，可以測(cè)量厚度達(dá)到3毫米的眾多半導(dǎo)體及介電層薄膜。相對(duì)于較薄的膜層，這種厚膜的表面較粗糙且不均勻...
HORIBA 研究級(jí)橢圓偏振光譜儀 參考價(jià)：面議
HORIBA UVISEL Plus 相位調(diào)制型橢圓偏振光譜儀基于新版的電子設(shè)備，數(shù)據(jù)處理和高速單色儀，F(xiàn)astacq技術(shù)能夠?yàn)橛脩籼峁└叻直婕翱焖俚臄?shù)據(jù)采集。...
HORIBA 橢圓偏振光譜儀 參考價(jià)：面議
HORIBA Smart SE 橢圓偏振光譜儀是一種薄膜測(cè)量工具。僅需簡(jiǎn)單的幾個(gè)按鈕，幾秒鐘內(nèi)即可自動(dòng)完成樣品測(cè)量和分析，并提供完整的薄膜特性分析報(bào)告，包括薄膜...
HORIBA 橢圓偏振光譜儀 參考價(jià)：面議
HORIBA Auto SE 橢圓偏振光譜儀是一種新型薄膜測(cè)量工具。僅需簡(jiǎn)單的幾個(gè)按鈕，幾秒鐘內(nèi)即可自動(dòng)完成樣品測(cè)量和分析，并提供完整的薄膜特性分析報(bào)告，包括薄...
Filmetrics 光學(xué)膜厚測(cè)量?jī)x 參考價(jià)：面議
Filmetrics F40 薄膜厚度測(cè)量?jī)x的光譜測(cè)量系統(tǒng)讓用戶簡(jiǎn)單快速地測(cè)量薄膜的厚度和光學(xué)常數(shù)，通過(guò)對(duì)待測(cè)膜層的上下界面間反射光譜的分析，幾秒鐘內(nèi)就可測(cè)量結(jié)...
Filmetrics 光學(xué)膜厚測(cè)量?jī)x自動(dòng)化MAPPING 參考價(jià)：面議
Filmetrics F50 自動(dòng)Mapping膜厚測(cè)量?jī)x依靠光譜測(cè)量系統(tǒng)，可以簡(jiǎn)單且快速地獲得直徑450毫米的樣品薄膜的厚度分布圖。采用r-θ極坐標(biāo)移動(dòng)平臺(tái)，...
Filmetrics 光學(xué)膜厚測(cè)量?jī)x 參考價(jià)：1
Filmetrics F54 白光干涉膜厚測(cè)量?jī)x能以一個(gè)電動(dòng)R-Theta平臺(tái)自動(dòng)移動(dòng)到選定的測(cè)量點(diǎn)以每秒測(cè)繪兩個(gè)點(diǎn)的速度快速的測(cè)繪薄膜厚度, 樣品直徑達(dá)450...
Filmetrics 光學(xué)膜厚測(cè)量?jī)x 參考價(jià)：面議
Filmetrics F32 光反射式膜厚儀特殊的光譜分析系統(tǒng)采用半寬的3u rack- mount底盤，加上附加的分光計(jì)，可達(dá)到四個(gè)不同的位置(EXR和UVX...
Filmetrics 自動(dòng)測(cè)量光學(xué)膜厚儀 參考價(jià)：面議
Filmetrics F54-XYT-300 自動(dòng)測(cè)量光學(xué)膜厚儀借助F54-XYT-300的光譜反射系統(tǒng)，可以快速輕松地測(cè)量200 x 200mm樣品的薄膜厚度...
Filmetrics 自動(dòng)光學(xué)膜厚測(cè)量?jī)x 參考價(jià)：面議
Filmetrics F54-XY-200 自動(dòng)光學(xué)膜厚測(cè)量?jī)x借助光譜反射系統(tǒng)，可以測(cè)量尺寸達(dá)200 x 200mm樣品的薄膜厚度電動(dòng)XY工作臺(tái)自動(dòng)移動(dòng)到選定的...
Filmetrics F20 白光干涉測(cè)厚儀儀 參考價(jià)：面議
Filmetrics F20 白光干涉膜厚測(cè)量?jī)x是一款高精度、多功能的測(cè)量設(shè)備，能夠快速測(cè)定薄膜厚度、光學(xué)常數(shù)、反射率和透過(guò)率等特性。其非接觸式測(cè)量方式適合各種...
KLA 四探針電阻率測(cè)量?jī)x 參考價(jià)：面議
KLA R54 四探針電阻率測(cè)量?jī)x是KLA的電阻率測(cè)量產(chǎn)品。從半導(dǎo)體制造到實(shí)現(xiàn)可穿戴技術(shù)所需的柔性電子產(chǎn)品，薄膜電阻監(jiān)控對(duì)于任何使用導(dǎo)電薄膜的行業(yè)都相當(dāng)重要。K...
KLA 四探針電阻率測(cè)量?jī)x 參考價(jià)：面議
KLA R50 四探針電阻率測(cè)繪系統(tǒng)是KLA電阻測(cè)試系列的產(chǎn)品。電阻測(cè)量和監(jiān)控對(duì)于任何使用導(dǎo)電薄膜的行業(yè)都相當(dāng)重要，從半導(dǎo)體制造到可穿戴技術(shù)所需的柔性電子產(chǎn)品。...
KLA 納米壓痕儀 參考價(jià)：59
KLA iNano 納米壓痕儀可輕松測(cè)量薄膜、涂層和少量材料。該儀器準(zhǔn)確、靈活，并且用戶友好，可以提供壓痕、硬度、劃痕和通用納米級(jí)測(cè)試等多種納米級(jí)機(jī)械測(cè)試。該儀...
KLA 納米壓痕儀 參考價(jià)：59
KLA iMicro 納米壓痕儀可輕松測(cè)量硬涂層，薄膜和少量材料。該儀器準(zhǔn)確、靈活，并且用戶友好，可以提供壓痕、硬度、劃痕和通用納米級(jí)測(cè)試等多種納米級(jí)機(jī)械測(cè)試。...
Bowman XRF高精度鍍層測(cè)厚儀 參考價(jià)：面議
Bowman B系列 XRF高精度鍍層測(cè)量系統(tǒng)是博曼的基礎(chǔ)機(jī)型和常規(guī)機(jī)型。該型號(hào)采用自上而下的測(cè)量方式。配備固定樣品臺(tái)可實(shí)現(xiàn)手動(dòng)操作。測(cè)量時(shí)將樣品放入樣品倉(cāng)，通...
Bowman XRF高精度鍍層測(cè)量?jī)x 參考價(jià)：面議
Bowman博曼 K系列 XRF高精度涂層測(cè)量系統(tǒng)，具備12英寸×12英寸的測(cè)量區(qū)域，適用于多種樣品檢測(cè)。
HORIBA 激光粒徑分布分析儀 參考價(jià)：面議
HORIBA LA-960V2激光粒徑分布分析儀秉承HORIBA 一貫的設(shè)計(jì)傳統(tǒng)，其直觀的軟件、附件和高效的性能，能解決廣泛的應(yīng)用問(wèn)題。
HORIBA 離心式納米粒度分析 參考價(jià)：面議
HORIBA CN-300離心式納米粒度分析儀能實(shí)現(xiàn)對(duì)未稀釋和稀釋樣品粒徑分布的高精度測(cè)量。顆粒的粒度是按粒徑大小分類后測(cè)量的，這是離心分離法的關(guān)鍵特點(diǎn)。因此，...
HORIBA 納米顆粒分析儀 參考價(jià)：面議
一臺(tái)簡(jiǎn)潔小巧的裝置能同時(shí)實(shí)現(xiàn)對(duì)納米粒子三項(xiàng)參數(shù)的表征：粒徑、Zeta電位和分子量。納米技術(shù)的研發(fā)是一個(gè)持續(xù)不斷的過(guò)程，在分子和原子水平上控制物質(zhì)以獲得新、好、優(yōu)...
TABLE STABLE主動(dòng)式隔震系統(tǒng) 防震臺(tái) 參考價(jià)：面議
TABLE STABLE主動(dòng)式隔震系統(tǒng) 防震臺(tái) 主動(dòng)式減震方案，應(yīng)用超乎你想象 更多TABLE STABLE 主動(dòng)式隔震系統(tǒng)AVI-400可參照詳情
HERZ TS系列 主動(dòng)式隔震系統(tǒng) 防振臺(tái) 參考價(jià)：面議
HERZ TS系列 主動(dòng)式隔震系統(tǒng) 防振臺(tái)，主動(dòng)式隔震系統(tǒng)創(chuàng)建一個(gè)穩(wěn)定的測(cè)量環(huán)境。如需了解更多，咨詢。。。
Filmetrics 光學(xué)膜厚測(cè)量?jī)x測(cè)厚儀 參考價(jià)：面議
Filmetrics 光學(xué)膜厚測(cè)量?jī)x測(cè)厚儀嵌入式在線診斷免費(fèi)離線分析軟件精細(xì)的歷史數(shù)據(jù)功能，幫助用戶有效的存儲(chǔ)，重現(xiàn)與繪制測(cè)量結(jié)果
主動(dòng)式防震系統(tǒng) 參考價(jià)：面議
主動(dòng)式防震系統(tǒng)主動(dòng)式防振系統(tǒng)（ AVI）能夠?yàn)榭蒲?、工程和生產(chǎn)過(guò)程所需要的精密儀器提供一個(gè)穩(wěn)定的測(cè)量環(huán)境。。。。(空格分隔,最多3個(gè),單個(gè)標(biāo)簽最多10個(gè)字符)
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