KLA 探針式表面輪廓儀 參考價(jià)：面議
KLA D500 探針式表面輪廓儀的光學(xué)杠桿傳感器技術(shù)提供高分辨率、較大的高度測量范圍和準(zhǔn)確的微力控制。探針的接觸式測量技術(shù)的優(yōu)點(diǎn)是直接測量，與材料特性無關(guān)。多...
KLA 探針式表面輪廓儀 參考價(jià)：面議
KLA D600 探針式表面輪廓儀采用光學(xué)杠桿傳感器技術(shù)提供高分辨率、較大的高度測量范圍和準(zhǔn)確的微力控制。探針的接觸式測量技術(shù)的優(yōu)點(diǎn)是直接測量，與材料特性無關(guān)。...
KLA 探針式臺(tái)階儀 參考價(jià)：面議
KLA P-7 探針式臺(tái)階儀是KLA公司的探針式臺(tái)階儀系統(tǒng)。KLA P-7 探針式表面輪廓儀建立在P-17臺(tái)式探針輪廓分析系統(tǒng)的成功基礎(chǔ)之上。它保持了P-17技...
KLA 探針式臺(tái)階儀 參考價(jià)：面議
KLA P-17 探針式臺(tái)階儀是P系列探針式臺(tái)階儀的產(chǎn)品。該系統(tǒng)具備可編程掃描平臺(tái)、低噪聲電子分辨率，垂直范圍內(nèi)實(shí)現(xiàn)高分辨率掃描，能夠覆蓋樣品表面整個(gè)區(qū)域。KL...
KLA 全自動(dòng)探針式表面輪廓儀 參考價(jià)：面議
KLA P-170 全自動(dòng)探針式表面輪廓儀一款盒對(duì)盒型臺(tái)階儀，具有KLA P-17 探針式表面輪廓儀的臺(tái)式系統(tǒng)測量性能和HRP260系統(tǒng)經(jīng)生產(chǎn)驗(yàn)證的處理程序。該...
KLA 光學(xué)輪廓儀 參考價(jià)：面議
KLA Profilm3D 是一款3D白光干涉輪廓儀。KLA Profilm3D 光學(xué)輪廓儀使用垂直干涉掃描(WLI)技術(shù)與相位干涉(PSI)技術(shù)。以較低的價(jià)格...
KLA 表面光學(xué)輪廓儀 參考價(jià)：面議
KLA Zeta-388光學(xué)輪廓儀是非接觸式三維表面形貌測量系統(tǒng)。該系統(tǒng)在Zeta-300光學(xué)輪廓儀的基礎(chǔ)上，增加了用于全自動(dòng)測量的機(jī)械手臂操作系統(tǒng)。Zeta-...
KLA 白光共聚焦顯微鏡 參考價(jià)：面議
KLA Zeta-20白光共聚焦顯微鏡基于ZDot技術(shù)而來。Zeta-20 白光共聚焦顯微鏡可以對(duì)大部分材料和結(jié)構(gòu)進(jìn)行成像分析，從光滑到高粗糙度、低反射率到高反...
Filmetrics 自動(dòng)光反射膜厚測量儀 參考價(jià)：1
Filmetrics F60-t 自動(dòng)光反射膜厚儀就像我們的F50白光干涉膜厚測量儀產(chǎn)品一樣。主要測繪薄膜厚度和折射率。但它增加了許多用于生產(chǎn)環(huán)境的功能。這些功...
Filmetrics 單點(diǎn)光學(xué)膜厚測量儀 參考價(jià)：面議
無論您是想要知道薄膜厚度、光學(xué)常數(shù)，還是想要知道材料的反射率和透過率，F(xiàn)ilmetrics F20 單點(diǎn)光學(xué)膜厚測量儀都能滿足您的需要。僅需花費(fèi)幾分鐘完成安裝，...
Filmetrics 薄膜厚度測量儀 參考價(jià)：面議
Filmetrics F10-HC 薄膜厚度測量儀是以Filmetrics F20 白光干涉儀膜厚儀為基礎(chǔ)所發(fā)展而來。F10-HC 薄膜厚度測量系統(tǒng)接觸式探頭大...
Filmetrics 薄膜厚度測量儀 參考價(jià)：面議
Filmetrics F10-AR 薄膜厚度測量儀是操作簡單且高性價(jià)比的減反射與硬涂層檢測設(shè)備。Filmetrics F10-AR 薄膜厚度測量儀使得自動(dòng)測試眼...
Filmetrics 薄膜厚度測量儀 參考價(jià)：面議
Filmetrics F10-RT 薄膜厚度測量儀以真空鍍膜為設(shè)計(jì)目標(biāo)，F(xiàn)10-RT 薄膜厚度測量儀只要單擊鼠標(biāo)即可獲得反射和透射光譜。 只需簡單操作。用戶就能...
Filmetrics 光學(xué)厚膜測厚儀 參考價(jià)：面議
Filmetrics F3-sX 光學(xué)厚膜測厚儀利用光譜反射原理，可以測量厚度達(dá)到3毫米的眾多半導(dǎo)體及介電層薄膜。相對(duì)于較薄的膜層，這種厚膜的表面較粗糙且不均勻...
Filmetrics 光學(xué)膜厚測量儀 參考價(jià)：面議
Filmetrics F40 薄膜厚度測量儀的光譜測量系統(tǒng)讓用戶簡單快速地測量薄膜的厚度和光學(xué)常數(shù)，通過對(duì)待測膜層的上下界面間反射光譜的分析，幾秒鐘內(nèi)就可測量結(jié)...
Filmetrics 光學(xué)膜厚測量儀自動(dòng)化MAPPING 參考價(jià)：面議
Filmetrics F50 自動(dòng)Mapping膜厚測量儀依靠光譜測量系統(tǒng)，可以簡單且快速地獲得直徑450毫米的樣品薄膜的厚度分布圖。采用r-θ極坐標(biāo)移動(dòng)平臺(tái)，...
Filmetrics 光學(xué)膜厚測量儀 參考價(jià)：1
Filmetrics F54 白光干涉膜厚測量儀能以一個(gè)電動(dòng)R-Theta平臺(tái)自動(dòng)移動(dòng)到選定的測量點(diǎn)以每秒測繪兩個(gè)點(diǎn)的速度快速的測繪薄膜厚度, 樣品直徑達(dá)450...
Filmetrics 光學(xué)膜厚測量儀 參考價(jià)：面議
Filmetrics F32 光反射式膜厚儀特殊的光譜分析系統(tǒng)采用半寬的3u rack- mount底盤，加上附加的分光計(jì)，可達(dá)到四個(gè)不同的位置(EXR和UVX...
Filmetrics 自動(dòng)測量光學(xué)膜厚儀 參考價(jià)：面議
Filmetrics F54-XYT-300 自動(dòng)測量光學(xué)膜厚儀借助F54-XYT-300的光譜反射系統(tǒng)，可以快速輕松地測量200 x 200mm樣品的薄膜厚度...
Filmetrics 自動(dòng)光學(xué)膜厚測量儀 參考價(jià)：面議
Filmetrics F54-XY-200 自動(dòng)光學(xué)膜厚測量儀借助光譜反射系統(tǒng)，可以測量尺寸達(dá)200 x 200mm樣品的薄膜厚度電動(dòng)XY工作臺(tái)自動(dòng)移動(dòng)到選定的...
Filmetrics F20 白光干涉測厚儀儀 參考價(jià)：面議
Filmetrics F20 白光干涉膜厚測量儀是一款高精度、多功能的測量設(shè)備，能夠快速測定薄膜厚度、光學(xué)常數(shù)、反射率和透過率等特性。其非接觸式測量方式適合各種...
KLA 四探針電阻率測量儀 參考價(jià)：面議
KLA R54 四探針電阻率測量儀是KLA的電阻率測量產(chǎn)品。從半導(dǎo)體制造到實(shí)現(xiàn)可穿戴技術(shù)所需的柔性電子產(chǎn)品，薄膜電阻監(jiān)控對(duì)于任何使用導(dǎo)電薄膜的行業(yè)都相當(dāng)重要。K...
KLA 四探針電阻率測量儀 參考價(jià)：面議
KLA R50 四探針電阻率測繪系統(tǒng)是KLA電阻測試系列的產(chǎn)品。電阻測量和監(jiān)控對(duì)于任何使用導(dǎo)電薄膜的行業(yè)都相當(dāng)重要，從半導(dǎo)體制造到可穿戴技術(shù)所需的柔性電子產(chǎn)品。...
KLA 納米壓痕儀 參考價(jià)：59
KLA iNano 納米壓痕儀可輕松測量薄膜、涂層和少量材料。該儀器準(zhǔn)確、靈活，并且用戶友好，可以提供壓痕、硬度、劃痕和通用納米級(jí)測試等多種納米級(jí)機(jī)械測試。該儀...(空格分隔,最多3個(gè),單個(gè)標(biāo)簽最多10個(gè)字符)
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